Труды сотрудников института физики

w10=
Найдено документов в текущей БД: 57

    The in situ magneto ellipsometry method in the study magnetooptical properties of the iron thin films
[Текст] / S. A. Lvaschenko [и др.] // V Euro-Asian simposium "Trend in MAGnetism": Nanomagnetism : abstracts. - Vladivostok : FEFU, 2013. - С. 105 . - ISBN 978-5-7444-3124-2



Доп.точки доступа:
Lvaschenko, S. A.; Tarasov, I. A.; Тарасов, Иван Анатольевич; Varnakov, S. N.; Варнаков, Сергей Николаевич; Shevtsov, D. V.; Шевцов, Дмитрий Валентинович; Shvets, V. A.; Швец, Василий Александрович; Zabluda, V. N.; Заблуда, Владимир Николаевич; Ovchinnikov, S. G.; Овчинников, Сергей Геннадьевич; Kosyrev, N. N.; Косырев, Николай Николаевич; Bondarenko, G. V.; Бондаренко, Геннадий Васильевич; Rykhkitskii, S. V.; Рыхлицкий С.В.; Latyshev, A. V.; Латышев А.В.; Saranin, A. A.; Саранин А.А.; Euro-Asian Symposium "Trends in MAGnetism": Nanomagnetism(5 ; 2013 ; Sept. ; 15-21 ; Vladivostok)

    Characterization of manganese and iron silicides by in situ spectral generalized magneto-optical ellipsometry
/ N. N. Kosyrev [et al.] // 7th Workshop on Ellipsometry : abstract book. - 2012. - P. . - 82

Аннотация: Dilute magnetic semiconductors (DMS) combine the electronic transport properties of semiconductors and memory characteristics of magnetic materials. The complementary properties of semiconductor and ferromagnetic material can manipulate both degrees of freedoms of electrons0 spins and charges for spintronic devices. In recent years, group IV(Ge,Si)-based DMSs attract considerable experimental effort due to the compatibility with mainstream silicon technology. In ourworkwe present the investigation of structural,magnetic and optical properties ofmanganese and iron silicides thin films on Si (100) substrate by in situ spectral generalizedmagneto-optical ellipsometry. Themeasurementswere performed by spectral and laser ellipsometers (“Spectroscan“ and “LEF-71“ respectively by Institute Semiconductors Physics SB RAS), optimized tomeasure not only traditional ellipsometric parameters, but also magneto-optical response of the sample. The magnetoellipsometers were integrated into the ultrahigh vacuum chambers of molecular beam epitaxy setup, which allowed to control the optical and magnetic properties of thin films directly in the growth process. As a result of the magneto-optical response analysis, it was found that iron and manganese silicides in magnetic phase were formed on the Si surface and by analysis of the ellipsometric parameters dependence on evaporation time the silicide nanoclusters were identified and their structural properties were found. The work was supported by project 4.1 of the OFN RAS, project 27.10 of the Presidium RAS, integration project22 of SB RAS and FEB RAS, and also the FCP NK-744P/6 .

Материалы конференции


Доп.точки доступа:
Kosyrev, N. N.; Косырев, Николай Николаевич; Varnakov, S. N.; Варнаков, Сергей Николаевич; Tarasov, I. A.; Тарасов, Иван Анатольевич; Lyashenko, S. A.; Ovchinnikov, S. G.; Овчинников, Сергей Геннадьевич; Workshop Ellipsometry (7 ; 2012 ; март ; 5-7 ; Leipzig, Germany)

    Determination of structural parameters of the Fe-Si-system by spectral ellipsometry method
/ S. A. Lyashchenko [et al.] // Physics Procedia. - 2012. - Vol. 23. - P. 49-52, DOI 10.1016/j-phpro.2011.01.013 . - ISSN 1875-3884

Кл.слова (ненормированные):
spectral ellipsometry -- silicides -- atomic force microscopic

Аннотация: Limitation of the thin homogeneous layers with sharp interfaces model for the structure Si(100)/FeSi2(grain) in solution the inverse problem of ellipsometry in the visible spectral range is shown. A new model of random distribution of thin disks for describing the real structure of the sample is designed. The results of the model optimization are confirmed by AFM.

