ГРНТИ | ||||
УДК |
Рубрики:
Наноизмерения--Микроскопия сканирующая зондовая
Кл.слова (ненормированные):
Нанотехнология - Метрологическое обеспечение
Наноизмерения--Микроскопия сканирующая зондовая
Кл.слова (ненормированные):
Нанотехнология - Метрологическое обеспечение
Аннотация: Содержит основные сведения по метрологическому обеспечению наноиндустрии. Рассмотрены становление нанометрологии в XX-XXI вв. и концепции ее развития. Подробно изложены современные основы технического обеспечения нанометрологии. Освещены вопросы нестабильности, точности и неопределенности наноизмерений. Особое внимание уделено основным метрологическим операциям - поверке и калибровке. Материал по сканирующей зондовой микроскопии изложен на основе семи современных стандартов, введенных в 2008-2009 гг. Описаны организационные принципы нанометрологии, системы Гостехрегулирования через сеть региональных отделений вновь созданного Центра метрологического обеспечения нанотехнологий и отраслевых научно-исследовательских институтов. Приведен перечень вузов, работающих в сфере наноиндустрии, и указаны основные направления их исследований в данной области. Для ученых, инженеров и других специалистов, разрабатывающих проблемы нанометрологии. Может использоваться в учебном процессе вузов при подготовке кадров в сфере нанотехнологий, метрологии и технического регулирования, а также в магистратуре и аспирантуре в этих научно-технических областях.
Держатели документа:
Институт физики им. Л.В. Киренского СО РАН
Экземпляры всего: 2
ИФ-КФ (1), ЦНБ-АБ (1)
Свободны: ИФ-КФ (1), ЦНБ-АБ (1)