Перевод заглавия: Analysis of Fe?Si layered structures by reflected electron energy loss spectroscopy and inelastic scattering cross-section
ГРНТИ | ||
УДК |
Кл.слова (ненормированные):
спектроскопия потерь энергии отраженных электронов -- сечение неупругого рассеяния -- средняя длина неупругого свободного пробега электрона -- reflected electron energy loss spectroscopy -- inelastic scattering cross-section -- mean length of the inelastic free path of an electron
Аннотация: В работе представлено исследование формирования интерфейса слоистых структур системы Fe-Si методом спектроскопии потерь энергии отраженных электронов. Количественный элементный анализ осуществлен с использованием произведения средней длины неупругого свободного пробега на сечение неупругого рассеяния электронов. Показано, что интерфейс Fe-Si достаточно однороден.
This paper reports on our study of the formation of an interface of layered structures in the Fe-Si system by reflected electron energy loss spectroscopy (REELS). Quantitative element analysis was performed using the product of the mean length of the inelastic free path by the inelastic scattering cross-section of electrons. It is shown that the Fe-Si interface is quite uniform.
РИНЦ,
Для получение полного текста обратитесь в библиотеку
Держатели документа:
Институт физики им. Л.В. Киренского СО РАН
Сибирский государственный аэрокосмический университет им. М.Ф. Решетнева
Доп.точки доступа:
Паршин, Анатолий Сергеевич; Александрова, Галина Алексеевна; Варнаков, Сергей Николаевич; Овчинников, Сергей Геннадьевич