Перевод заглавия: Двухслойная модель отражающих ферромагнитных пленок для исследования тонких пленок методом магнитоэллипсометрии
Кл.слова (ненормированные):
Magneto-optical ellipsometry -- Kerr effect -- Two-layer model -- Ferromagnetic metal -- Reflection -- Growth control -- магнито-оптическая эллипсометрия -- эффект Керра -- двухслойная модель -- ферромагнетик -- отражение -- контроль роста
Аннотация: An approach to analysis of magneto-optical ellipsometry measurements is presented. A two-layer model of ferromagnetic reflective films is in focus. The obtained algorithm can be used to control optical and magneto-optical properties during films growth inside vacuum chambers.
Представлен метод анализа магнито-эллипсометрических измерений. Детально рассматривается двуслойная модель ферромагнитных отражающих пленок. Полученный алгоритм может использоваться для контроля оптических и магнито-оптических свойств пленок в процессе их роста в вакуумных камерах.
Смотреть статью,
РИНЦ,
Scopus,
Смотреть статью,
Для получение полного текста обратитесь в библиотеку
Держатели документа:
Kirensky Institute of Physics, Federal Research Center KSC SB RAS, Akademgorodok, 50/38, Krasnoyarsk, Russian Federation
Siberian Federal University, Svobodny, 79, Krasnoyarsk, Russian Federation
Reshetnev Siberian State Aerospace University, Krasnoyarsky Rabochy, 31, Krasnoyarsk, Russian Federation
Доп.точки доступа:
Maximova, O. A.; Максимова, Ольга Александровна; Ovchinnikov, S. G.; Овчинников, Сергей Геннадьевич; Kosyrev, N. N.; Косырев, Николай Николаевич; Lyashchenko, S. A.; Лященко, Сергей Александрович