Перевод заглавия: Micromagnetic simulation and numerical analysis of magnetization reversal processes in thin-film ferromagnetic/antiferromagnetic bilayer
Кл.слова (ненормированные):
микромагнитное моделирование -- ферромагнетик/антиферромагнетик -- петля гистерезиса -- обменное смещение -- коэрцитивная сила -- micromagnetic simulation -- coercivity -- ferromagnetic/antiferromagnetic -- hysteresis loop -- exchange bias
Аннотация: На основе численного микромагнитного моделирования проведено исследование процессов перемагничивания двухслойных тонкопленочных структур ферромагнетик/антиферромагнетик. Сделан анализ влияния параметров структуры на величину поля обменного сдвига и коэрцитивной силы. Результаты расчета сравниваются с экспериментальными и теоретическими данными.
On the basis of the numerical micromagnetic simulation the study of magnetization reversal processes in thin-film ferromagnetic/antiferromagnetic bilayers was performed. The analysis of influence of parameters of the structure on exchange bias field and coercive force was carried out. Calculation results are compared with experimental and theoretical data.
Держатели документа:
Институт физики им. Л.В. Киренского СО РАН
Доп.точки доступа:
Изотов, Андрей Викторович; Izotov, A.V.; Беляев, Борис Афанасьевич; Belyaev, B. A.; Соловьев, Платон Николаевич; Волошин, Александр Сергеевич; Voloshin, A. S.