Сводный каталог книг

w10=
Найдено документов в текущей БД: 7
   В34
   О-75
В34 / О-75-ИВМ-Фонд
В341,0 / О-75-ЦНБ-АБ

    Основы оптической радиометрии
/ В. Иванов, Ю.М. Золотаревский, А.Ф. Котюк , А.А. Либерман и др. ; Под ред. А.Ф. Котюка. - М. : Физматлит, 2003. - 541 с. : ил. - Библиогр.: с. 536-541. - ISBN 5-9221-0427-6 : 493.27 р., 494.17 р., 492.00 р.
ГРНТИ
УДК
ББК В341 + З86-53-07 + В341,0 + З86-53-07с381,0
Рубрики:
Радиометрия оптическая--Основы
   Излучение лазерное--Измерение

Кл.слова (ненормированные):
Лазерное излучение - Измерение - Радиометрический метод -- Некогерентное оптическое излучение -- Когерентное оптическое излучение -- Оптические преобразователи -- Оптоэлектрические измерительные преобразователи (ОЭИП) -- Тепловые ОЭИП -- Фотонные ОЭИП -- Специализированные ОЭИП -- Электрооптические преобразователи -- Модель черного тела -- Измерительные лампы -- Фотометрические головки -- Фотоэлектрические фотометры -- Прецизионная фотометрическая головка -- Оптические радиометры -- Абсолютные радиометры -- Лазерные ваттметры -- Джоульметры -- Спектральные приборы -- Монохроматор -- Промышленные спектрометры -- Российская система обеспечения единства измерений -- Спектрорадиометрические единицы -- Спектрорадиометрические шкалы -- Сверхяркие светоизлучающие диоды -- Фотометрия квазимонохроматического излучения -- Измерение оптических характеристик -- Спектрофотометрия -- Рефлектометрия -- Рефрактометрия -- Рефрактометры -- Показатель преломления -- Цвет -- Восприятие цвета -- Технические цветовые измерения -- Поляризационные измерения -- Поляризационные эффекты -- Поляризация -- Лазерное излучение -- Лазер -- Лазерометрия -- Энергетические параметры лазерного излучения -- Государственная поверочная система -- Эталонные измерения -- Мощность лазерного излучения -- Энергия лазерного излучения -- Пространственно-энергетические параметры лазерного излучения -- Характеристики лазерного излучения -- Спектральные лазерного излучения -- Дифракционный спектрометр -- Спектральная площадь мощности (энергии) лазерного излучения -- Длина волны лазерного излучения -- Степень пространственной когерентности лазерного излучения


Держатели документа:
Институт физики им. Л.В. Киренского СО РАН
ИВМ СО РАН : 660036, Красноярск, Академгородок, 50, стр.44

Доп.точки доступа:
Иванов, Вячеслав Семенович; Золотаревский, Юрий Михайлович; Саприцкий, Виктор Ильич; Столяревская, Раиса Иосифовна; Улановский, Михаил Владимирович; Чупраков, Владимир Федорович
Экземпляры всего: 3
ИФ-КФ (1), ИВМ-Фонд (1), ЦНБ-АБ (1)
Свободны: ИФ-КФ (1), ИВМ-Фонд (1), ЦНБ-АБ (1)
   В34
   Е 27
В34 / Е 27-ИВМ-Фонд

    Лазерная рефрактография
/ О. А. Евтихиева, И. Л. Расковская, Б. С. Ринкевичюс ; ред. Б. С. Ринкевичюс. - М. : Физматлит, 2008. - 176 с. : ил. - Библиогр. в конце глав. - Предм. указ.: с. 173. - 300 экз. - ISBN 978-5-9221-1044-0. - ISBN 978-5-9221-1044-0 : 64.95 р., 64.95 р.
ГРНТИ
УДК
ББК В341.14 + 22.34


Держатели документа:
Институт физики им. Л.В. Киренского СО РАН
ИВМ СО РАН : 660036, Красноярск, Академгородок, 50, стр.44

Доп.точки доступа:
Расковская, Ирина Львовна; Ринкевичюс, Бронюс Симович; Ринкевичюс, Б. С. \ред.\
Экземпляры всего: 2
ИФ-КФ (1), ИВМ-Фонд (1)
Свободны: ИФ-КФ (1), ИВМ-Фонд (1)
   Г4
   И 75

