Труды сотрудников института физики

[Текст] / S. A. Lvaschenko [и др.] // V Euro-Asian simposium "Trend in MAGnetism": Nanomagnetism : abstracts. - Vladivostok : FEFU, 2013. - С. 105 . - ISBN 978-5-7444-3124-2


Доп.точки доступа:
Lvaschenko, S. A.; Tarasov, I. A.; Тарасов, Иван Анатольевич; Varnakov, S. N.; Варнаков, Сергей Николаевич; Shevtsov, D. V.; Шевцов, Дмитрий Валентинович; Shvets, V. A.; Швец, Василий Александрович; Zabluda, V. N.; Заблуда, Владимир Николаевич; Ovchinnikov, S. G.; Овчинников, Сергей Геннадьевич; Kosyrev, N. N.; Косырев, Николай Николаевич; Bondarenko, G. V.; Бондаренко, Геннадий Васильевич; Rykhkitskii, S. V.; Рыхлицкий С.В.; Latyshev, A. V.; Латышев А.В.; Saranin, A. A.; Саранин А.А.; Euro-Asian Symposium "Trends in MAGnetism": Nanomagnetism(5 ; 2013 ; Sept. ; 15-21 ; Vladivostok)

/ S. A. Lyashchenko [et al.] // Tech. Phys. - 2013. - Vol. 58, Is. 10. - P. 1529-1532, DOI 10.1134/S1063784213100162 . - ISSN 1063-7842
Аннотация: A thin polycrystalline Fe film on a single-crystal Si substrate with natural SiO2 oxide is obtained by thermal evaporation in ultrahigh vacuum. The magneto-optical properties of the resultant structure are investigated in situ by the methods of spectral ellipsometry. The values of the coercive force for the Fe film are obtained, and the magnetization reversal loop and the energy dependence of the equatorial Kerr effect are constructed. The effectiveness of magnetoellipsometry for in situ analysis of the geometrical and magnetooptical properties of thin ferromagnetic layers is demonstrated. В© 2013 Pleiades Publishing, Ltd.

Scopus,
Смотреть статью,
WOS,
Для получение полного текста обратитесь в библиотеку

Держатели документа:
Russian Acad Sci, Kirensky Inst Phys, Siberian Branch, Krasnoyarsk 660036, Russia
Reshetnev Siberian State Aerosp Univ, Krasnoyarsk 660014, Russia
Russian Acad Sci, Siberian Branch, Rzhanov Inst Semicond Phys, Novosibirsk 630090, Russia
Novosibirsk State Univ, Novosibirsk 630090, Russia

Доп.точки доступа:
Lyashchenko, S. A.; Лященко, Сергей Александрович; Tarasov, I. A.; Тарасов, Иван Анатольевич; Varnakov, S. N.; Варнаков, Сергей Николаевич; Shevtsov, D. V.; Шевцов, Дмитрий Валентинович; Shvets, V. A.; Zabluda, V. N.; Заблуда, Владимир Николаевич; Ovchinnikov, S. G.; Овчинников, Сергей Геннадьевич; Kosyrev, N. N.; Косырев, Николай Николаевич; Bondarenko, G. V.; Бондаренко, Геннадий Васильевич; Rykhlitskii, S. V.

: Abstract / V. N. Zabluda [et al.] ; Taurida National V. I. Vernadsky University // Functional materials : Abstracts / ed. V. N. Berzhansky. - Simferopol, 2013. - Ст. EP2-12P/3. - P. 480 . - ISBN 978-966-491-465-6

Материалы конференции


Доп.точки доступа:
Berzhansky, V. N. \ed.\; Бержанский, Владимир Наумович; Zabluda, V. N.; Заблуда, Владимир Николаевич; Varnakov, S. N.; Варнаков, Сергей Николаевич; Ovchinnikov, S. G.; Овчинников, Сергей Геннадьевич; Kosyrev, N. N.; Косырев, Николай Николаевич; Rishlicky, S. V.; Shvets, V. A.; Taurida National V. I. Vernadsky University; "Functional Materials", International Conference(2013 ; 29 Sept.-5 Oct. ; Partenit, Yalta; Ukraine Crimea)

