| ГРНТИ | ||
| УДК |
Кл.слова (ненормированные):
электроника -- КОНТРОЛЬНО-ИЗМЕРИТЕЛЬНАЯ ТЕХНИКА -- ПОЛУПРОВОДНИКОВЫЕ ПРИБОРЫ -- ИНТЕГРАЛЬНЫЕ МИКРОСХЕМЫ -- ОПТОЭЛЕКТРОННЫЕ ЭЛЕМЕНТЫ -- КОНТРОЛЬ ЭЛЕКТРОННОЙ ТЕХНИКИ
Аннотация: Систематизированы сведения о современных методах измерения параметров и испытаний полупроводниковых приборов, интегральных микросхем и оптоэлектронных элементов. Рассмотрены перспективные саособы определения характеристик изделий электронной техники, в том числе силовых полупроводниковых приборов. Приведены схемы втоматических контрольных устройств и измерительных станций. Для инженерно-технических работников в области электронно-измерительной техники, студентов вузов и широкого круга читателей, интересующихся вопросами качества электронных приборов.
Держатели документа:
ИВМ СО РАН : 660036, Красноярск, Академгородок, 50, стр.44
Экземпляры всего: 3
ИВМ-Фонд (1), ИХХТ-АБ (1), ИБФ-КФ (1)
Свободны: ИВМ-Фонд (1), ИХХТ-АБ (1), ИБФ-КФ (1)