/ Я. Д.
Вишняков. - М. : Металлургия, 1975. - 479 с. : рис., схем., табл. - Библиогр.: с. 465-475 . - Предм. указ.: с. 476-479. - 2.70 р.
Содержание: Исследование кристаллических поверхностей после пластической деформации и разрушения Электронная микроскопия на просвет тонких металлических пленок, приготовленных из массивных образцов Новейшие методы, позволяющие исследовать изменения структуры кристаллов при деформации на атомарном уровне Применение рентгеновских и нейтронографических дифракционных методов для исследования структуры деформированных кристаллов Возможности теоретического вычисления и экспериментального определения энергии дефектов упаковки косвенными методами Успехи современных методов исследования структуры деформированных кристаллов ББК В371.21 + В372 + К204.01
Держатели документа: Библиотека Института физики им. Л.В. Киренского СО РАН
Экземпляры всего: 2
КФ (2)
Свободны: КФ (2)