/ N. N. Kosyrev [et al.] // 7th Workshop on Ellipsometry : abstract book. - 2012. - P. . - 82
Аннотация: Dilute magnetic semiconductors (DMS) combine the electronic transport properties of semiconductors and memory characteristics of magnetic materials. The complementary properties of semiconductor and ferromagnetic material can manipulate both degrees of freedoms of electrons0 spins and charges for spintronic devices. In recent years, group IV(Ge,Si)-based DMSs attract considerable experimental effort due to the compatibility with mainstream silicon technology. In ourworkwe present the investigation of structural,magnetic and optical properties ofmanganese and iron silicides thin films on Si (100) substrate by in situ spectral generalizedmagneto-optical ellipsometry. Themeasurementswere performed by spectral and laser ellipsometers (“Spectroscan“ and “LEF-71“ respectively by Institute Semiconductors Physics SB RAS), optimized tomeasure not only traditional ellipsometric parameters, but also magneto-optical response of the sample. The magnetoellipsometers were integrated into the ultrahigh vacuum chambers of molecular beam epitaxy setup, which allowed to control the optical and magnetic properties of thin films directly in the growth process. As a result of the magneto-optical response analysis, it was found that iron and manganese silicides in magnetic phase were formed on the Si surface and by analysis of the ellipsometric parameters dependence on evaporation time the silicide nanoclusters were identified and their structural properties were found. The work was supported by project 4.1 of the OFN RAS, project 27.10 of the Presidium RAS, integration project22 of SB RAS and FEB RAS, and also the FCP NK-744P/6 .

Материалы конференции


Доп.точки доступа:
Kosyrev, N. N.; Косырев, Николай Николаевич; Varnakov, S. N.; Варнаков, Сергей Николаевич; Tarasov, I. A.; Тарасов, Иван Анатольевич; Lyashenko, S. A.; Ovchinnikov, S. G.; Овчинников, Сергей Геннадьевич; Workshop Ellipsometry (7 ; 2012 ; март ; 5-7 ; Leipzig, Germany)

/ N. N. Kosyrev [et al.] // 6th Int. Conf. on Spectr. Ellipsometry (ICSE-VI 2013) : Conf. programm and abstr. - 2013. - P. 205

Материалы конференции


Доп.точки доступа:
Kosyrev, N. N.; Косырев, Николай Николаевич; Varnakov, S. N.; Варнаков, Сергей Николаевич; Tarasov, I. A.; Тарасов, Иван Анатольевич; Lyashchenko, S. A.; Лященко, Сергей Александрович; Shvetsov, D. V.; Maksimova, O. A.; Yakovlev, I. A.; Яковлев, Иван Александрович; Zabluda, V. N.; Заблуда, Владимир Николаевич; Shvets, V. A.; Швец, Василий Александрович; Rykhkitsky, S. V.; Рыхлицкий С.В.; Ovchinnikov, S. G.; Овчинников, Сергей Геннадьевич; International Conference on Spectroscopic Ellipsometry (6 ; 2013 ; May ; 26-31 ; Kyoto, Japan)

/ О. А. Максимова [и др.] // 2-я Всерос. науч. конф. "Методы исслед. состава и структ. функциональных матер." (МИССФМ-2013) : 21-25 окт. 2013, Новосибирск : сб. тезисов докл. - Новосибирск, 2013. - С. 221-222 . - ISBN 978-5-906376-03-9

Материалы конференции,
Для получение полного текста обратитесь в библиотеку

Держатели документа:
Институт физики им. Л.В. Киренского СО РАН

Доп.точки доступа:
Максимова, Ольга Александровна; Maximova, O. A.; Косырев, Николай Николаевич; Kosyrev N.N.; Варнаков, Сергей Николаевич; Varnakov S.N.; Лященко, Сергей Александрович; Lyashchenko S. A.; Овчинников, Сергей Геннадьевич; Ovchinnikov S. G.; Российская академия наук; Сибирское отделение РАН; Институт катализа им. Г.К. Борескова Сибирского отделения РАН; "Методы исследования состава и структуры функциональных материалов", Всероссийская научная конференция(2 ; 2013 ; окт. ; Новосибирск)

/ V. N. Zabluda [et al.] // Proc. int. conf. nanomaterials: application and properties. - 2013. - Vol. 2, No. 3. - P. 03AET11

