Сводный каталог книг

/ В. Г. Архипкин, А. К. Попов ; ред. С. А. Ахманов ; Акад. наук СССР, Сиб. отд-ние, Ин-т физики им. Л.В. Киренского. - Новосибирск : Наука, Сиб. отд-ние, 1987. - 143 с. - Библиогр.: с. 108-140. - 1400 экз. - 1.60 р., 1.60 р.

ГРНТИ

29.33.25

29.31.17

ББК В343.4 + В343.7


Держатели документа:
Институт физики им. Л.В. Киренского СО РАН
Центральная научная библиотека КНЦ СО РАН : 660036, г. Красноярск, Академгородок, 50

Доп.точки доступа:
Попов, Александр Кузьмич; Ахманов, Сергей Александрович \ред.\; Arkhipkin, V. G.; Академия наук СССР; Сибирское отделение РАН; Институт физики им. Л.В. Киренского Сибирского отделения АН СССР
Экземпляры всего: 5
ИФ-КФ (3), ИФ-РСФ (1), ЦНБ-РСФ (1)
Свободны: ИФ-КФ (3), ИФ-РСФ (1), ЦНБ-РСФ (1)

/ Л. И. Миркин ; ред. Я. С. Уманский. - М. : Гос. изд-во физ.-мат. лит., 1961. - 863 с. - Библиогр.: 463 назв. - Предм. указ. - 3.56 р.

ГРНТИ	29.19.04	29.19.19	29.01.33
УДК	621.7(083)

ББК В361я22 + В371.21я22 + В371


Держатели документа:
Институт физики им. Л.В. Киренского СО РАН

Доп.точки доступа:
Уманский, Я. С. \ред.\
Экземпляры всего: 2
ИФ-КФ (1), ИХХТ-АБ (1)
Свободны: ИФ-КФ (1), ИХХТ-АБ (1)

: пер. с англ. / Ф. А. Либхафски [и др.] ; пер. И. П. Александрова [и др.] ; ред. пер. М. А. Блохин ; ред.пер. К. И. Нарбутт. - М. : Металлургия, 1964. - 31 с. : ил. - Библиор. по определениям отдельных элементов: с. 356-368 (475 назв.). - Библиогр.: с. 370-378 (300 назв.). - Пер. изд. : X-ray absorption and emission in analytical chemistry / H. A. Liebhafsky, H. G. Pfeiffer, E. H. Winslow. - 2230 экз. - 1.95 р.

ГРНТИ

31.19

29.31.26

ББК Г461.4 + В344.1-141


Держатели документа:
Институт физики им. Л.В. Киренского СО РАН

Доп.точки доступа:
Либхафски, Ф. А.; Пфейфер, Г. Г.; Уинслоу, Э. Г.; Земани, П. Д.; Александрова, Инга Петровна \пер.\; Блохин, Михаил Арнольдович \ред. пер.\; Нарбутт, К. И. \ред.пер.\; Liebhafsky, H. A.; Pfeiffer, H. G.; Winslow, E. H.
Экземпляры всего: 1
ИФ-КФ (1)
Свободны: ИФ-КФ (1)

: в 2 кн. / Дж. Гоулдстейн [и др.] ; пер. c англ. Р. С. Гвоздовер и Л. Ф. Комоловой под ред. В. И. Петрова. - М. : Мир, 1984 - . - 1984. - 303 с. : ил. - Загл. парал. англ. - 3.00 р.

ГРНТИ

29.35.43

ББК В338.48 + В344.1-141 + Г461.4-6


Держатели документа:
Институт физики им. Л.В. Киренского СО РАН

Доп.точки доступа:
Гоулдстейн, Д.; Ньюбери, Д.; Эчлин, П.; Джой, Д.; Фиори, Ч.; Лившин, Э.; Гвоздовер, Р. С. \пер.\; Комолова, Л. Ф. \пер.\; Петров, В. И. \ред.\
Экземпляры всего: 1
ИФ-КФ (1)
Свободны: ИФ-КФ (1)

: в 2 кн. / Дж. Гоулдстейн [и др.] ; пер. с англ. Р. С. Гвоздовер и Л. Ф. Комоловой под ред. В. И. Петрова. - М. : Мир, 1984. - 1984. - 348 с. : ил. - Библиогр.: с. 318-341. - Предм. указ.: с. 342-346. - 3.10 р.