Материалы конференции,
Смотреть статью,
Для получение полного текста обратитесь в библиотеку


Доп.точки доступа:
Lyashchenko, S. A.; Лященко, Сергей Александрович; Varnakov, S. N.; Варнаков, Сергей Николаевич; Ovchinnikov, S. G.; Овчинников, Сергей Геннадьевич; Berezitskaya, E. P.; Alexandrova, G. A.; Vaituzin, O. P.; Asian School-Conference on Physics and Technology of Nanostructured Materials(2011 ; Aug. ; 21-28 ; Vladivostok); Азиатская школа-конференция по физике и технологии наноструктурированных материалов(1 ; 2011 ; авг. ; 21-28 ; Владивосток)

    Structural, magnetic and optical properties of Me/Si (Me=Mn,Fe) nanostructures perfomed by in situ magnetoellipsometry
/ N. N. Kosyrev [et al.] // 6th Int. Conf. on Spectr. Ellipsometry (ICSE-VI 2013) : Conf. programm and abstr. - 2013. - P. 205


Материалы конференции


Доп.точки доступа:
Kosyrev, N. N.; Косырев, Николай Николаевич; Varnakov, S. N.; Варнаков, Сергей Николаевич; Tarasov, I. A.; Тарасов, Иван Анатольевич; Lyashchenko, S. A.; Лященко, Сергей Александрович; Shvetsov, D. V.; Maksimova, O. A.; Yakovlev, I. A.; Яковлев, Иван Александрович; Zabluda, V. N.; Заблуда, Владимир Николаевич; Shvets, V. A.; Швец, Василий Александрович; Rykhkitsky, S. V.; Рыхлицкий С.В.; Ovchinnikov, S. G.; Овчинников, Сергей Геннадьевич; International Conference on Spectroscopic Ellipsometry (6 ; 2013 ; May ; 26-31 ; Kyoto, Japan)

    Time-resolved ellipsometric characterization of (Fe/Si)n multilayer film synthesis
/ I. A. Tarasov [et al.] // 8th Workshop Ellipsometry : Book of abstracts. - 2014. - P. 81


Материалы конференции


Доп.точки доступа:
Tarasov, I. A.; Тарасов, Иван Анатольевич; Varnakov, S. N.; Варнаков, Сергей Николаевич; Yakovlev, I. A.; Яковлев, Иван Александрович; Zharkov, S. M.; Жарков, Сергей Михайлович; Kosyrev, N. N.; Косырев, Николай Николаевич; Ovchinnikov, S. G.; Овчинников, Сергей Геннадьевич; Leibniz-Institut für Polymerforschung Dresden e. V.; Workshop Ellipsometry (8 ; 2014 ; March 10-12 ; Dresden, Germany)

    Features of the ellipsometric investigation of magnetic nanostructures
/ O. A. Maksimova [et al.] // J. Struct. Chem. - 2014. - Vol. 55, Is. 6. - P. 1134-1141, DOI 10.1134/S0022476614060225. - Cited References:8. - The work was supported by the Program of the President of the RussianFederation for the support of leading scientific schools (ScientificSchool 2886.2014.2), RFBR (grant No. 13-02-01265, No. 14-02-01211), theMinistry of Education and Science of the Russian Federation (Agreement14.604.21.0002 State contract No. 02.G25.31.0043), and the Foundationfor Assistance to Small Innovative Enterprises in Science and Technology(program "A Member of the Youth Research and Innovation Competition",contract number 0003831). . - ISSN 0022. - ISSN 1573-8779. -
РУБ Chemistry, Inorganic & Nuclear + Chemistry, Physical
Рубрики:
PARAMETERS
Кл.слова (ненормированные):
magneto-ellipsometry -- ellipsometric measurements -- magneto-optical Kerr -- effect -- thin films -- semi-infinite medium model -- refraction coefficient

Аннотация: The technique for interpreting magneto-ellipsometric measurements is proposed. The model of a homogeneous semi-infinite medium for reflecting layered magnetic structures in the presence of the magnetic field in the configuration of the magneto-optical equatorial Kerr effect is considered. Based on the analysis of the Fresnel coefficients with regard to the magneto-optical parameter Q appearing in the off-diagonal elements of the permittivity tensor, the expressions are obtained using which the refraction (n) and absorption (k) coefficients, the real (Q (1)) and imaginary (Q (2)) parts of the magneto-optical parameter can be found from the ellipsometric (psi(0) and Delta(0)) and magneto-ellipsometric (psi(0) + delta psi and Delta(0) + delta I") measurements. The results will allow to measure and analyze the magnetic characteristics such as hysteresis loops and the coercitive force of layered nanostructures using the conventional ellipsometric equipment.