Материалы конференции


Доп.точки доступа:
Zabluda, V. N.; Заблуда, Владимир Николаевич; Kosyrev, N. N.; Косырев, Николай Николаевич; Varnakov, S. N.; Варнаков, Сергей Николаевич; Ovchinnikov, S. G.; Овчинников, Сергей Геннадьевич; Tarasov, I. A.; Тарасов, Иван Анатольевич; Lyashchenko, S. A.; Лященко, Сергей Александрович; Shvetsov, D. V.; Maksimova, O. A.; Yakovlev, I. A.; Яковлев, Иван Александрович; Shvets, V. A.; Швец, Василий Александрович; Rykhlitsky, S. V.; Рыхлицкий С.В.; International conference nanomaterials: applications and properties(2013 ; Sept. 16-21 ; Crimea, Ukraine)

/ I. A. Tarasov [и др.] // Donostia Int. Conf. on Nanoscaled Magnetism and Applications : Abstracts book. - 2013. - Ст. P1-27. - P. 260

Материалы конференции


Доп.точки доступа:
Tarasov, I. A.; Тарасов, Иван Анатольевич; Varnakov, S. N.; Варнаков, Сергей Николаевич; Yakovlev, I. A.; Яковлев, Иван Александрович; Zharkov, S. M.; Жарков, Сергей Михайлович; Kosyrev, N. N.; Косырев, Николай Николаевич; Ovchinnikov, S. G.; Овчинников, Сергей Геннадьевич; Donostia International Conference on Nanoscaled Magnetism and Applications (9 -13 Sept. 2013 ; San Sebastian, Spain)

/ Н. Н. Косырев [и др.] // Журн. техн. физ. - 2014. - Т. 84, Вып. 5. - С. 109-112. - Библиогр.: 17 назв. - Работа выполнена при финансовой поддержке Министерства образования и науки Российской Федерации, государственный контракт 14.513.11.0016, соглашения 14.132.21.1709 и 14.В37.21.1276, гранта поддержки ведущей научной школы (проект НШ-1044.2012.2), Российского фонда фундаментальных исследований (грант № 13-02-01265), программы ОФН РАН № 2.4.1, программы Президиума РАН № 23.34, интеграционного проекта СО РАН № 38 . - ISSN 0044-4642
Аннотация: Разработан и реализован алгоритм, позволяющий на основании однозонных эллипсометрических измерений в процессе роста тонких полупроводниковых пленок решать обратную задачу эллипсометрии с целью определения показателя поглощения. Методика основана на анализе изменения эллипсометрических параметров Ψ и Δ непосредственно в процессе роста. Апробация алгоритма проведена в процессе синтеза структур Si/SiO2/Si(100) и Hg1−xCdxTe.

Смотреть статью,
Для получение полного текста обратитесь в библиотеку

Держатели документа:
Институт физики им. Л.В. Киренского СО РАН

Доп.точки доступа:
Косырев, Николай Николаевич; Kosyrev N. N.; Швец, Василий Александрович; Михайлов, Н. Н.; Варнаков, Сергей Николаевич; Varnakov S. N.; Овчинников, Сергей Геннадьевич; Ovchinnikov S. G.; Рыхлицкий, С. В.; Яковлев, Иван Александрович; Yakovlev, I. A.

/ I. A. Tarasov [et al.] // Tech. Phys. - 2012. - Vol. 57, Is. 9. - P. 1225-1229, DOI 10.1134/S1063784212090241. - Cited References: 18. - This work was supported by Integration Project no. 22 of the Siberian and Far East Branches, Russian Academy of Sciences; a program of the Presidium of the Russian Academy of Sciences (project no. 27), the Federal Target Program "Human Capital for Science and Education in Innovative Russia" for 2009-2013, and the program "Spintronics" (project no. 4) of the Department of Physical Sciences, Russian Academy of Sciences. . - ISSN 1063-7842РУБ Physics, Applied

Аннотация: An algorithm is developed to perform rapid control of the thickness and optical constants of a film structure during growth. This algorithm is tested on Fe/SiO2/Si(100) structures grown in an Angara molecular-beam epitaxy setup. The film thicknesses determined during their growth are compared with X-ray spectral fluorescence analysis and transmission electron microscopy data.