ГРНТИ

29.35.43

ББК В338.48 + В344.1-141 + Г461.4-6


Держатели документа:
Институт физики им. Л.В. Киренского СО РАН

Доп.точки доступа:
Гоулдстейн, Дж.; Ньюбери, Д.; Эчлин, П.; Джой, Д.; Фиори, Ч.; Лившин, Э.; Гвоздовер, Р. С. \пер.\; Комолова, Л. Ф. \пер.\; Петров, В. И. \ред.\
Экземпляры всего: 1
ИФ-КФ (1)
Свободны: ИФ-КФ (1)

: пер. с англ. / Б. Фульц, Дж. Хау ; пер. В. И. Даниленко ; ред. пер. А. В. Мохова. - М. : Техносфера, 2011. - 903 p. - (Мир физики и техники). - Библиогр.: с. 805-820 - Предм. указ. - Пер. изд. : Transmission electron microscopy and diffractometry of materials / Brent Fultz, James Howe. - Berlin; Heidelberg, 2005. - 3000 экз. - ISBN 978-5-94836-291-5. - ISBN 978-5-94836-291-5 . - ISBN 978-3-540-43764-2 : 1418.18 р., 1418.18 р.
    Содержание:
Дифракция и рентгеновский порошковый дифрактометр
TEM (Transmission Electron Microscopy) и его оптика
Рассеяние
Неупругое рассеяние электронов и спектроскопия
Дифракция от кристаллов
Электронная дифракция и кристаллография
Дифракционный контраст в изображениях TEM
Формы дифракционных линий
Функции Паттерсона и диффузное рассеяние
Изображения TEM высокого разрешения
Изображения сканирующей TEM высокого разрешения
Динамическая теория

ГРНТИ

31.15.15

31.19

29.31.26

81.09.03

29.19.04

ББК Ж3-1 + Г46 + В338.48 + Г512 + В372.15,07


Держатели документа:
Институт физики им. Л.В. Киренского СО РАН

Доп.точки доступа:
Хау, Джеймс; Даниленко, В. И. \пер.\; Мохова, А. В. \ред. пер.\; Fultz, Brent; Howe, James
Экземпляры всего: 2
ИФ-КФ (1), ЦНБ-АБ (1)
Свободны: ИФ-КФ (1), ЦНБ-АБ (1)

/ Н. И. Комяк, Ю. Г. Мясников. - Л. : Машиностроение, 1972. - 88 с. : рис., фот. - (Специальное конструкторское бюро рентгеновской аппаратуры). - 3000 экз. - 0.35 р.
    Содержание:
Рентгеновский метод определения напряжений
Экспериментальные методы получения дифракционной картины
Рентгеновская аппаратура для определения напряжения в промышленных условиях

ГРНТИ

47.29.39

53.49.19

29.31.26

ББК В344.1-141 + З995


Держатели документа:
Институт физики им. Л.В. Киренского СО РАН
Доп.точки доступа:
Мясников, Юрий Гиларьевич
Экземпляры всего: 1
ИФ-КФ (1)
Свободны: ИФ-КФ (1)

: пер. с англ. / ред. пер. Т. П. Каминская ; пер.: С. А. Иванов, К. И. Домкин. - М. : БИНОМ. Лаб. знаний, 2013. - 582 с. : ил. + 25 см. - Библиогр. в конце гл. - Предм. указ. - Авт. указаны на с. 5-8. - Пер. изд. : Scanning microscopy for nanotechnology. Techniques and applications / Zhou, ed. Weili Zhou, Lin Wang, ed. Zhong Lin Wang. - 2006. - 700 экз. - ISBN 978-5-9963-1110-1 : 1320.00 р., 1320.00 р., 1265.00 р.
    Содержание:
Основы растровой электронной микроскопии

