Кл.слова (ненормированные):
нанокристаллиты -- тонкая магнитная пленка -- случайная магнитная анизотропия -- "рябь" намагниченности -- структурная константа -- ферромагнитный резонанс -- сверхвысокие частоты
Аннотация: Показана возможность определения структурной константы S и среднего размера кристаллитов анизотропной нанокристаллической магнитной пленки по форме острого пика поглощения СВЧ-мощности, наблюдаемого при развертке внешнего магнитного поля вдоль оси трудного намагничивания. В теории «ряби» намагниченности с константой S связана поверхностная плотность энергии локальной магнитной анизотропии и по величине S оценивается качество нанокристаллических пленок. Эффективность нового способа определения S продемонстрирована на нанокристаллической пленке Co-P толщиной 300 нм. Спектр поглощения СВЧ-мощности снимался с локального участка пленки площадью ~ 1 мм2 на сканирующем спектрометре ферромагнитного резонанса. Вычисленное значение S из анализа спектра позволило определить средний размер кристаллитов пленки, хорошо совпадающий с измерениями просвечивающей электронной микроскопии.
Смотреть статью,
РИНЦ,
Для получение полного текста обратитесь в библиотеку
Держатели документа:
Сибирский федеральный университет, г. Красноярск, Россия
Институт физики им. Л.В. Киренского ФИЦ КНЦ СО РАН, г. Красноярск, Россия
Доп.точки доступа:
Беляев, Борис Афанасьевич; Belyaev, B. A.; Боев, Никита Михайлович; Boev, N. M.; Горчаковский, Александр Антонович; Gorchakovskii A. A.; Изотов, Андрей Викторович; Izotov, A. V.; Соловьев, Платон Николаевич; Solovev, P. N.