Сводный каталог книг

: Учеб. пособие для вузов / В. Миронов ; Рос. акад. наук, Ин-т физики микроструктур. - М. : Техносфера, 2004. - 143 с. : ил. ; 22 см. - (Мир физики и техники. II; 02). - Библиогр.: с. 140-143. - ISBN 5-94836-034-2 : 176.00 р.
Второй экз. 2005 г.и.

ГРНТИ

29.19.04

ББК В371.21я73 + В338.38я73


Держатели документа:
Институт физики им. Л.В. Киренского СО РАН

Доп.точки доступа:
Миронов, Виктор Леонидович \.\; Российская академия наукИнститут физики микроструктур РАН
Экземпляры всего: 2
ИФ-КФ (2)
Свободны: ИФ-КФ (2)

/ Р. Г. Маев. - М. : ТОРУС ПРЕСС, 2005. - 383 с. : ил. - Библиогр.: с. 326-379. - ISBN 5-94588-031-0 : 150.00 р., 150.00 р.
Предисл. и оглав. на англ. и рус. яз.

ГРНТИ	29.37.23	29.35.43
УДК	534.2:535^V3

ББК В321 + В341.9 + В328.256


Держатели документа:
Институт физики им. Л.В. Киренского СО РАН
ИВМ СО РАН : 660036, Красноярск, Академгородок, 50, стр.44
Экземпляры всего: 2
ИФ-КФ (1), ИВМ-Фонд (1)
Свободны: ИФ-КФ (1), ИВМ-Фонд (1)

/ Д. Синдо, Т.Оикава ; Пер. с англ. С.А. Иванова. - М. : Техносфера, 2006. - 253 с. : ил. - (Мир материалов и технологий). - Библиогр. в конце глав. - Пер. изд. : Analytical Electron Microscopy for Materials Science / D. Shindo, T. Oikawa. - ISBN 5-94836-064-4 : 168.00 р.

ГРНТИ

29.31.26

29.31.29

29.35.43

81.09.03

ББК В338.48 + Ж3-1с + В344


Держатели документа:
Институт физики им. Л.В. Киренского СО РАН

Доп.точки доступа:
Оикава, Тецуо; Shindo, D. Oikawa, T.
Экземпляры всего: 1
ИФ-КФ (1)
Свободны: ИФ-КФ (1)

. [Вып. 1] / Нац. исслед. ун-т «МИЭТ». - М. : Техносфера, 2005. - 443 с. : ил. - Библиогр. в конце глав. - ISBN 5-94836-059-8 : 210.00 р.

    Содержание:
Боргардт, