| ГРНТИ | |
| УДК |
Рубрики:
Техника и технические науки --Метрология. Техника измерений--Теория измерений
Метрология
Кл.слова (ненормированные):
Шкалы -- Эталоны -- Фильтры Картана,и и функционального анализа -- Направленности (обобщенные последовательности) Мура и Смита, -- Методы теории множеств -- Методы топологии -- Методы функционального анализа -- Шкалы - фильтры -- Шкалы-направленности -- Шкалы - последовательности -- Базис шкал -- Измерительные сведения -- Истинные точки -- Условные истинные (действительные )точки -- Принцип топологической эквивалентности погрешности -- Топологическая эквивалентность погрешности -- Неопределенность измерений -- Шкала групповогоэталона -- Индуцированная шкала -- Операции преобразования шкал -- Базис шкал -- Единицы измерений -- Типовые измерительные шкалы -- Эталонная шкала -- Минимальная шкала -- Максимальная эталонная шкала -- Тривиальная шкала -- Иерархия шкал -- Иерахия процедур измерения -- Иерахия процедур управления -- Иерахическое подчинение шкал -- Калибровка -- Поверка -- Отображенная шкала -- Топологическая структура шкал -- Опорная точка -- Наблюдаемая точка -- Многомернаня шкала -- Принцип повышения точности измерений
Техника и технические науки --Метрология. Техника измерений--Теория измерений
Метрология
Кл.слова (ненормированные):
Шкалы -- Эталоны -- Фильтры Картана,и и функционального анализа -- Направленности (обобщенные последовательности) Мура и Смита, -- Методы теории множеств -- Методы топологии -- Методы функционального анализа -- Шкалы - фильтры -- Шкалы-направленности -- Шкалы - последовательности -- Базис шкал -- Измерительные сведения -- Истинные точки -- Условные истинные (действительные )точки -- Принцип топологической эквивалентности погрешности -- Топологическая эквивалентность погрешности -- Неопределенность измерений -- Шкала групповогоэталона -- Индуцированная шкала -- Операции преобразования шкал -- Базис шкал -- Единицы измерений -- Типовые измерительные шкалы -- Эталонная шкала -- Минимальная шкала -- Максимальная эталонная шкала -- Тривиальная шкала -- Иерархия шкал -- Иерахия процедур измерения -- Иерахия процедур управления -- Иерахическое подчинение шкал -- Калибровка -- Поверка -- Отображенная шкала -- Топологическая структура шкал -- Опорная точка -- Наблюдаемая точка -- Многомернаня шкала -- Принцип повышения точности измерений
Аннотация: В книге изложен новый, достаточно общий и эффективный подход к проблемам измерения, кодирования и управления. Впервые в основу определений шкалы, единицы измерения, эталона и математических интерпретаций междисциплинарных теорий измерения, кодирования и управления положены фундаментальные конструкции анализа - фильтры Картана, направленности (обобщенные последовательности) Мура и Смита, методы теории множеств, топологии и функционального анализа. Полученные результаты применимы при построении шкал и создании эталонов в самых разнообразных классических и неклассических направлениях современной метрологии и теории управления, в математической и технической физике. Для широкого круга специалистов и научных работников, использующих современные информационные технологии в области естественных, технических, биологических и социальных наук, а также для аспирантов и студентов высших учебных заведений.
http://dlib.rsl.ru/rsl01005000000/rsl01005425000/rsl01005425039/rsl01005425039.pdf
Экземпляры всего: 2
ЦНБ-АБ (2)
Свободны: ЦНБ-АБ (2)