ГРНТИ	29.35.43	29.19.22
УДК	621.3	681.54

ББК В338.48 + Ж36-1с + Ж607с

Аннотация: Монография посвящена рассмотрению методов растровой электронной микроскопии (РЭМ) применительно к нанотехнологиям и включает не только исследование характеристик различных наноматериалов, наноструктур и нанобъектов, но и технологию их изготовления in situ. В книге под редакцией известных ученых собраны статьи и обзоры видных специалистов в областях, относящихся к нанотехнологиям. Рассмотрены различные типы РЭМ, включая просвечивающие микроскопы с высоким разрешением, рентгеновский микроанализ, новейшие методы получения изображения посредством обратно рассеянных электронов, а также методы электронной криомикроскопии для исследования биообъектов. Использование РЭМ включает изучение наночастиц, нанопроволок, нанотрубок, трехмерных наноструктур, квантовых точек, магнитных наноматериалов, фотонных кристаллов и биологических наноструктур. Книга предназначена не только для широкого круга практических специалистов в сфере нанотехнологий, но может быть использована также студентами вузов и разработчиками новых типов растровых электронных микроскопов.

Content,
Содержание,
Глава 1

Держатели документа:
Институт физики им. Л.В. Киренского СО РАН

Доп.точки доступа:
Каминская, Т. П. \ред. пер.\; Иванов, С. А. \пер.\; Домкин, К. И. \пер.\; Weili Zhou, ed.; Zhong Lin Wang, ed.
Экземпляры всего: 3
ИФ-КФ (1), ЦНБ-АБ (2)
Свободны: ИФ-КФ (1), ЦНБ-АБ (2)

/ И. Б. Боровский [и др.]. - М. : Металлургия, 1973. - 296 с. - Библиогр. в конце глав. - 2600 экз. - 0.92 р.
    Содержание:
Искровой спектральный и масс-спектральный локальный анализ
Лазерный микроанализ
Рентгеновский микроанализ
Методы локального химического и изотопного анализа с использованием явления вторичной ионной эмиссии

ГРНТИ

31.19.15

ББК Г461.31


Держатели документа:
Институт физики им. Л.В. Киренского СО РАН
Доп.точки доступа:
Боровский, Игорь Борисович; Водоватов, Федор Федорович; Жуков, Андрей Александрович; Черепин, Валентин Тихонович
Экземпляры всего: 1
ИФ-КФ (1)
Свободны: ИФ-КФ (1)

: Microanalyse et microscopie electronique a balayage : [cб. статей] : пер. с фр. / ред. Ф. Морис [и др.] ; пер. Г. Д. Стельмакова, под ред. И. Б. Боровского. - М. : Металлургия, 1985. - 408 с. - Загл. на доп.тит.листе. - Библиогр.: с. 392-403. - Предм.указ.:с.404-407. - Пер. изд. : Microanalyse et microscopie electronique á balayage. - 5.10 р., 5.10 р.
    Содержание:
Электронная оптика
Эмиссия электронов и контраст
Детектирование и обработка электронных сигналов
Взаимодействие электронов с веществом
Эмиссия рентгеновских лучей
Спектрометрия рентгеновского излучения
Практический количественный анализ массивных образцов
Применение статистических методов в микроанализе
Примеры применения растрового электронного микроскопа
Подготовка и анализ биологических образцов
Подготовка и анализ геологических образцов, стекол и керамики
Кристаллический контраст Косселя и Киккучи
Применение электронной растровой спектроскопии к изучению полупроводников
Рентгеновский микроанализ тонких образцов
Применение в металлургии: фрактография
Микроанализ по спектрам характеристических потерь энергии электронов
Молекулярно-оптический лазерный микрозонд
Применение лазерных зондов в эмиссионной спектрографии и масс-спектрометрии
Ядерный микрозонд
Анализ методом вторичной ионной эмиссии

ГРНТИ

31.19

ББК Г461.311 + В371.215 + Г461.311-6я43


Держатели документа:
Институт физики им. Л.В. Киренского СО РАН
Доп.точки доступа:
Филибер, Ж.; Фонтен, Ж.; Викарио, Э.; Энок, Ж.; Морис, Ф.; Рюст, Ж.; Ансей, М.; Бастенер, Ф.; Тиксье, Р.; Мартожа, Р.; Баллан-Дюфрансе, С.; Руанель, Н.; Бизуар, Х.; Питаваль, М.; Бресс, Ж. Ф.; Дюпуи, М.; Мени, Л.; Колье, К.; Требья, П.; Барбилла, Ж.; Стефани, Р.; Энгельман, К.; Бланшар, Б.; Морис, Ф. \ред.\; Мени, Л. \ред.\; Тиксье, Р. \ред.\; Стельмакова, Г. Д. \пер.\; Боровский, И. Б. \ред. пер.\
Экземпляры всего: 2
ИФ-КФ (1), ИХХТ-АБ (1)
Свободны: ИФ-КФ (1), ИХХТ-АБ (1)

