: Microanalyse et microscopie electronique a balayage : [cб. статей] : пер. с фр. / ред. Ф. Морис [и др.] ; пер. Г. Д. Стельмакова, под ред. И. Б. Боровского. - М. : Металлургия, 1985. - 408 с. - Загл. на доп.тит.листе. - Библиогр.: с. 392-403. - Предм.указ.:с.404-407. -
Пер. изд. : Microanalyse et microscopie electronique á balayage. - 5.10 р., 5.10 р.
Содержание: Электронная оптика Эмиссия электронов и контраст Детектирование и обработка электронных сигналов Взаимодействие электронов с веществом Эмиссия рентгеновских лучей Спектрометрия рентгеновского излучения Практический количественный анализ массивных образцов Применение статистических методов в микроанализе Примеры применения растрового электронного микроскопа Подготовка и анализ биологических образцов Подготовка и анализ геологических образцов, стекол и керамики Кристаллический контраст Косселя и Киккучи Применение электронной растровой спектроскопии к изучению полупроводников Рентгеновский микроанализ тонких образцов Применение в металлургии: фрактография Микроанализ по спектрам характеристических потерь энергии электронов Молекулярно-оптический лазерный микрозонд Применение лазерных зондов в эмиссионной спектрографии и масс-спектрометрии Ядерный микрозонд Анализ методом вторичной ионной эмиссии ББК Г461.311 + В371.215 + Г461.311-6я43
Держатели документа: Институт физики им. Л.В. Киренского СО РАН
Доп.точки доступа: Филибер, Ж.; Фонтен, Ж.; Викарио, Э.; Энок, Ж.; Морис, Ф.; Рюст, Ж.; Ансей, М.; Бастенер, Ф.; Тиксье, Р.; Мартожа, Р.; Баллан-Дюфрансе, С.; Руанель, Н.; Бизуар, Х.; Питаваль, М.; Бресс, Ж. Ф.; Дюпуи, М.; Мени, Л.; Колье, К.; Требья, П.; Барбилла, Ж.; Стефани, Р.; Энгельман, К.; Бланшар, Б.; Морис, Ф. \ред.\; Мени, Л. \ред.\; Тиксье, Р. \ред.\; Стельмакова, Г. Д. \пер.\; Боровский, И. Б. \ред. пер.\
Экземпляры всего: 2
ИФ-КФ (1), ИХХТ-АБ (1)
Свободны: ИФ-КФ (1), ИХХТ-АБ (1)