Смотреть статью,
Scopus,
WOS,
Для получение полного текста обратитесь в библиотеку

Держатели документа:
Siberian Fed Univ, Krasnoyarsk, Russia
Russian Acad Sci, LV Kirensky Phys Inst, Siberian Branch, Krasnoyarsk, Russia
Reshetnev Siberian State Aerosp Univ, Krasnoyarsk, Russia

Доп.точки доступа:
Maksimova, O. A.; Максимова, Ольга Александровна; Kosyrev, N. N.; Косырев, Николай Николаевич; Varnakov, S. N.; Варнаков, Сергей Николаевич; Lyashchenko, S. A.; Лященко, Сергей Александрович; Ovchinnikov, S. G.; Овчинников, Сергей Геннадьевич; Russian Federation [2886.2014.2]; RFBR [13-02-01265, 14-02-01211]; Ministry of Education and Science of the Russian Federation[14.604.21.0002, 02.G25.31.0043]; Foundation for Assistance to SmallInnovative Enterprises in Science and Technology [0003831]

    Analysis of optical and magnetooptical spectra of Fe5Si3 and Fe3Si magnetic silicides using spectral magnetoellipsometry
/ S. A. Lyashchenko [et al.] // J. Exp. Theor. Phys. - 2015. - Vol. 120, Is. 5. - P. 886-893, DOI 10.1134/S1063776115050155. - Cited References:31. - This study was financially supported by the Ministry of Education and Science of the Russian Federation (state assignment no. 16.663.2014K, agreement no. 14.604.21.0002 (RFMEFI60414X0002), and contract no. 02.G25.31.0043), the Program is Support of Leading Scientific Schools (project no. NSh-2886.2014.2), and the Russian Foundation for Basic Research (project nos. 13-02-01265 and 14-02-31309). . - ISSN 1063. - ISSN 1090-6509. -
РУБ Physics, Multidisciplinary

Аннотация: The optical, magnetooptical, and magnetic properties of polycrystalline (Fe5Si3/SiO2/Si(100)) and epitaxial Fe3Si/Si(111) films are investigated by spectral magnetoellipsometry. The dispersion of the complex refractive index of Fe5Si3 is measured using multiangle spectral ellipsometry in the range of 250–1000 nm. The dispersion of complex Voigt magnetooptical parameters Q is determined for Fe5Si3 and Fe3Si in the range of 1.6–4.9 eV. The spectral dependence of magnetic circular dichroism for both silicides has revealed a series of resonance peaks. The energies of the detected peaks correspond to interband electron transitions for spin-polarized densities of electron states (DOS) calculated from first principles for bulk Fe5Si3 and Fe3Si crystals.

Смотреть статью,
Scopus,
WOS,
РИНЦ,
Для получение полного текста обратитесь в библиотеку

Держатели документа:
Reshetnikov Siberian State Aerosp Univ, Krasnoyarsk 660014, Russia.
Russian Acad Sci, Kirensky Inst Phys, Siberian Branch, Krasnoyarsk 660036, Russia.
Siberian Fed Univ, Krasnoyarsk 660041, Russia.
Russian Acad Sci, Rzhanov Inst Semicond Phys, Siberian Branch, Novosibirsk 630090, Russia.
Russian Acad Sci, Inst Automat & Control Proc, Far East Branch, Vladivostok 690041, Russia.
Far Eastern State Transport Univ, Khabarovsk 680021, Russia.

Доп.точки доступа:
Lyashchenko, S. A.; Лященко, Сергей Александрович; Popov, Z. I.; Попов, Захар Иванович; Varnakov, S. N.; Варнаков, Сергей Николаевич; Popov, E. A.; Molokeev, M. S.; Молокеев, Максим Сергеевич; Yakovlev, I. A.; Яковлев, Иван Александрович; Kuzubov, A. A.; Кузубов, Александр Александрович; Ovchinnikov, S. G.; Овчинников, Сергей Геннадьевич; Shamirzaev, T. S.; Latyshev, A. V.; Saranin, A. A.; Ministry of Education and Science of the Russian Federation [16.663.2014K, 14.604.21.0002 (RFMEFI60414X0002), 02.G25.31.0043]; Russian Foundation for Basic Research [13-02-01265, 14-02-31309]

    Effective refractive index of a two-dimensional polycrystal
/ E. M. Aver’yanov // JETP Letters. - 2015. - Vol. 101, Is. 10. - P. 685-689, DOI 10.1134/S0021364015100033. - Cited References: 28 . - ISSN 0021-3640
РУБ Physics, Multidisciplinary

Аннотация: A relation of the effective refractive index of a two-dimensional polycrystalline dielectric film in the transparency region to the refractive indices n1 and n2 of crystallites at the positions of axes 1 and 2, respectively, of refraction ellipsoids of the crystallites in the plane of the film has been obtained. This relation and the relation L* = (L1 + L2)/2 between the components of the Lorentz tensors for the film and crystallites have been confirmed by comparison with experimental data for conjugate-polymer films with uniaxial domains.