Смотреть статью,
Scopus,
WoS,
Для получение полного текста обратитесь в библиотеку

Держатели документа:
[Tarasov, I. A.
Kosyrev, N. N.
Varnakov, S. N.
Ovchinnikov, S. G.
Zharkov, S. M.
Bondarenko, G.] Russian Acad Sci, Siberian Branch, Kirenskii Inst Phys, Krasnoyarsk 660036, Russia
[Tarasov, I. A.
Kosyrev, N. N.
Varnakov, S. N.] Reshetnev Siberian State Aerosp Univ, Krasnoyarsk 660014, Russia
[Shvets, V. A.
Tereshchenko, O. E.] Russian Acad Sci, Siberian Branch, Inst Semicond Phys, Novosibirsk 630090, Russia
[Zharkov, S. M.] Siberian Fed Univ, Krasnoyarsk 660041, Russia
[Shvets, V. A.] Novosibirsk State Univ, Novosibirsk 630090, Russia

Доп.точки доступа:
Tarasov, I. A.; Тарасов, Иван Анатольевич; Kosyrev, N. N.; Косырев, Николай Николаевич; Varnakov, S. N.; Варнаков, Сергей Николаевич; Ovchinnikov, S. G.; Овчинников, Сергей Геннадьевич; Zharkov, S. M.; Жарков, Сергей Михайлович; Shvets, V. A.; Bondarenko, S. G.; Tereshchenko, O. E.

/ N. N. Kosyrev [et al.] // Tech. Phys. - 2014. - Vol. 59, Is. 5. - P. 736-739, DOI 10.1134/S1063784214050144. - Cited References: 17. - This work was supported financially by the Ministry of Education and Science of the Russian Federation (state contract no. 14.513.11.0016, agreement nos. 14.132.21.1709 and 14.V37.21.1276), the Program Supporting Leading Scientific Schools (project no. NSh-1044.2012.2), Russian Foundation for Basic Research (project no. 13-02-01265), Physics Division, Russian Academy of Sciences (program no. 2.4.1), Presidium of the Russian Academy of Sciences (program no. 23.34), Siberian-Far East Branches, Russian Academy of Sciences (project no. 85), and integration project no. 38 of the Siberian Branch, Russian Academy of Sciences. . - ISSN 1063-7842. - ISSN 1090-6525РУБ Physics, Applied

Аннотация: An algorithm that makes it possible to solve the inverse problem of ellipsometry aimed at determining the absorption coefficient on the basis of a single-zone ellipsometric experiment during the growth of thin semiconducting films is developed and implemented. The technique is based on analysis of the variation of ellipsometric parameters I and Delta directly during the growth. The algorithm is tested in synthesis of Si/SiO2/Si(100) and Hg1 - x Cd (x) Te structures.

Смотреть статью,
Scopus,
WoS,
Для получение полного текста обратитесь в библиотеку

Держатели документа:
Russian Acad Sci, LV Kirensky Phys Inst, Siberian Branch, Krasnoyarsk 660036, Russia
Novosibirsk State Univ, Novosibirsk 630090, Russia
Russian Acad Sci, Inst Semicond Phys, Siberian Branch, Novosibirsk 630090, Russia
Reshetnikov Siberian State Aerosp Univ, Krasnoyarsk 660014, Russia

Доп.точки доступа:
Kosyrev, N. N.; Косырев, Николай Николаевич; Shvets, V. A.; Mikhailov, N. N.; Varnakov, S. N.; Варнаков, Сергей Николаевич; Ovchinnikov, S. G.; Овчинников, Сергей Геннадьевич; Rykhlitskii, S. V.; Yakovlev, I. A.; Яковлев, Иван Александрович; Ministry of Education and Science of the Russian Federation [14.513.11.0016, 14.132.21.1709, 14.V37.21.1276]; Program Supporting Leading Scientific Schools [NSh-1044.2012.2]; Russian Foundation for Basic Research [13-02-01265]; Physics Division, Russian Academy of Sciences [2.4.1]; Presidium of the Russian Academy of Sciences [23.34]; Siberian-Far East Branches, Russian Academy of Sciences [85]; Siberian Branch, Russian Academy of Sciences [38]

/ I. A. Tarasov [et al.] // 8th Workshop Ellipsometry : Book of abstracts. - 2014. - P. 81

