Сводный каталог книг

w10=
Найдено документов в текущей БД: 10
   В34
   О-75
В34 / О-75-ИВМ-Фонд
В341,0 / О-75-ЦНБ-АБ

    Основы оптической радиометрии
/ В. Иванов, Ю.М. Золотаревский, А.Ф. Котюк , А.А. Либерман и др. ; Под ред. А.Ф. Котюка. - М. : Физматлит, 2003. - 541 с. : ил. - Библиогр.: с. 536-541. - ISBN 5-9221-0427-6 : 493.27 р., 494.17 р., 492.00 р.
ГРНТИ
УДК
ББК В341 + З86-53-07 + В341,0 + З86-53-07с381,0
Рубрики:
Радиометрия оптическая--Основы
   Излучение лазерное--Измерение

Кл.слова (ненормированные):
Лазерное излучение - Измерение - Радиометрический метод -- Некогерентное оптическое излучение -- Когерентное оптическое излучение -- Оптические преобразователи -- Оптоэлектрические измерительные преобразователи (ОЭИП) -- Тепловые ОЭИП -- Фотонные ОЭИП -- Специализированные ОЭИП -- Электрооптические преобразователи -- Модель черного тела -- Измерительные лампы -- Фотометрические головки -- Фотоэлектрические фотометры -- Прецизионная фотометрическая головка -- Оптические радиометры -- Абсолютные радиометры -- Лазерные ваттметры -- Джоульметры -- Спектральные приборы -- Монохроматор -- Промышленные спектрометры -- Российская система обеспечения единства измерений -- Спектрорадиометрические единицы -- Спектрорадиометрические шкалы -- Сверхяркие светоизлучающие диоды -- Фотометрия квазимонохроматического излучения -- Измерение оптических характеристик -- Спектрофотометрия -- Рефлектометрия -- Рефрактометрия -- Рефрактометры -- Показатель преломления -- Цвет -- Восприятие цвета -- Технические цветовые измерения -- Поляризационные измерения -- Поляризационные эффекты -- Поляризация -- Лазерное излучение -- Лазер -- Лазерометрия -- Энергетические параметры лазерного излучения -- Государственная поверочная система -- Эталонные измерения -- Мощность лазерного излучения -- Энергия лазерного излучения -- Пространственно-энергетические параметры лазерного излучения -- Характеристики лазерного излучения -- Спектральные лазерного излучения -- Дифракционный спектрометр -- Спектральная площадь мощности (энергии) лазерного излучения -- Длина волны лазерного излучения -- Степень пространственной когерентности лазерного излучения


Держатели документа:
Институт физики им. Л.В. Киренского СО РАН
ИВМ СО РАН : 660036, Красноярск, Академгородок, 50, стр.44

Доп.точки доступа:
Иванов, Вячеслав Семенович; Золотаревский, Юрий Михайлович; Саприцкий, Виктор Ильич; Столяревская, Раиса Иосифовна; Улановский, Михаил Владимирович; Чупраков, Владимир Федорович
Экземпляры всего: 3
ИФ-КФ (1), ИВМ-Фонд (1), ЦНБ-АБ (1)
Свободны: ИФ-КФ (1), ИВМ-Фонд (1), ЦНБ-АБ (1)
   В37
   Ж 42

    Дифракционный и резонансный структурный анализ. Рентгено-, электроно-, нейтроно-мессбауэровская спектроскопия
: учеб. пособие для вузов / Г. С. Жданов, А. С. Илюшин, С. В. Никитина ; ред. Г. С. Жданов. - М. : Наука, 1980. - 254 с. : ил. - Библиогр.: с. 245-250. - Предм. указ.: с. 251-254. - Пер. изд. : Diffuse reflections from crystals / W. A. Wooster. - Oxford, 1962. - 6000 экз. - 1.09 р.
ГРНТИ
ББК В371.21я73


