Каталог книг библиотеки ИФ СО РАН

w10=
Найдено документов в текущей БД: 1
   К2
   У 52

    Рентгенография металлов и полупроводников
: учеб. пособие для вузов / Я. С. Уманский. - М. : Металлургия, 1969. - 496 с. : рис., фот. - Библиогр.: с. 473-478. - 10500 экз. - 1.33 р.
    Содержание:
Физика рентгеновских лучей
Источники рентгеновских лучей и аппараты γ-дефектоскопии
Детекторы рентгеновских лучей
Структурный анализ, основные уравнения дифракции рентгеновских лучей от кристаллов и общая характеристика методов структурного анализа
Элементы рентгеноанализа монокристаллов
Методы рентгеноанализа поликристаллических веществ
Рентгеноанализ преимущественных ориентировок (текстур)
Рентгенографическое определение деформации решетки и размеров кристаллитов. Рентгеноанализ структурных изменений при нагреве деформированных кристаллических тел
Рентгеноанализ сплавов
Рентгеноанализ структурных изменений, вызываемых термической обработкой сплавов и воздействием ионизирующего излучения
Применение дифракции электронов и нейтронов для изучения структуры сплавов
Основные принципы рентгеноспектрального анализа
Радиационная дефектоскопия
Защита от воздействия рентгеновских и гамма-лучей
ГРНТИ
ББК К204.013я73 + Ж.с38я73 + К206.331я73


Держатели документа:
Библиотека Института физики им. Л.В. Киренского СО РАН
Экземпляры всего: 1
КФ (1)
Свободны: КФ (1)