Сводный каталог книг

[Текст] : методы и применение / Р. Андерхальт [и др.] ; под ред. У.Жу, Ж.Л. Уанг ; ред. пер. Т.П. Каминская ; пер. с англ. С.А. Иванова, К.И. Домкина. - Москва : Бином. Лаборатория знаний, 2013. - 582 с. : ил. - Библиогр. в конце глав. - Пер. изд. : Scanning Microscopy for Nanotechnology : Techniques and Applications. - ISBN 978-5-9963-1110-1. - ISBN 978-5-9963-11 10-1 : 1320.00 р., 1320.00 р.

ГРНТИ	47
УДК	621.3	621.38-022.53

ББК З85 + Ж36-1с341.2,0 + Ж607с341.2,0

Аннотация: Монография посвящена рассмотрению методов растровой электронной микроскопии (РЭМ) применительно к нанотехнологиям и включает не только исследование характеристик различных наноматериалов, наноструктур и нанобъектов, но и технологию их изготовления in situ. В книге под редакцией известных ученых собраны статьи и обзоры видных специалистов в областях, относящихся к нанотехнологиям. Рассмотрены различные типы РЭМ, включая просвечивающие микроскопы с высоким разрешением, рентгеновский микроанализ, новейшие методы получения изображения посредством обратно рассеянных электронов, а также методы электронной криомикроскопии для исследования биообъектов. Использование РЭМ включает изучение наночастиц, нанопроволок, нанотрубок, трехмерных наноструктур, квантовых точек, магнитных наноматериалов, фотонных кристаллов и биологических наноструктур. Книга предназначена не только для широкого круга практических специалистов в сфере нанотехнологий, но может быть использована также студентами вузов и разработчиками новых типов растровых электронных микроскопов.

Держатели документа:
ИВМ СО РАН : 660036, Красноярск, Академгородок, 50, стр.44

Доп.точки доступа:
Андерхальт, Роберт; Анзалоне, Поль; Апкариан, П. Р.; Борисевич, А.; Карунту, Даниела; Жу, Уэйли \ред.\; Уанг, Жон Лин \ред.\; Иванов, С.А. \пер.\; Домкин, К.И. \пер.\; Каминская, Т.П. \ред. пер.\
Экземпляры всего: 1
ИВМ-Фонд (1), ИБФ-ООН
Свободны: ИВМ-Фонд (1)

: методы и применение / [Р. Андерхальт, П. Анзалоне, П. Р. Апкариан и др.] ; под ред. У. Жу, Ж. Л. Уанга ; перевод с англ. С. А. Иванова, К. И. Домкина ; под ред. Т. П. Каминской. - Москва : Бином. Лаборатория знаний, 2012. - 582 с., [8] л. ил. : ил. ; 24 см. - Предм. указ.: с. 574-582. - Библиогр. в конце гл. - Пер. изд. : Scanning microscopy for nanotechnology. - 700 экз. - ISBN 978-5-9963-1110-1 (в пер.) : 1320 р.
Авт. указаны на 5-й с.

ГРНТИ	81.09	81.13
УДК	621.38-022.53^V3

ББК Ж364-1в733 + Ж607в733

Аннотация: Монография посвящена рассмотрению методов растровой электронной спектроскопии (РЭМ) применительно к нанотехнологиям и включает не только исследование характеристик различных наноматериалов, наноструктур и нанообъектов, но и технологию их изготовления in sity. Рассмотрены различные типы РЭМ, включая просвечивающие микроскопы с высоким разрешением, рентгеновский микроанализ, новейшие методы получения изображения посредством обратно рассеянных электронов, а также методы электронной микроскопии для исследования биообъектов.


Доп.точки доступа:
Андерхальт, Роберт; Анзалоне, Поль; Апкариан, П. Р.; Жу, Уэйли \ред.\; Каминская, Т. П. \ред.\; Уанг, Жон Лин \ред.\; Иванов, С. А. \пер.\; Домкин, К. И. \пер.\
Экземпляры всего: 1
ИХХТ-АБ (1)
Свободны: ИХХТ-АБ (1)