Держатели документа:
Институт физики им. Л.В. Киренского СО РАН

Доп.точки доступа:
Илюшин, Александр Сергеевич; Никитина, Светлана Ваильевна; Жданов, Герман Степанович \ред.\; Wooster, W. A.
Экземпляры всего: 1
ИФ-КФ (1)
Свободны: ИФ-КФ (1)
   Ж
   Б 87

    Микроструктура материалов. Методы исследования и контроля
: учеб. пособие : пер с англ. / Д. Брандон, У. Каплан. - М. : Техносфера, 2006. - 377 с. - (Мир материалов и технологий). - Библиогр. в конце глав. - Предм. указ. - Пер. изд. : Microstructural characterization of materials / David G. Brandon, Wayne D. Kaplan. - Chichester; New York , 1999. - 2000 экз. - ISBN 5-94836-018-0 : 145.00 р.
    Содержание:
Дифракционный анализ кристаллической структуры
Оптическая микроскопия
Электронная микроскопия
Микроанализ в электронной микроскопии
Химический анализ поверхности
Количественный анализ микроструктуры
ГРНТИ
ББК Ж306в672я73


Держатели документа:
Институт физики им. Л.В. Киренского СО РАН

Доп.точки доступа:
Каплан, У.; Баженов, Сергей Леонидович \ред. пер.\; Brandon, David G.; Kaplan, Wayne D.
Экземпляры всего: 1
ИФ-КФ (1)
Свободны: ИФ-КФ (1)
   В38
   Х 35

    Основы просвечивающей электронной микроскопии
/ Р. Хейденрайх ; пер. с англ. [и предисл.] В. М. Кардонского и А. Г. Хачатуряна. - М. : Мир, 1966. - 471 с. : рис., табл., фот. - Библиогр.: с. 466-468. - Библиогр. в конце глав. - Пер. изд. : Fundamentals of transmission electron microscopy / Robert D. Heidenreich. - New York, 1964. - 2.11 р.
    Содержание:
Идеальные, или гауссовы, изображения
Численные значения сечений рассеяния
Исследование тонких структур с деталями крупнее 10 Å
Волны и интерференция
Волновая механика и формирование изображения
Коллективное возбуждение и энергетические потери в твердых телах
Введение в дифракцию электронов
Интенсивность дифракции
Дифракционный контраст
Качество изображения и разрешение
Изображения отклоняющих полей
Электронно-зондовый микроанализ
Общие функции для интерференционных расчетов
Аберрация линз и фаза дефокусировки
Элементы кристаллографии
пример из динамической трехволновой теории
Определение вектора Бюргерса
Дифракционные эффекты в толстых кристаллах
Преимущественные ориентировки (текстуры)
ГРНТИ
ББК В383я7


Держатели документа:
Институт физики им. Л.В. Киренского СО РАН

Доп.точки доступа:
Кардонский, В. М. \пер.\; Хачатурян, А. Г. \пер.\; Heidenreich, Robert D.
Экземпляры всего: 1
ИФ-КФ (1)
Свободны: ИФ-КФ (1)
   В33
   В 85

    XI Всесоюзная конференция по электронной микроскопии
: Таллин, 16-18 окт. 1979 г. : тезисы докл. Т. 1. Физика / Акад. наук СССР, Науч. совет по электрон. микроскопии, Ин-т кристаллографии АН СССР, Акад. наук ЭССР, Эстон. респ. об-ние "Эстколхозстрой", СКТБ "Дезинтегратор" ; ред. В. Н. Баранов [и др.]. - М. : Наука, 1979. - 336 с. - Библиогр. в конце ст. - Авт. указ.: с. 324-334. - 900 экз. - 1.40 р.
    Содержание:
Электронная оптика и приборостроение
Микродифракция и структурный анализ в электронной микроскопии
Методы электронно-зондовых исследований
Тонкие пленки, поверхностные свойства и кристаллизация
Дифракционный контраст
Металлы и сплавы
Минералы
Полимеры, коллоидные сисетмы, аэрозоли
ГРНТИ
ББК В338я431 + В371.215я431


