| ГРНТИ |
Держатели документа:
Институт физики им. Л.В. Киренского СО РАН
Экземпляры всего: 1
ИФ-КФ (1)
Свободны: ИФ-КФ (1)
Сводный каталог книг
w10=
Найдено документов в текущей БД: 2
В37
Т56
Т56
Аналитическая вторично-электронная эмиссиометрия
/ Ю. Я. Томашпольский. - М. : Научный мир, 2006. - 112 с. - Библиогр.: с. 98. - ISBN 5-89176-404-0 : 208.00 р.
ББК В373.131
Держатели документа:
Институт физики им. Л.В. Киренского СО РАН
Экземпляры всего: 1
ИФ-КФ (1)
Свободны: ИФ-КФ (1)
Держатели документа:
Институт физики им. Л.В. Киренского СО РАН
Экземпляры всего: 1
ИФ-КФ (1)
Свободны: ИФ-КФ (1)
Г582
Т 56
Г582 / Т 56-ИХХТ-АБ
Т 56
Г582 / Т 56-ИХХТ-АБ
Поверхностная автосегрегация в химических соединениях
[Текст] : монография / Ю. Я. Томашпольский. - Москва : Научный мир, 2013. - 206 с. : ил. ; 23 см. - Библиогр.: с. 196-206. - ISBN 978-5-91522-350-8 : 0.00, 350 р.
ББК Г582
Аннотация: В книге впервые систематизированы и проанализированы результаты исследований процессов поверхностной автосегрегации в твердых телах с акцентом на химические соединения как весьма перспективные, но мало изученные объекты, некоторая часть данных относится к твердым растворам и сплавам. Теоретическая ценность этих знаний состоит в создании модельных представлений о сложных поверхностных сегрегационных явлениях. Практическая значимость заключается в технологических рекомендациях по улучшению поверхностно-чувствительных характеристик функциональных мультикомпонентных материалов, оптимальной эксплуатации изделий из них, а также в создании материалов с поверхностными, в том числе ориентированными наноструктурами. Книга предназначена для широкого круга научных специалистов в области химии, физики и механики поверхности, физики и химии тонких пленок, материаловедения, в том числе космического, теории каталитических и адсорбционных процессов, геологии, а также инженеров, работающих над решением проблем микро- и наноэлектроники, сенсорной техники, эмиссионной электроники, гетерогенного катализа, металлургии, методов инструментального анализа тонких слоев. Книга будет полезной для студентов родственных специальностей. Монография также может представить интерес для работников смежной специализации, пытающихся разобраться в уникальном двумерном мире поверхностей.
Оглавление
Экземпляры всего: 2
ЦНБ-АБ (1), ИХХТ-АБ (1)
Свободны: ЦНБ-АБ (1), ИХХТ-АБ (1)
| ГРНТИ | |
| УДК |
Рубрики:
Поверхностные слои--Физическая химия--Химия,аналитическая--Физико-химические методы
Кл.слова (ненормированные):
Твердые тела -- Поверхностные слои -- Электронно-микроскопические исследования -- Эмиссиометрия -- Рентгенострцктурный анализ -- Спектрометрия ионного расеяния (СИР) -- Оже-электронная спектрометрия (ОЭС) -- Вторично-электронная эмиссиометрия (ВЭЭ) -- Электронография -- Ультрафиолетовая спектрометрия (УФС) -- Микроскопия -- Оптическая микроскопия (ОМ) -- Растровая электронная микроскопия (РЭМ) -- Поверхностная нестехиометрия -- Сегрегационная эпитаксия -- Поверхностные фазы -- Анизотропные колебания -- Просвечивающая электронная микроскопия (ПЭМ) -- Высокоразрешающая растровая электронная микроскопия (ВРЭМ) -- Сканирующая зондовая микроскопия (СЗМ) -- Диффузия -- Диссоциация -- Возгонка -- Адсорбция -- СПАС -- Кристаллохимическая модель -- Простые оксиды -- Сложные оксиды -- Мультикомпонентные материалы -- Поверхностные наноструктуры -- Ориентированные наноструктуры -- Поверхностные сегрегационные явления -- Твердые тела - Поверхностные слои - Электронно-микроскопические исследования
Поверхностные слои--Физическая химия--Химия,аналитическая--Физико-химические методы
Кл.слова (ненормированные):
Твердые тела -- Поверхностные слои -- Электронно-микроскопические исследования -- Эмиссиометрия -- Рентгенострцктурный анализ -- Спектрометрия ионного расеяния (СИР) -- Оже-электронная спектрометрия (ОЭС) -- Вторично-электронная эмиссиометрия (ВЭЭ) -- Электронография -- Ультрафиолетовая спектрометрия (УФС) -- Микроскопия -- Оптическая микроскопия (ОМ) -- Растровая электронная микроскопия (РЭМ) -- Поверхностная нестехиометрия -- Сегрегационная эпитаксия -- Поверхностные фазы -- Анизотропные колебания -- Просвечивающая электронная микроскопия (ПЭМ) -- Высокоразрешающая растровая электронная микроскопия (ВРЭМ) -- Сканирующая зондовая микроскопия (СЗМ) -- Диффузия -- Диссоциация -- Возгонка -- Адсорбция -- СПАС -- Кристаллохимическая модель -- Простые оксиды -- Сложные оксиды -- Мультикомпонентные материалы -- Поверхностные наноструктуры -- Ориентированные наноструктуры -- Поверхностные сегрегационные явления -- Твердые тела - Поверхностные слои - Электронно-микроскопические исследования
Аннотация: В книге впервые систематизированы и проанализированы результаты исследований процессов поверхностной автосегрегации в твердых телах с акцентом на химические соединения как весьма перспективные, но мало изученные объекты, некоторая часть данных относится к твердым растворам и сплавам. Теоретическая ценность этих знаний состоит в создании модельных представлений о сложных поверхностных сегрегационных явлениях. Практическая значимость заключается в технологических рекомендациях по улучшению поверхностно-чувствительных характеристик функциональных мультикомпонентных материалов, оптимальной эксплуатации изделий из них, а также в создании материалов с поверхностными, в том числе ориентированными наноструктурами. Книга предназначена для широкого круга научных специалистов в области химии, физики и механики поверхности, физики и химии тонких пленок, материаловедения, в том числе космического, теории каталитических и адсорбционных процессов, геологии, а также инженеров, работающих над решением проблем микро- и наноэлектроники, сенсорной техники, эмиссионной электроники, гетерогенного катализа, металлургии, методов инструментального анализа тонких слоев. Книга будет полезной для студентов родственных специальностей. Монография также может представить интерес для работников смежной специализации, пытающихся разобраться в уникальном двумерном мире поверхностей.
Оглавление
Экземпляры всего: 2
ЦНБ-АБ (1), ИХХТ-АБ (1)
Свободны: ЦНБ-АБ (1), ИХХТ-АБ (1)