Материалы конференции


Доп.точки доступа:
Tarasov, I. A.; Тарасов, Иван Анатольевич; Varnakov, S. N.; Варнаков, Сергей Николаевич; Yakovlev, I. A.; Яковлев, Иван Александрович; Zharkov, S. M.; Жарков, Сергей Михайлович; Kosyrev, N. N.; Косырев, Николай Николаевич; Ovchinnikov, S. G.; Овчинников, Сергей Геннадьевич; Leibniz-Institut für Polymerforschung Dresden e. V.; Workshop Ellipsometry (8 ; 2014 ; March 10-12 ; Dresden, Germany)

/ О. А. Максимова [и др.] // Журн. структ. химии. - 2014. - Т. 55, № 6. - С. 1190-1197. - Библиогр.: 8. - Работа выполнена при финансовой поддержке Программы Президента России по поддержке ведущих научных школ НШ 2886.2014.2, Российского фонда фундаментальных исследований (грант № 13-02-01265, № 14-02-01211), Министерства образования и науки Российской Федерации (Соглашение 14.604.21.0002, Государственный контракт № 02.G25.31.0043), а также Фонда содействия развитию малых форм предприятий в научно-технической сфере (программа "У.М.Н.И.К.", договор № 0003831). . - ISSN 0136-7463
Аннотация: Предложена методика интерпретации магнитоэллипсометрических измерений. Рассмотрена модель однородной полубесконечной среды для отражающих слоистых магнитных структур при наличии магнитного поля в конфигурации магнитооптического экваториального эффекта Керра. На основании анализа коэффициентов Френеля с учетом магнитооптического параметра Q, входящего в недиагональные члены тензора диэлектрической проницаемости, получены выражения, с помощью которых из данных эллипсометрических (ψ 0 и Δ 0) и магнитоэллипсометрических (ψ 0 + δψ и Δ 0 + δΔ) измерений можно получить значения величин коэффициентов преломления ( n), поглощения ( k), действительной ( Q 1) и мнимой ( Q 2) частей магнитооптического параметра. Полученные результаты позволят с помощью традиционной эллипсометрической аппаратуры измерять и анализировать такие магнитные характеристики, как петли гистерезиса, коэрцитивную силу слоистых наноструктур.

Смотреть статью,
РИНЦ,
Для получение полного текста обратитесь в библиотеку

Держатели документа:
Институт физики им. Л.В. Киренского СО РАН

Доп.точки доступа:
Максимова, Ольга Александровна; Maximova, O. A.; Косырев, Николай Николаевич; Kosyrev, N. N.; Варнаков, Сергей Николаевич; Varnakov, S. N.; Лященко, Сергей Александрович; Lyashchenko, S. A.; Овчинников, Сергей Геннадьевич; Ovchinnikov, S. G.; "Методы исследования состава и структуры функциональных материалов", Всероссийская научная конференция(2 ; 2013 ; окт. ; Новосибирск)

/ O. A. Maksimova [et al.] // J. Struct. Chem. - 2014. - Vol. 55, Is. 6. - P. 1134-1141, DOI 10.1134/S0022476614060225. - Cited References:8. - The work was supported by the Program of the President of the RussianFederation for the support of leading scientific schools (ScientificSchool 2886.2014.2), RFBR (grant No. 13-02-01265, No. 14-02-01211), theMinistry of Education and Science of the Russian Federation (Agreement14.604.21.0002 State contract No. 02.G25.31.0043), and the Foundationfor Assistance to Small Innovative Enterprises in Science and Technology(program "A Member of the Youth Research and Innovation Competition",contract number 0003831). . - ISSN 0022. - ISSN 1573-8779. - РУБ Chemistry, Inorganic & Nuclear + Chemistry, Physical

Аннотация: The technique for interpreting magneto-ellipsometric measurements is proposed. The model of a homogeneous semi-infinite medium for reflecting layered magnetic structures in the presence of the magnetic field in the configuration of the magneto-optical equatorial Kerr effect is considered. Based on the analysis of the Fresnel coefficients with regard to the magneto-optical parameter Q appearing in the off-diagonal elements of the permittivity tensor, the expressions are obtained using which the refraction (n) and absorption (k) coefficients, the real (Q (1)) and imaginary (Q (2)) parts of the magneto-optical parameter can be found from the ellipsometric (psi(0) and Delta(0)) and magneto-ellipsometric (psi(0) + delta psi and Delta(0) + delta I") measurements. The results will allow to measure and analyze the magnetic characteristics such as hysteresis loops and the coercitive force of layered nanostructures using the conventional ellipsometric equipment.