[Текст] : монография / А.А. Сучков. - Москва : Наука, 1988. - 192 с. : ил. - (Проблемы науки и технического прогресса). - ISBN 5-02-013871-1. - 0.65 р.

УДК	524.6(023)%ББК 22.67

Аннотация: Гигантские звездные системы - галактики - хорошо известны астрономам вот уже более полувека. Но в последние 10-15 лет поразительные открытия новейшей астрономии превратили их в объекты, полные глубоких тайн и загадочных явлений. Есть ли черные дыпы в активных ядрах галактик? Что представляет собой "скрытая" масса? Откуда в скоплениях галактик рентгеновский газ с его фантастически высокой температурой и невероятно большой энергией? Как они возникли? Об этом рассказывается в книге. Для учащихся 10 классов, студентов, преподавателей, лекторов.

Держатели документа:
ИВМ СО РАН : 660036, Красноярск, Академгородок, 50, стр.44
Экземпляры всего: 1
ИВМ-Фонд (1)
Свободны: ИВМ-Фонд (1)

[Текст] : монография / В.Г. Архипкин, А.К.Попов; Отв. ред. С.А. Ахманов; АН СССР, Сиб. отд-ние, Ин-т физики им. Л.В. Киренского. - Новосибирск : Наука. Сибирское отделение, 1987. - 142 с. : ил. - Библиогр: с.108-140. - 1.60 р.

УДК

535; 338

Аннотация: Отражено современное состояние нового направления исследований - нелинейной оптики газов и паров металлов. Обсуждается задача эффективного преобразования частот лазерного излучения в различные диапазоны спектра (инфракрасный, видимый, ультрафиолетовый, вакуумно-ультрафиолетовый и мягкий рентгеновский). Излагаются основные физические принципы и особенности нелинейной оптики газообразных сред. Даются примеры применения данного метода преобразования и спектроскопии высокого и сверхвысокого разрешения, фотоионизации и другие. Для физиков, химиков, биологов.

Держатели документа:
ИВМ СО РАН : 660036, Красноярск, Академгородок, 50, стр.44

Доп.точки доступа:
Попов, А.К.
Экземпляры всего: 1
ИВМ-Фонд (1)
Свободны: ИВМ-Фонд (1)

[Текст] : Е.А.Гусев,А.Е.Карпельсон,В.П.Потапов и др. - Москва : Машиностроение, 1990. - 208 с. : ил + табл. - (Диагностика в машиностроении = ДМ). - Библиогр.: с. 201-205. - ISBN 5-217-00860-1 : 0.60 р.

УДК	621.74.002.6:620.179.15%ББК 34.61.7

Аннотация: Рассмотрены оптимальные режимы контроля, проанализированы достоинства и недостатки приборов, описаны источники и приемники ультразвуковых волн и рентгеновского излучения. Уделено внимание анализу электроакустических трактов ультразвуковых приборов, расчету полей излучения, а также вопросам формирования и преобразования радиационных изображений. Для инженерно-технических работников, занимающихся дефектоскопией и разработкой методов и средств ультразвукового и рентгеновского неразрушающего контроля.

Держатели документа:
ИВМ СО РАН : 660036, Красноярск, Академгородок, 50, стр.44
Экземпляры всего: 1
ИВМ-Фонд (1)
Свободны: ИВМ-Фонд (1)

[Текст] : методы и применение / Р. Андерхальт [и др.] ; под ред. У.Жу, Ж.Л. Уанг ; ред. пер. Т.П. Каминская ; пер. с англ. С.А. Иванова, К.И. Домкина. - Москва : Бином. Лаборатория знаний, 2013. - 582 с. : ил. - Библиогр. в конце глав. - Пер. изд. : Scanning Microscopy for Nanotechnology : Techniques and Applications. - ISBN 978-5-9963-1110-1. - ISBN 978-5-9963-11 10-1 : 1320.00 р., 1320.00 р.