Смотреть статью,
Scopus,
WoS,
Для получение полного текста обратитесь в библиотеку


Доп.точки доступа:
Аверьянов, Евгений Михайлович

    In situ Mueller-matrix magneto-ellipsometry
/ N. N. Kosyrev, V. N. Zabluda, S. G. Ovchinnikov // Third Asian school-conference on physics and technology of nanostructured materials (ASCO-NANOMAT 2015) : proceedings. - Vladivostok : Dalnauka, 2015. - Ст. VII.25.01o . - ISBN 978-5-8044-1556-4
   Перевод заглавия: In situ Мюллер-магнитоэллипсометрия


Материалы конференции


Доп.точки доступа:
Zabluda, V. N.; Заблуда, Владимир Николаевич; Ovchinnikov, S. G.; Овчинников, Сергей Геннадьевич; Косырев, Николай Николаевич; Asian School-Conference on Physics and Technology of Nanostructured Materials(3 ; 2015 ; Aug. ; 19-26 ; Vladivostok); Азиатская школа-конференция по физике и технологии наноструктурированных материалов(3 ; 2015 ; авг. ; 19-26 ; Владивосток)

    Spectroscopic magneto-ellipsometry for studying magneto-optical properties of single-layer ferromagnetic nanostructures
[Электронный ресурс]
Систем. требования: Систем. требования: PC не ниже класса PentiumI ; 128 Mb RAM ; Windows 98/XP/7 ; Adobe Reader V8.0 и выше. - Режим доступа: http://conf.sfu-kras.ru/sites/mn2015/index.html (Материалы конференции) / O. A. Maksimova, N. N. Kosyrev, S. G. Ovchinnikov. - В электронном диске.: Проспект Свободный : материалы научной конференции, посвященной 70-летию Великой Победы / отв. ред. Е. И. Костоглодова. - 2015
   Перевод заглавия: Спектральная эллипсометрия для изучения магнитооптических свойств однослойных ферромагнитных наноструктур


Материалы конференции


Доп.точки доступа:
Kosyrev, N. N.; Косырев, Николай Николаевич; Ovchinnikov, S. G.; Овчинников, Сергей Геннадьевич; Сибирский федеральный университет; "Проспект Свободный", международная конференция студентов, аспирантов и молодых ученых(2015 ; апр. ; 15-25 ; Красноярск)

    In situ Mueller-matrix magneto-ellipsometry
/ N. N. Kosyrev, V. N. Zabluda, O. A. Maximova // Solid State Phenom. : Selected, peer reviewed papers. - 2016. - Vol. 245: Physics and Technology of Nanostructured Materials III. - P. 55-59, DOI 10.4028/www.scientific.net/SSP.245.55. - Cited References: 7 . - ISSN 1662-9779. - ISSN 9783-0383
   Перевод заглавия: In situ Мюллер-магнитоэллипсометрия

Кл.слова (ненормированные):
Ferromagnetic nanostructures -- Generalized magneto-optical ellipsometry -- Mueller matrix -- Polarized light

Аннотация: We develop the method for determining the Mueller matrix elements using standard photometric ellipsometer. Small ellipsometer design changes give an opportunity to completely determine all elements of the Mueller matrix. It is shown how the values of Mueller matrix elements can be obtained from the measurements at different azimuthal positions of optical units. © (2016) Trans Tech Publications, Switzerland.

Смотреть статью,
Scopus


Доп.точки доступа:
Galkin, N. G. \ed.\; Галкин, Николай Геннадьевич; Zabluda, V. N.; Заблуда, Владимир Николаевич; Maximova, O. A.; Максимова, Ольга Александровна; Косырев, Николай Николаевич; Asian School-Conference on Physics and Technology of Nanostructured Materials(3 ; 2015 ; Aug. ; 19-26 ; Vladivostok); Азиатская школа-конференция по физике и технологии наноструктурированных материалов(3 ; 2015 ; авг. ; 19-26 ; Владивосток)

    Development of spectroscopic magneto-ellipsometry for studying of magneto-optical properties of ferromagnetic nanostructures
/ O. A. Maximova, N. N. Kosyrev, S. G. Ovchinnikov // Third Asian school-conference on physics and technology of nanostructured materials (ASCO-NANOMAT 2015) : proceedings. - 2015. - Ст. VI.21.07p . - ISBN 978-5-8044-1556-4
   Перевод заглавия: Развитие метода спектральной магнитоэллипсометрии для изучения магнитооптических свойств ферромагнитных наноструктур

Аннотация: The elements of the dielectric tensor ε are the subject of interest. In this paper a new method for obtaining diagonal and off-diagonal elements of this tensor is presented. In situ spectroscopic ellipsometry and magneto-ellipsometry measurements data from the in situ molecular beam epitaxy setup with an integrated magneto-ellipsometric real time control are used. The formulae and the algorithm for data analysis are obtained. The method is approved on the ferromagnetic nanostructures Fe/SiO2/Si.

