Сводный каталог книг

: пер. с англ. : в 3-х т. / Моск. гос. ин-т электрон. техники; ред.: Б. Бхушан, А. Н. Сауров ; ред. пер. А. Н. Сауров. - М. : Техносфера, 2010. - 3000 экз. - ISBN 978-5-94836-261-8. - 1039 с. + 24 см. - Библиогр.в конце разд. и гл. - Пер. изд. : Springer handbook of nanotechnology / Bhushan B., ed. - 2nd ed. - Berlin, 2007. - ISBN 978-5-94836-263-2 : 1600.00 р.
    Содержание:
Сканирующая зондовая микроскопия
Бесконтактная атомная силовая микроскопия
Нанотрибология, наномеханика и определение характеристик материалов
Поверхностные силы и нанореология молекулярно-тонких пленок
Исследования ограниченных поверхностями жидкостей
Использование сканирующих устройств для исследования наномасштабной адгезии между твердыми телами в присутствии жидкостей и монослойных пленок
Трение и износ
Наномасштабные механические свойства - измерение и применение
Наномеханические свойства поверхностей твердых тел и тонких пленок
[Биологическая нанотехнология]

ГРНТИ

29.19.22

81.13

ББК Ж6я22 + В371.25я22


Держатели документа:
Институт физики им. Л.В. Киренского СО РАН

Доп.точки доступа:
Бхушан, Б. \ред.\; Сауров, А.Н. \ред. пер.\; Московский государственный институт электронной техники. НПК "Технологический центр"
Экземпляры всего: 1
ИФ-ЧЗ (1)
Свободны: ИФ-ЧЗ (1)

[Текст] : в 3 томах / Федер. гос. учреждение Науч.-произв. комплекс "Технол.центр" Моск. гос. ин-та электрон. техники ; под ред. Б. Бхушана ; пер. с англ. под общ. ред. А.С. Саурова. - М. : Техносфера, 2010. - 1040 с. + 24 см. - Библиогр.в конце разд. и гл. - ISBN 978-5-94836-261-8. - ISBN 978-5-94836-263-2 : 1600.00 р.

УДК

501

620.3

ББК Ж6я22


Экземпляры всего: 1
ИБФ-ООН (1)
Свободны: ИБФ-ООН (1)