| ГРНТИ | |
| УДК |
Рубрики:
Шумы--Приборы электронные
Флуктуации--Шумы--Физика
Кл.слова (ненормированные):
Флуктуации -- Случайные процессы -- Моментыслучайных процессов -- Метод Ланжевена -- Тепловой шум -- Формула Найквиста -- Шум горячих электрогов -- Диффузный шум -- Дробовой шум -- Генерационно-рекомбинационный шум (ГР) -- Фликкер-шум -- Взрывной шум -- Избыточный шум -- Фотонный шум -- Смагнитный шум -- Флуктуации -- Биологическая безопасноть сотовой связи -- Преобразованиешума -- Шумовое сопротивление -- Коэффициент шума -- Шумовая температура -- Измерение шума -- Двухполюсники -- Контроль качества компонентов ИС -- Радиационная стойкость ИС -- Интегральная диагностика ИС -- Интегральная диагностика электронных устройств -- Неравновесный фликкер-шум (НФШ) -- Волтамперные характеристики (ВАХ) -- Гетероперходный полевой транзистор (НЕМТ) -- 1/f шум
Шумы--Приборы электронные
Флуктуации--Шумы--Физика
Кл.слова (ненормированные):
Флуктуации -- Случайные процессы -- Моментыслучайных процессов -- Метод Ланжевена -- Тепловой шум -- Формула Найквиста -- Шум горячих электрогов -- Диффузный шум -- Дробовой шум -- Генерационно-рекомбинационный шум (ГР) -- Фликкер-шум -- Взрывной шум -- Избыточный шум -- Фотонный шум -- Смагнитный шум -- Флуктуации -- Биологическая безопасноть сотовой связи -- Преобразованиешума -- Шумовое сопротивление -- Коэффициент шума -- Шумовая температура -- Измерение шума -- Двухполюсники -- Контроль качества компонентов ИС -- Радиационная стойкость ИС -- Интегральная диагностика ИС -- Интегральная диагностика электронных устройств -- Неравновесный фликкер-шум (НФШ) -- Волтамперные характеристики (ВАХ) -- Гетероперходный полевой транзистор (НЕМТ) -- 1/f шум
Аннотация: Флуктуации и шумы определяют чувствительность приемных и измерительных электронных устройств. В наноэлектронике шумами ограничивается минимальный размер элемента, а также плотность записи информации в магнитных записывающих устройствах. По 1/f-шуму удается оценивать качество и прогнозировать надежность интегральных схем и устройств на их основе, не прибегая к долговременным и дорогостоящим испытаниям, причем с такой высокой достоверностью, какую не дают другие известные методы. Все эти вопросы, а также способы описания и физические модели различных шумов (1/f-шума, фликкер-шума и др.), а также методы измерения и снижения шума описаны в данном учебном пособии, написанном на основе курса лекций, прочитанных автором в Московском институте электронной техники. Для студентов старших курсов, магистрантов, аспирантов, а также научных сотрудников и инженеров.
http://dlib.rsl.ru/rsl01005000000/rsl01005469000/rsl01005469199/rsl01005469199.pdf
Держатели документа:
Институт физики им. Л.В. Киренского СО РАН
Экземпляры всего: 2
ИФ-КФ (1), ЦНБ-АБ (1)
Свободны: ИФ-КФ (1), ЦНБ-АБ (1)