ГРНТИ	47
УДК	621.3	621.38-022.53

ББК З85 + Ж36-1с341.2,0 + Ж607с341.2,0

Аннотация: Монография посвящена рассмотрению методов растровой электронной микроскопии (РЭМ) применительно к нанотехнологиям и включает не только исследование характеристик различных наноматериалов, наноструктур и нанобъектов, но и технологию их изготовления in situ. В книге под редакцией известных ученых собраны статьи и обзоры видных специалистов в областях, относящихся к нанотехнологиям. Рассмотрены различные типы РЭМ, включая просвечивающие микроскопы с высоким разрешением, рентгеновский микроанализ, новейшие методы получения изображения посредством обратно рассеянных электронов, а также методы электронной криомикроскопии для исследования биообъектов. Использование РЭМ включает изучение наночастиц, нанопроволок, нанотрубок, трехмерных наноструктур, квантовых точек, магнитных наноматериалов, фотонных кристаллов и биологических наноструктур. Книга предназначена не только для широкого круга практических специалистов в сфере нанотехнологий, но может быть использована также студентами вузов и разработчиками новых типов растровых электронных микроскопов.

Держатели документа:
ИВМ СО РАН : 660036, Красноярск, Академгородок, 50, стр.44

Доп.точки доступа:
Андерхальт, Роберт; Анзалоне, Поль; Апкариан, П. Р.; Борисевич, А.; Карунту, Даниела; Жу, Уэйли \ред.\; Уанг, Жон Лин \ред.\; Иванов, С.А. \пер.\; Домкин, К.И. \пер.\; Каминская, Т.П. \ред. пер.\
Экземпляры всего: 1
ИВМ-Фонд (1), ИБФ-ООН
Свободны: ИВМ-Фонд (1)

/ Спец. конструкторское бюро рентгеновской аппаратуры ; отв. ред. М. А. Блохин. - Л. : [б. и.], 1968. - 234 с. : ил. - Библиогр. в конце ст. - 1.13 р.

ГРНТИ

31.19

ББК Г461.4



Доп.точки доступа:
Блохин, М.А. \отв. ред.\; Спец. конструкторское бюро рентгеновской аппаратуры
Экземпляры всего: 1
ИХХТ-АБ (1)
Свободны: ИХХТ-АБ (1)

: методы и применение / [Р. Андерхальт, П. Анзалоне, П. Р. Апкариан и др.] ; под ред. У. Жу, Ж. Л. Уанга ; перевод с англ. С. А. Иванова, К. И. Домкина ; под ред. Т. П. Каминской. - Москва : Бином. Лаборатория знаний, 2012. - 582 с., [8] л. ил. : ил. ; 24 см. - Предм. указ.: с. 574-582. - Библиогр. в конце гл. - Пер. изд. : Scanning microscopy for nanotechnology. - 700 экз. - ISBN 978-5-9963-1110-1 (в пер.) : 1320 р.
Авт. указаны на 5-й с.

ГРНТИ	81.09	81.13
УДК	621.38-022.53^V3

ББК Ж364-1в733 + Ж607в733

Аннотация: Монография посвящена рассмотрению методов растровой электронной спектроскопии (РЭМ) применительно к нанотехнологиям и включает не только исследование характеристик различных наноматериалов, наноструктур и нанообъектов, но и технологию их изготовления in sity. Рассмотрены различные типы РЭМ, включая просвечивающие микроскопы с высоким разрешением, рентгеновский микроанализ, новейшие методы получения изображения посредством обратно рассеянных электронов, а также методы электронной микроскопии для исследования биообъектов.


Доп.точки доступа:
Андерхальт, Роберт; Анзалоне, Поль; Апкариан, П. Р.; Жу, Уэйли \ред.\; Каминская, Т. П. \ред.\; Уанг, Жон Лин \ред.\; Иванов, С. А. \пер.\; Домкин, К. И. \пер.\
Экземпляры всего: 1
ИХХТ-АБ (1)
Свободны: ИХХТ-АБ (1)