Держатели документа:
Институт физики им. Л.В. Киренского СО РАН

Доп.точки доступа:
Баранов, В. Н. \ред.\; Смирнова, Р. С. \ред.\; Стельмащук, В. Я. \ред.\; Орлова, Е. В. \ред.\; Академия наук СССР; Научный совет по электронной микроскопии АН СССР; Институт кристаллографии АН СССР; Академия наук Эстонской ССР"Эстколхозстрой", эстонское республиканское объединение; "Дезинтегратор", специальное конструкторско-технологическое бюро
Экземпляры всего: 1
ИФ-КФ (1)
Свободны: ИФ-КФ (1)
   Ж
   Ф 94
В372 / Ф 94-ЦНБ-АБ

    Просвечивающая электронная микроскопия и дифрактометрия материалов
: пер. с англ. / Б. Фульц, Дж. Хау ; пер. В. И. Даниленко ; ред. пер. А. В. Мохова. - М. : Техносфера, 2011. - 903 p. - (Мир физики и техники). - Библиогр.: с. 805-820 - Предм. указ. - Пер. изд. : Transmission electron microscopy and diffractometry of materials / Brent Fultz, James Howe. - Berlin; Heidelberg, 2005. - 3000 экз. - ISBN 978-5-94836-291-5. - ISBN 978-5-94836-291-5 . - ISBN 978-3-540-43764-2 : 1418.18 р., 1418.18 р.
    Содержание:
Дифракция и рентгеновский порошковый дифрактометр
TEM (Transmission Electron Microscopy) и его оптика
Рассеяние
Неупругое рассеяние электронов и спектроскопия
Дифракция от кристаллов
Электронная дифракция и кристаллография
Дифракционный контраст в изображениях TEM
Формы дифракционных линий
Функции Паттерсона и диффузное рассеяние
Изображения TEM высокого разрешения
Изображения сканирующей TEM высокого разрешения
Динамическая теория
ГРНТИ
ББК Ж3-1 + Г46 + В338.48 + Г512 + В372.15,07


Держатели документа:
Институт физики им. Л.В. Киренского СО РАН

Доп.точки доступа:
Хау, Джеймс; Даниленко, В. И. \пер.\; Мохова, А. В. \ред. пер.\; Fultz, Brent; Howe, James
Экземпляры всего: 2
ИФ-КФ (1), ЦНБ-АБ (1)
Свободны: ИФ-КФ (1), ЦНБ-АБ (1)
   В37
   Г 61
Ж6 / Г 61-ЦНБ-АБ

    Основы нанотехнологий
/ Ю. И. Головин. - М. : Машиностроение, 2012. - 653 с. - Библиогр. в конце глав. - 3000 экз. - ISBN 978-5-94275-662-8 : 920.00 р., 920.00 р.
    Содержание:
Общие особенности наноструктур
Атомно-молекулярная структура наночастиц и наносистем
Электронная структура наномасштабных твердых тел
Свободные и внутренние поверхности в наноструктурах
Задачи и особенности наномасштабных измерений
Микроскопия
Дифракционный анализ
Спектральные методы
Характеризация единичных низкоразмерных объектов
Наноматериалы
Наноэлектроника и микросистемная техника
Нанобиотехнологии и наномедицина
Социально-экономические и гуманитарные аспекты нанотехнологий
ГРНТИ
УДК
ББК В371.26 + Ж36 + З844.1 + Ж6 + Ж6 + Ж364
Рубрики:
Нанотехнологии--Физические основы
Кл.слова (ненормированные):
Нанотехнология


Оглавление

Держатели документа:
Институт физики им. Л.В. Киренского СО РАН
Экземпляры всего: 2
ИФ-КФ (1), ЦНБ-АБ (1)
Свободны: ИФ-КФ (1), ЦНБ-АБ (1)
   В371
   Ж 42