Материалыконференции


Доп.точки доступа:
Kosyrev, N. N.; Косырев, Николай Николаевич; Ovchinnikov, S. G.; Овчинников, Сергей Геннадьевич; Максимова, Ольга Александровна; Asian School-Conference on Physics and Technology of Nanostructured Materials(3 ; 2015 ; aug. ; 19-26 ; Vladivostok); Азиатская школа-конференция по физике и технологии наноструктурированных материалов(3 ; 2015 ; авг. ; 19-26 ; Владивосток)

    Influence of the dimension of a polycrystalline film and the optical anisotropy of crystallites on the effective dielectric constant of the film
/ E. M. Aver’yanov // Phys. Solid State. - 2016. - Vol. 58, Is. 8. - P. 1634-1641, DOI 10.1134/S1063783416080035. - Cited References: 41 . - ISSN 1063-7834
РУБ Physics, Condensed Matter

Аннотация: The dimension D of a polycrystalline film and the optical anisotropy m = εz/εx of uniaxial crystallites with the principal components εx = εy and εz of the tensor of the dielectric constant have been shown to produce a strong influence on the effective dielectric constant εD* and the effective refractive index nD* = (εD*)1/2 of the film in the optical transparency region, as well as on the boundaries of the intervals BDl ≤ εD* ≤ BDu. The intervals Δ2(m) = B2l–B2u and Δ3(m) = B3l–B3u are separated by a gap for m in the range 1 m 2, whereas the theoretical dependence ε2*(m) is separated by a gap from the interval Δ3(m) for m in the range 1 m 4. This is confirmed by a comparison of the experimental (noP) and theoretical (nD*) ordinary refractive indices for uniaxial polycrystalline films of the conjugated polymer poly(p-phenylene vinylene) (PPV) with uniaxial crystallites and appropriate values of m. In the visible transparency region of the PPV films with a change in m(λ) in the range 2 m(λ) 3 due to the dependence of the components εx,z(λ) on the light wavelength λ, the refractive indices noP2(λ) 3 near the electronic absorption band of the crystallites, the values of εoP(λ) lie in the region of the overlap of the intervals Δ2(m) and Δ3(m). The boundaries mc of the range 1 m mc are determined, for which the interval Δ2(m) is separated by a gap from the dependences ε3*(m) corresponding to the effective medium theory with spherical crystallites and hierarchical models of a polycrystal, as well as from the proposed new dependence ε3*(m).

Смотреть статью,
Scopus,
WOS,
Для получение полного текста обратитесь в библиотеку


Доп.точки доступа:
Аверьянов, Евгений Михайлович

    UHV system for producing and studying of nanostructures by in situ spectroscopic magneto-optical ellipsometry in a wide temperature range
/ D. V. Shevtsov [et al.] // VI Euro-Asian Symposium "Trends in MAGnetism" (EASTMAG-2016) : abstracts / ed.: O. A. Maksimova, R. D. Ivantsov. - Krasnoyarsk : KIP RAS SB, 2016. - Ст. P6.5. - P. 313. - References: 1. - The work was supported by The Complex program of SB RAS № II.2P, project 0358-2015-0003 . - ISBN 978-5-904603-06-9

Кл.слова (ненормированные):
spectral ellipsometry -- magneto-optical effects -- Fe-Si system



Доп.точки доступа:
Shevtsov, D. V.; Шевцов, Дмитрий Валентинович; Lyashchenko, S. A.; Лященко, Сергей Александрович; Varnakov, S. N.; Варнаков, Сергей Николаевич; Ovchinnikov, S. G.; Овчинников, Сергей Геннадьевич; Zabluda, V. N.; Заблуда, Владимир Николаевич; Kosyrev, N. N.; Косырев, Николай Николаевич; Yakovlev, I. A.; Яковлев, Иван Александрович; Tarasov, I. A.; Тарасов, Иван Анатольевич; Maximova, O. A.; Максимова, Ольга Александровна; Euro-Asian Symposium "Trends in MAGnetism"(6 ; 2016 ; Aug. ; 15-19 ; Krasnoyarsk); "Trends in MAGnetism", Euro-Asian Symposium(6 ; 2016 ; Aug. ; 15-19 ; Krasnoyarsk); Институт физики им. Л.В. Киренского Сибирского отделения РАН

