Сводный каталог книг

/ А. Г. Сергеев. - М. : Логос, 2011. - 413 с. ; 22 см. - Библиогр.: с. 409-413. - 1000 экз. - ISBN 978-5-98704-494-0 : 768.00 р., 768.00 р.

ГРНТИ	90.27	29.19.22	29.31.26	90.03.03
УДК	62-022.53:006^V3

ББК Ж10 + В371.26в642 + Ж10в734

Аннотация: Содержит основные сведения по метрологическому обеспечению наноиндустрии. Рассмотрены становление нанометрологии в XX-XXI вв. и концепции ее развития. Подробно изложены современные основы технического обеспечения нанометрологии. Освещены вопросы нестабильности, точности и неопределенности наноизмерений. Особое внимание уделено основным метрологическим операциям - поверке и калибровке. Материал по сканирующей зондовой микроскопии изложен на основе семи современных стандартов, введенных в 2008-2009 гг. Описаны организационные принципы нанометрологии, системы Гостехрегулирования через сеть региональных отделений вновь созданного Центра метрологического обеспечения нанотехнологий и отраслевых научно-исследовательских институтов. Приведен перечень вузов, работающих в сфере наноиндустрии, и указаны основные направления их исследований в данной области. Для ученых, инженеров и других специалистов, разрабатывающих проблемы нанометрологии. Может использоваться в учебном процессе вузов при подготовке кадров в сфере нанотехнологий, метрологии и технического регулирования, а также в магистратуре и аспирантуре в этих научно-технических областях.

Держатели документа:
Институт физики им. Л.В. Киренского СО РАН
Экземпляры всего: 2
ИФ-КФ (1), ЦНБ-АБ (1)
Свободны: ИФ-КФ (1), ЦНБ-АБ (1)

: учебник / В. И. Марголин [и др.]. - СПб. [и др.] : Лань, 2012. - 457 с. ; 25 см. - (Учебники для вузов. Специальная литература). - Библиогр. в конце гл. - 1000 экз. - ISBN 978-5-8114-1318-8 : 1908.00 р., 1908.00 р.

ГРНТИ	81.13.30
УДК	62-022.53(075.8)^V3

ББК Ж6я73

Аннотация: Учебник содержит общие представления о предмете нанотехнологии, понятия нанонауки и наномира и их отличие от представлений классической и квантовой физики. Описаны проблемы перехода от микротехнологии к нанотехнологии и особенности наноразмерного состояния вещества, основные традиционные и специфические проблемы нанохимии и нанофизики, проблемы чистоты поверхности материала и вещества. Анализируются основные характеристики наночастиц, определяющие их механические, электрофизические и иные свойства, а также влияющие на применимость этих характеристик для решения технологических задач в материаловедении, машиностроении, химическом и электронном производстве. Рассмотрены проблемы размерных эффектов, основы фрактальной геометрии, фрактальной физики и нелинейной динамики. Проанализированы вопросы самоорганизации наноструктур и некоторые вопросы синергетики, проблемы невоспроизводимости в нанотехнологии и нанодисперсного состояния вещества. Рассмотрены наноструктура объемных и поверхностных областей наноматериалов, наноразмерные объекты на основе углерода, вопросы нанометрологии. Описаны методы создания упорядоченных нанообъектов, области применения наноразмерных структур и материалов, созданных с их применением, и перспективные направления применения нанотехнологии. Учебник предназначен для студентов, обучающихся по программе бакалавров, студентов старших курсов, обучающихся по программам инженеров, магистров и аспирантов, а также специалистов, работающих в направлении нанотехнологии.

Держатели документа:
Институт физики им. Л.В. Киренского СО РАН
ИВМ СО РАН : 660036, Красноярск, Академгородок, 50, стр.44

Доп.точки доступа:
Марголин, Владимир Игоревич; Жабрев, Валентин Александрович; Лукьянов, Геннадий Николаевич; Тупик, Виктор Анатольевич
Экземпляры всего: 3
ИФ-КФ (1), ИХХТ-АБ (1), ИВМ-Фонд (1)
Свободны: ИФ-КФ (1), ИХХТ-АБ (1), ИВМ-Фонд (1)