Каталог книг библиотеки ИФ СО РАН

: пер. с англ. / Д. К. Боуэн, Б. К. Таннер ; ред., пер. И. Л. Шульпина. - СПб. : Наука, 2002. - 274 с. : ил. - Библиогр.: с. 269-270.Пред.ук.с271-274. - Пер. изд. : High Resolution X-Ray Difractometry and Topography. - London, 1998. - 700 экз. - ISBN 5-02-024963-7 : 158.50 р.

29.19.04

47.29.39

ББК В371.23 + В361


Смотреть книгу

Держатели документа:
Библиотека Института физики им. Л.В. Киренского СО РАН

Доп.точки доступа:
Таннер, Б. К.; Шульпина, И. Л. \ред., пер.\
Экземпляры всего: 2
КФ (2)
Свободны: КФ (1)

/ Д. М. Хейкер, Л. С. Зевин ; под ред. Г. С. Жданова. - М. : Физматгиз, 1963. - 380 с. : ил. - (Физико-математическая библиотека инженера). - Библиогр.: с. 370-380. - 8000 экз. - 1.10 р.
    Содержание:
Устройство и работа дифрактометра
Особенности измерения интенсивности и геометрии дифракционной картины в дифрактометрах
Фазовый анализ
Прециозные измерения параметров элементарной ячейки
Исследование текстуры прокатанных материалов
Исследование монокристаллов на дифрактометрах

29.19.04

47.29.39

ББК В371.23 + В361


Держатели документа:
Библиотека Института физики им. Л.В. Киренского СО РАН

Доп.точки доступа:
Зевин, Лев Саулович; Жданов, Г. С. \ред.\
Экземпляры всего: 1
КФ (1)
Свободны: КФ (1)