Содержание:
Электронная оптика и приборостроение
Микродифракция и структурный анализ в электронной микроскопии
Методы электронно-зондовых исследований
Тонкие пленки, поверхностные свойства и кристаллизация
Дифракционный контраст
Металлы и сплавы
Минералы
Полимеры, коллоидные сисетмы, аэрозоли
ГРНТИ |
Рубрики:
Микроскопия электронная--Сборники
Микроскопия электронная--Сборники
Держатели документа:
Институт физики им. Л.В. Киренского СО РАН
Доп.точки доступа:
Баранов, В. Н. \ред.\; Смирнова, Р. С. \ред.\; Стельмащук, В. Я. \ред.\; Орлова, Е. В. \ред.\; Академия наук СССР; Научный совет по электронной микроскопии АН СССР; Институт кристаллографии АН СССР; Академия наук Эстонской ССР"Эстколхозстрой", эстонское республиканское объединение; "Дезинтегратор", специальное конструкторско-технологическое бюро
Экземпляры всего: 1
ИФ-КФ (1)
Свободны: ИФ-КФ (1)