Нет сведений об экземплярах

    The temperature dependences of optical and magneto-optical properties of iron silicides
/ S. A. Lyashchenko [et al.] // VI Euro-Asian Symposium "Trends in MAGnetism" (EASTMAG-2016) : abstracts / ed.: O. A. Maksimova, R. D. Ivantsov. - Krasnoyarsk : KIP RAS SB, 2016. - Ст. P6.11. - P. 319. - References: 3. - The work was supported by The Complex program of SB RAS № II.2P, project 0358-2015-0004 . - ISBN 978-5-904603-06-9

Кл.слова (ненормированные):
ellipsometry -- magneto-optic effects -- Fe-Si system



Доп.точки доступа:
Lyashchenko, S. A.; Лященко, Сергей Александрович; Yakovlev, I. A.; Яковлев, Иван Александрович; Maximova, O. A.; Максимова, Ольга Александровна; Shevtsov, D. V.; Шевцов, Дмитрий Валентинович; Zabluda, V. N.; Заблуда, Владимир Николаевич; Popov, Z. I.; Попов, Захар Иванович; Molokeev, M. S.; Молокеев, Максим Сергеевич; Kuzubov, A. A.; Кузубов, Александр Александрович; Varnakov, S. N.; Варнаков, Сергей Николаевич; Ovchinnikov, S. G.; Овчинников, Сергей Геннадьевич; Euro-Asian Symposium "Trends in MAGnetism"(6 ; 2016 ; Aug. ; 15-19 ; Krasnoyarsk); "Trends in MAGnetism", Euro-Asian Symposium(6 ; 2016 ; Aug. ; 15-19 ; Krasnoyarsk); Институт физики им. Л.В. Киренского Сибирского отделения РАН

Нет сведений об экземплярах

    Magneto-ellipsometry as a powerful technique for investigating magneto-optical structures properties
/ O. A. Maximova [et al.] // VI Euro-Asian Symposium "Trends in MAGnetism" (EASTMAG-2016) : abstracts / ed.: O. A. Maksimova, R. D. Ivantsov. - Krasnoyarsk : KIP RAS SB, 2016. - Ст. P6.12. - P. 320. - References: 5. - The work was supported by The Complex program of SB RAS № II.2P, project 0358-2015-0004 . - ISBN 978-5-904603-06-9

Кл.слова (ненормированные):
magneto-optics -- ellisometry -- magneto-optical Kerr effect



Доп.точки доступа:
Maximova, O. A.; Максимова, Ольга Александровна; Kosyrev, N. N.; Косырев, Николай Николаевич; Yakovlev, I. A.; Яковлев, Иван Александрович; Shevtsov, D. V.; Шевцов, Дмитрий Валентинович; Euro-Asian Symposium "Trends in MAGnetism"(6 ; 2016 ; Aug. ; 15-19 ; Krasnoyarsk); "Trends in MAGnetism", Euro-Asian Symposium(6 ; 2016 ; Aug. ; 15-19 ; Krasnoyarsk); Институт физики им. Л.В. Киренского Сибирского отделения РАН

Нет сведений об экземплярах

    Optical and magneto-optical properties of amorphous Co-P films
/ L. V. Burkova [et al.] // VI Euro-Asian Symposium "Trends in MAGnetism" (EASTMAG-2016) : abstracts / ed.: O. A. Maksimova, R. D. Ivantsov. - Krasnoyarsk : KIP RAS SB, 2016. - Ст. P6.19. - P. 327. - References: 2 . - ISBN 978-5-904603-06-9

Кл.слова (ненормированные):
layered structure -- ellipsometry -- magneto-optical Kerr effect



Доп.точки доступа:
Burkova, L. V.; Буркова, Людмила Викторовна; Kosyrev, N. N.; Косырев, Николай Николаевич; Sokolov, A. E.; Соколов, Алексей Эдуардович; Chzhan, A. V.; Чжан, Анатолий Владимирович; Pilyaeva, O. V.; Пыляева О. В.; Sibirina, T. F.; Сибирина Т. Ф.; Maximova, O. A.; Максимова, Ольга Александровна; Patrin, G. S.; Патрин, Геннадий Семёнович; Euro-Asian Symposium "Trends in MAGnetism"(6 ; 2016 ; Aug. ; 15-19 ; Krasnoyarsk); "Trends in MAGnetism", Euro-Asian Symposium(6 ; 2016 ; Aug. ; 15-19 ; Krasnoyarsk); Институт физики им. Л.В. Киренского Сибирского отделения РАН

