Содержание:
Идеальные, или гауссовы, изображения
Численные значения сечений рассеяния
Исследование тонких структур с деталями крупнее 10 Å
Волны и интерференция
Волновая механика и формирование изображения
Коллективное возбуждение и энергетические потери в твердых телах
Введение в дифракцию электронов
Интенсивность дифракции
Дифракционный контраст
Качество изображения и разрешение
Изображения отклоняющих полей
Электронно-зондовый микроанализ
Общие функции для интерференционных расчетов
Аберрация линз и фаза дефокусировки
Элементы кристаллографии
пример из динамической трехволновой теории
Определение вектора Бюргерса
Дифракционные эффекты в толстых кристаллах
Преимущественные ориентировки (текстуры)
ГРНТИ |
Рубрики:
Микроскопия электронная
Микроскопия электронная
Держатели документа:
Институт физики им. Л.В. Киренского СО РАН
Доп.точки доступа:
Кардонский, В. М. \пер.\; Хачатурян, А. Г. \пер.\; Heidenreich, Robert D.
Экземпляры всего: 1
ИФ-КФ (1)
Свободны: ИФ-КФ (1)