Смотреть статью,
Scopus,
WOS,
Для получение полного текста обратитесь в библиотеку

Держатели документа:
Siberian Fed Univ, Krasnoyarsk, Russia
Russian Acad Sci, LV Kirensky Phys Inst, Siberian Branch, Krasnoyarsk, Russia
Reshetnev Siberian State Aerosp Univ, Krasnoyarsk, Russia

Доп.точки доступа:
Maksimova, O. A.; Максимова, Ольга Александровна; Kosyrev, N. N.; Косырев, Николай Николаевич; Varnakov, S. N.; Варнаков, Сергей Николаевич; Lyashchenko, S. A.; Лященко, Сергей Александрович; Ovchinnikov, S. G.; Овчинников, Сергей Геннадьевич; Russian Federation [2886.2014.2]; RFBR [13-02-01265, 14-02-01211]; Ministry of Education and Science of the Russian Federation[14.604.21.0002, 02.G25.31.0043]; Foundation for Assistance to SmallInnovative Enterprises in Science and Technology [0003831]

/ Н. Н. Косырев [и др.] // Кремний-2006 : тезисы докладов. - Красноярск : ИФ СО РАН, 2006. - С. 112

Держатели документа:
Институт физики им. Л.В. Киренского СО РАН

Доп.точки доступа:
Косырев, Николай Николаевич; Kosyrev, N. N.; Варнаков, Сергей Николаевич; Varnakov, S. N.; Овчинников, Сергей Геннадьевич; Ovchinnikov, S. G.; Худяков, Алексей Евгеньевич; Российская академия наук; Сибирское отделение РАН; Институт физики им. Л.В. Киренского Сибирского отделения РАН; Кремний-2006. Российское совещание по росту кристаллов и пленок кремния и исследованию их физических свойств и структурного совершенства(3 ; 4-6 июля 2006 г. ; Красноярск)
Нет сведений об экземплярах (Источник в БД не найден)

/ А. В. Шайдуров [и др.] // Кремний-2006 : тезисы докладов. - Красноярск : ИФ СО РАН, 2006. - С. 119

Держатели документа:
Институт физики им. Л.В. Киренского СО РАН

Доп.точки доступа:
Шайдуров, А. В.; Овчинников, Сергей Геннадьевич; Ovchinnikov, S. G.; Косырев, Николай Николаевич; Kosyrev, N. N.; Варнаков, Сергей Николаевич; Varnakov, S. N.; Российская академия наук; Сибирское отделение РАН; Институт физики им. Л.В. Киренского Сибирского отделения РАН; Кремний-2006. Российское совещание по росту кристаллов и пленок кремния и исследованию их физических свойств и структурного совершенства(3 ; 4-6 июля 2006 г. ; Красноярск)
Нет сведений об экземплярах (Источник в БД не найден)

/ N. N. Kosyrev, V. N. Zabluda, S. G. Ovchinnikov // Third Asian school-conference on physics and technology of nanostructured materials (ASCO-NANOMAT 2015) : proceedings. - Vladivostok : Dalnauka, 2015. - Ст. VII.25.01o . - ISBN 978-5-8044-1556-4
   Перевод заглавия: In situ Мюллер-магнитоэллипсометрия

Материалы конференции


Доп.точки доступа:
Zabluda, V. N.; Заблуда, Владимир Николаевич; Ovchinnikov, S. G.; Овчинников, Сергей Геннадьевич; Косырев, Николай Николаевич; Asian School-Conference on Physics and Technology of Nanostructured Materials(3 ; 2015 ; Aug. ; 19-26 ; Vladivostok); Азиатская школа-конференция по физике и технологии наноструктурированных материалов(3 ; 2015 ; авг. ; 19-26 ; Владивосток)

[Электронный ресурс]
Систем. требования: Систем. требования: PC не ниже класса PentiumI ; 128 Mb RAM ; Windows 98/XP/7 ; Adobe Reader V8.0 и выше. - Режим доступа: http://conf.sfu-kras.ru/sites/mn2015/index.html (Материалы конференции) / O. A. Maksimova, N. N. Kosyrev, S. G. Ovchinnikov. - В электронном диске.: Проспект Свободный : материалы научной конференции, посвященной 70-летию Великой Победы / отв. ред. Е. И. Костоглодова. - 2015
   Перевод заглавия: Спектральная эллипсометрия для изучения магнитооптических свойств однослойных ферромагнитных наноструктур