Нет сведений об экземплярах

    Two-layer model of reflective ferromagnetic films in terms of magneto-optical ellipsometry studies
/ O. A. Maximova [et al.] // J. Sib. Fed. Univ. Math. Phys. - 2017. - Vol. 10, Is. 2. - P. 223-232 ; Журн. СФУ. Сер. "Математика и физика", DOI 10.17516/1997-1397-2017-10-2-223-232. - Cited References: 13. - The reported study was funded by Russian Foundation for Basic Research, Government of Krasnoyarsk Territory, Krasnoyarsk Region Science and Technology Support Fund to the research project 16–42–243058. The work was supported partly by the Russian Foundation for Basic Research, Grant No. 16–32–00209 mola, Grant No. 14–02–01211; the Complex program of SB RAS No. II.2P, project 0358–2015–0004; the Ministry of Education and Science of the RF (State task No. 16.663.2014); grant Scientific School 7559.2016.2. . - ISSN 1997-1397
   Перевод заглавия: Двухслойная модель отражающих ферромагнитных пленок для исследования тонких пленок методом магнитоэллипсометрии
Аннотация: An approach to analysis of magneto-optical ellipsometry measurements is presented. A two-layer model of ferromagnetic reflective films is in focus. The obtained algorithm can be used to control optical and magneto-optical properties during films growth inside vacuum chambers.
Представлен метод анализа магнито-эллипсометрических измерений. Детально рассматривается двуслойная модель ферромагнитных отражающих пленок. Полученный алгоритм может использоваться для контроля оптических и магнито-оптических свойств пленок в процессе их роста в вакуумных камерах.

Смотреть статью,
РИНЦ,
Scopus,
Смотреть статью,
Для получение полного текста обратитесь в библиотеку

Держатели документа:
Kirensky Institute of Physics, Federal Research Center KSC SB RAS, Akademgorodok, 50/38, Krasnoyarsk, Russian Federation
Siberian Federal University, Svobodny, 79, Krasnoyarsk, Russian Federation
Reshetnev Siberian State Aerospace University, Krasnoyarsky Rabochy, 31, Krasnoyarsk, Russian Federation

Доп.точки доступа:
Maximova, O. A.; Максимова, Ольга Александровна; Ovchinnikov, S. G.; Овчинников, Сергей Геннадьевич; Kosyrev, N. N.; Косырев, Николай Николаевич; Lyashchenko, S. A.; Лященко, Сергей Александрович


    Magneto-ellipsometry as a powerful technique for investigating magneto-optical structures properties
/ O. Maximova [et al.] // J. Magn. Magn. Mater. - 2017. - Vol. 440. - P. 153-156, DOI 10.1016/j.jmmm.2016.12.073. - Cited References:20. - The reported study was funded by Russian Foundation for Basic Research, Government of Krasnoyarsk Territory, Krasnoyarsk Region Science and Technology Support Fund to the research project No 1642-243058. The work was supported by the Russian Foundation for Basic Research, Grant No. 16-32-00209mol_a, Grant No. 14-02-01211, The Complex program of SB RAS No II.2P, project 03582015-0004, the Ministry of Education and Science of the RF (State task No. 16.663.2014K), grant Scientific School 7559.2016.2. . - ISSN 0304-8853. - ISSN 1873-4766
   Перевод заглавия: Магнито-эллипсометрия как мощный инструмент для исследования магнитооптических свойств структур
РУБ Materials Science, Multidisciplinary + Physics, Condensed Matter

Кл.слова (ненормированные):
Magneto-optical Kerr effect -- Ellipsometry -- In situ measurements

Аннотация: In this work we report on new magneto-ellipsometry set-up that allows to grow thin films and nanostructures by ultrahigh vacuum thermal evaporation as well as to conduct in situ measurements during the growth in order to analyze and control nanostructures properties. Ellipsometry and transverse magneto-optical Kerr effect measurements can be performed in situ inside this set-up. A uniform magnetic field of high intensity (more than 1 kOe) can be applied to samples inside the vacuum chamber. Also, we report on the developed method of data interpretation that is the base of the set-up software. Thus, we present a powerful tool for nanostructures synthesis and characterization.

