Рубрики:
INITIO MOLECULAR-DYNAMICS
ELECTRONIC-PROPERTIES
ABSORPTION-SPECTRA
Кл.слова (ненормированные):
silicon carbide -- defects -- adatoms -- density functional method
INITIO MOLECULAR-DYNAMICS
ELECTRONIC-PROPERTIES
ABSORPTION-SPECTRA
Кл.слова (ненормированные):
silicon carbide -- defects -- adatoms -- density functional method
Аннотация: It is noted that the development of semiconductor SiC-electronics is prevented by a low quality of grown silicon carbide single crystals. It is found that structural defects of a substrate penetrating into an epitaxial layer upon subsequent homoepitaxial growth can considerably degrade a device's characteristics. We investigate the effect of the deformation of a hexagonal SiC monolayer on vacancy stability and material properties, and study the processes of silicon and carbon adatom migration over a surface of SiC.
Смотреть статью,
Scopus,
WoS,
Для получение полного текста обратитесь в библиотеку
Держатели документа:
[Kuzubov, A. A.
Eliseeva, N. S.
Tomilin, F. N.
Tolstaya, A. V.] Siberian Fed Univ, Krasnoyarsk 660041, Russia
[Kuzubov, A. A.
Krasnov, P. O.
Tomilin, F. N.
Fedorov, A. S.] Russian Acad Sci, LV Kirensky Phys Inst, Siberian Branch, Krasnoyarsk 660036, Russia
[Kuzubov, A. A.
Krasnov, P. O.] Siberian State Technol Univ, Krasnoyarsk 660049, Russia
Доп.точки доступа:
Kuzubov, A. A.; Кузубов, Александр Александрович; Eliseeva, N. S.; Krasnov, P. O.; Краснов, Павел Олегович; Tomilin, F. N.; Томилин, Феликс Николаевич; Fedorov, A. S.; Федоров, Александр Семенович; Tolstaya, A. V.