Материалы конференции


Доп.точки доступа:
Kosyrev, N. N.; Косырев, Николай Николаевич; Ovchinnikov, S. G.; Овчинников, Сергей Геннадьевич; Сибирский федеральный университет; "Проспект Свободный", международная конференция студентов, аспирантов и молодых ученых(2015 ; апр. ; 15-25 ; Красноярск)

/ Н. Н. Косырев [и др.]. ; патентообладатель Ин-т физики им. Л.В. Киренского. - № 2014118809/28 ; Заявл. 08.05.2014 ; Опубл. 20.08.2015 // Изобретения. Полезные модели : офиц. бюл. Фед. службы по интеллектуал. собственности (Роспатент). - 2015. - № 23 . -
Аннотация: Изобретение относится к области магнитных и магнитооптических измерений. Способ заключается в том, что исследуемый образец освещают линейно поляризованным световым пучком и измеряют изменение поляризации при отражении, используя разделение отраженного луча на p- и s-компоненты с разложением по амплитуде и фазе, получая на выходе четыре световых пучка. При этом к исследуемому образцу во время проведения измерений прикладывают переменное магнитное поле, при измерении меридионального эффекта Керра поляризатор фиксируют в положении P=0, а анализаторы в амплитудном и фазовом каналах A1,2=45°. Перемагничивание образца осуществляют с помощью вращающегося постоянного магнита и величину поворота плоскости поляризации α, пропорциональную проекции намагниченности на плоскость падения света, определяют по формуле. Изобретение обеспечивает повышение точности измерения и информативности.

Смотреть патент,
Для получение полного текста обратитесь в библиотеку

Держатели документа:
Библиотека Института физики им. Л. В. Киренского СО РАН

Доп.точки доступа:
Косырев, Николай Николаевич; Kosyrev, N. N.; Заблуда, Владимир Николаевич; Zabluda, V. N.; Тарасов, Иван Анатольевич; Tarasov, I. A.; Лященко, Сергей Александрович; Lyashchenko, S. A.; Шевцов, Дмитрий Валентинович; Shevtsov, D. V.; Варнаков, Сергей Николаевич; Varnakov, S. N.; Овчинников, Сергей Геннадьевич; Ovchinnikov, S. G.; Институт физики им. Л.В. Киренского Сибирского отделения РАН; Федеральная служба по интеллектуальной собственности (Роспатент); Федеральный институт промышленной собственности

/ авт. пр. И. А. Тарасов, авт. пр. И. А. Яковлев, авт. пр. Н. Н. Косырев ; правообладатель: ФГБУН Институт физики им. Л.В. Киренского СО РАН. - № 2015613270 ; Заявл. 22.04.2015 ; Опубл. 20.07.2015 // Прогр. для ЭВМ. Базы данных. Топологии интегр. микросхем : офиц. бюл. Фед. службы по интеллектуал. собственности (Роспатент). - 2015. - № 7 . -
Аннотация: Программа предназначена для расчёта спектральных зависимостей оптических постоянных и параметра толщины тонких плёнок путём решения обратной задачи эллипсометрии для случая многоугловых измерений спектральных зависимостей эллипсометрических углов. Программа использует ряд методов и оптических моделей, позволяющих провести расширенный анализ оптических свойств, качества интерфейса и шероховатости поверхности исследуемых объектов. Получаемые сведения могут быть использованы для отработки технологических процессов получения планарных наноструктур и характеризации их электронных свойств в соответствующем диапазоне энергий.

Смотреть свид-во

Держатели документа:
Институт физики им. Л.В. Киренского СО РАН

Доп.точки доступа:
Тарасов, Иван Анатольевич; Tarasov, I. A.; Яковлев, Иван Александрович; Yakovlev, I. A.; Косырев, Николай Николаевич; Kosyrev, N. N.; Институт физики им. Л.В. Киренского Сибирского отделения РАН; Федеральная служба по интеллектуальной собственности (Роспатент); Федеральный институт промышленной собственности