    Дифракционный и резонансный структурный анализ
: рентгено-, электроно-, нейтроно-, мессбауэрография и мессбауэровская спектроскопия : учеб. пособие для вузов / Г. С. Жданов, А. С. Илюшин, С. В. Никитина ; под общ. ред. проф. Г. С. Жданова. - М. : Наука, Гл. ред. физ.-мат. лит., 1980. - 253, [1] с. : рис., табл. ; 22 см. - Авт. на корешке не указаны. - Библиогр.: с. 245-250. - Предм. указ.: с. 251-254. - 6000 экз. - (в пер.) : 0.80 р.
    Содержание:
Фурье-трансформанта кристалла и интерференционная функция пространственной решетки . - С .17-38
Симметрия и геометрия кристаллического пространства . - С .39-71
Рассеяние излучений атомом . - С .72-82
Интенсивность рассеяния регулярными совокупностями атомов . - С .83-98
Интенсивность рассеяния искаженными кристаллами . - С .99-110
Методы дифракционных структурных исследований . - С .111-122
Аппаратура для дифракционных структурных исследований . - С .123-145
Некоторые применения дифракционных методов исследования в физике твердого тела . - С .146-173
Основы теории ядерного гамма-резонанса . - С .174-187
Экспериментальные основы ядерного гамма-резонанса . - С .188-195
Ядерная гамма-резонансная спектроскопия как метод структурных исследований кристаллов . - С .196-225
Ядерная гамма-резонансная дифракция как метод структурного анализа кристаллов . - С .226-244
ГРНТИ
ББК В371.21я73



Доп.точки доступа:
Илюшин, Александр Сергеевич; Никитина, Светлана Васильевна; Жданов, Герман Степанович \ред.\
Экземпляры всего: 1
ИХХТ-АБ (1)
Свободны: ИХХТ-АБ (1)
   В34
   С 24

    Светосильные спектральные приборы
/ В. А. Вагин [и др.] ; ред. К. И. Тарасов. - М. : Наука, 1988. - 263 с. : рис. - (Физика и техника спектроскопии). - Библиогр.: с. 255-263. - ISBN 5-02-013841-X : 4.00 р.
УДК
ББК В344.1



Доп.точки доступа:
Вагин, Василий Алексеевич; Гершун, Михаил Андреевич; Жижин, Герман Николаевич; Тарасов, Константин Иванович; Тарасов, Константин Иванович \ред.\
Экземпляры всего: 1
ИХХТ-АБ (1)
Свободны: ИХХТ-АБ (1)
   Г522
   К 93

    Физика и химия карбидов вольфрама
[Текст] : научное издание / А. С. Курлов, А. И. Гусев. - Москва : ФИЗМАТЛИТ, 2014. - 269, [3] с. : ил. - Библиогр. в конце глав. - Предм. указ.: с. 266-269. - 100 экз. - ISBN 978-5-9221-1477-6 (в пер.) : 349.14 р.
ББК Г522.21 + К28

Аннотация: В монографии изложено современное состояние фундаментальных исследований карбидов вольфрама, широко применяемых в технике. Проведен симметрийный анализ превращений беспорядок-порядок и порядок-порядок в низших нестехиометрических карбидах вольфрама W2C, описаны фазовые равновесия в системе вольфрам-углерод и родственных тройных системах, построена равновесная фазовая диаграмма системы W-C. Впервые описаны методы синтеза карбидов вольфрама с разным размером частиц (зерен) — от крупнозернистых до нанокристаллических, обсужден дифракционный метод оценки размера малых частиц и микронапряжений, рассмотрена зависимость стабильности состава карбидов вольфрама при высоких температурах на воздухе и в вакууме от размера частиц (зерен). Описаны особенности применения нанокристаллического монокарбида вольфрама для получения наноструктурированных твердых сплавов. Для научных работников и специалистов в области физики и химии твердого тела, физического материаловедения, нанокристаллического состояния вещества, а также для аспирантов и студентов соответствующих специальностей.


Доп.точки доступа:
Гусев, Александр Иванович; Курлов, Алексей Семёнович
Экземпляры всего: 1
ЦНБ-АБ (1)
Свободны: ЦНБ-АБ (1)