Смотреть статью,
WOS,
Для получение полного текста обратитесь в библиотеку


Доп.точки доступа:
Maximova, O. A.; Максимова, Ольга Александровна; Kosyrev, N. N.; Косырев, Николай Николаевич; Yakovlev, I. A.; Яковлев, Иван Александрович; Shevtsov, D. V.; Шевцов, Дмитрий Валентинович; Lyashchenko, S. A.; Лященко, Сергей Александрович; Varnakov, S. N.; Варнаков, Сергей Николаевич; Ovchinnikov, S. G.; Овчинников, Сергей Геннадьевич; Russian Foundation for Basic Research, Government of Krasnoyarsk Territory, Krasnoyarsk Region Science and Technology Support Fund [1642-243058]; Russian Foundation for Basic Research [16-32-00209mol_a, 14-02-01211]; Ministry of Education and Science of the RF [16.663.2014K, 7559.2016.2]; Complex program of SB RAS [II.2P, 03582015-0004]; Euro-Asian Symposium "Trends in MAGnetism"(6 ; 2016 ; Aug. ; 15-19 ; Krasnoyarsk); "Trends in MAGnetism", Euro-Asian Symposium(6 ; 2016 ; Aug. ; 15-19 ; Krasnoyarsk); Институт физики им. Л.В. Киренского Сибирского отделения РАН

    Si/Fe flux ratio influence on growth and physical properties of polycrystalline β-FeSi2 thin films on Si(100) surface
/ I. A. Tarasov [et al.] // J. Magn. Magn. Mater. - 2017. - Vol. 440. - P. 144-152, DOI 10.1016/j.jmmm.2016.12.084. - Cited References:39. - This work was supported by the Russian Science Foundation, project no. 16-13-00060 . - ISSN 0304-8853. - ISSN 1873-4766
РУБ Materials Science, Multidisciplinary + Physics, Condensed Matter

Аннотация: This work investigates the Si/Fe flux ratio (2 and 0.34) influence on the growth of β-FeSi2 polycrystalline thin films on Si(100) substrate at 630 °C. Lattice deformations for the films obtained are confirmed by X-ray diffraction analysis (XRD). The volume unit cell deviation from that of β-FeSi2 single crystal are 1.99% and 1.1% for Si/Fe =2 and Si/Fe =0.34, respectively. Absorption measurements show that the indirect transition (~ 0.704 eV) of the Si/Fe =0.34 sample changes to the direct transition with a bandgap value of ~0.816 eV for the sample prepared at Si/Fe =2. The absorption spectrum of the Si/Fe =0.34 sample exhibits an additional peak located below the bandgap energy value with the absorption maximum of ~0.36 eV. Surface magneto-optic Kerr effect (SMOKE) measurements detect the ferromagnetic behavior of the β-FeSi2 polycrystalline films grown at Si/Fe =0.34 at T=10 K, but no ferromagnetism was observed in the samples grown at Si/Fe =2. Theoretical calculations refute that the cell deformation can cause the emergence of magnetization and argue that the origin of the ferromagnetism, as well as the lower absorption peak, is β-FeSi2 stoichiometry deviations. Raman spectroscopy measurements evidence that the film obtained at Si/Fe flux ratio equal to 0.34 has the better crystallinity than the Si/Fe =2 sample.

Смотреть статью,
WOS,
Для получение полного текста обратитесь в библиотеку


Доп.точки доступа:
Tarasov, I. A.; Тарасов, Иван Анатольевич; Visotin, M. A.; Высотин Максим Александрович; Aleksandrovsky, A. S.; Александровский, Александр Сергеевич; Kosyrev, N. N.; Косырев, Николай Николаевич; Yakovlev, I. A.; Яковлев, Иван Александрович; Molokeev, M. S.; Молокеев, Максим Сергеевич; Lukyanenko, A. V.; Лукьяненко, Анна Витальевна; Krylov, A. S.; Крылов, Александр Сергеевич; Fedorov, A. S.; Федоров, Александр Семенович; Varnakov, S. N.; Варнаков, Сергей Николаевич; Ovchinnikov, S. G.; Овчинников, Сергей Геннадьевич; Russian Science Foundation [16-13-00060]; Euro-Asian Symposium "Trends in MAGnetism"(6 ; 2016 ; Aug. ; 15-19 ; Krasnoyarsk); "Trends in MAGnetism", Euro-Asian Symposium(6 ; 2016 ; Aug. ; 15-19 ; Krasnoyarsk); Институт физики им. Л.В. Киренского Сибирского отделения РАН