    Рефрактометрические методы в химии
/ Борис Вениаминович Иоффе. - Изд. 2-е перераб. и доп. - Л. : Химия, Ленингр. отд-ние, 1974. - 400 с. : ил. - Библиогр.: с. 348-392. - Предм. указ.: с. 393-395. - 2.36 р.
ГРНТИ
ББК Г461.32


Держатели документа:
Институт физики им. Л.В. Киренского СО РАН
Экземпляры всего: 1
ИФ-КФ (1)
Свободны: ИФ-КФ (1)
   В37
   М 74

    Модуляционная спектроскопия широкозонных полупроводников
: сб. науч. тр. / отв. ред. М.Д. Галанин. - М. : Наука, 1985. - 144 с. - (Труды Физического института им. П.П. Лебедева : изд. с 1936 г. / Акад. наук СССР, Физ. ин-т им. П.П. Лебедева ; гл. ред. Н. Г. Басов ; т. 163). - Библиогр. в конце ст. - 1150 экз. - 2.00 р.
    Содержание:
Георгобиани, А. Н. Исследование фундаментальных переходов в широкозонных полупроводниках методами модуляционной спектроскопии / А. Н. Георгобиани, Ю. В. Озерв, И. М. Тигиняну
Георгобиани, А. Н. Применение методов модуляционной спектроскопии для исследования дефектов в широкозонных полупроводниках / А. Н. Георгобиани, А. Н. Грузинцев
Георгобиани, А. Н. Модуляционная рефрактометрия полупроводниковых структур и диэлектрических волноводов / А. Н. Георгобиани, С. А. Дарзнек, П. А. Тодуа
ГРНТИ
ББК В379.247я54


Держатели документа:
Институт физики им. Л.В. Киренского СО РАН

Доп.точки доступа:
Галанин, Михаил Дмитриевич \ред.\; Басов, Николай Геннадьевич \ред.\; Академия наук СССР; Физический институт им. П.Н. Лебедева АН СССР
Экземпляры всего: 1
ИФ-КФ (1)
Свободны: ИФ-КФ (1)
   Г5
   Б 31
Г51 / Б 31-ИХХТ-АБ
Г51 / Б 31-ИХХТ-АБ

    Структурная рефрактометрия
: учеб. пособие для хим. спец. вузов / С. С. Бацанов. - 2-е изд., перераб. и доп. - М. : Высшая школа, 1976. - 304 с. : ил. - Библиогр.: с. 296-303. - 7000 экз. - 0.72 р., 0.72 р.
    Содержание:
История учения о рефракции
Методы расчета рефракций
Методы использования рефракций
ГРНТИ
УДК
ББК Г512.3 + Г461.3


Держатели документа:
Институт физики им. Л.В. Киренского СО РАН
Экземпляры всего: 3
ИФ-КФ (1), ИХХТ-АБ (2)
Свободны: ИФ-КФ (1), ИХХТ-АБ (2)
   Г461
   Б 31

    Структурная рефрактометрия
: учеб. пособие для вузов / С. С. Бацанов. - М. : Изд-во Моск. ун-та, 1959. - 224 с. : ил. - Библиогр.: с. 214-224. - 0.56 р.
ГРНТИ
ББК Г461.32


Экземпляры всего: 1
ИХХТ-АБ (1)
Свободны: ИХХТ-АБ (1)
   Е.5с
   M78

    Modern methods of plant analysis
[Text] = Moderne Methoden der Pflanzenanalyse. Volume I / ed.: K. Paech, M. V. Tracey. - Berlin ; New York ; Heidelberg : Springer-Verlag, 1956. - 542 pp. + 26 cm. - Bibliogr. at the end of the chapters. - Subject ind.: p. 503-542. - ISSN 0937-8340. - 74.00 р.
Перевод заглавия: Современные методы анализа растений
   Перевод заглавия: Современные методы анализа растений
ББК Е.5с


оглавление и первые страницы глав, предметный указатель


Доп.точки доступа:
Paech, K. \ed.\; Tracey, M. V. \ed.\
Экземпляры всего: 1
ИБФ-Кф (1)
Свободны: ИБФ-Кф (1)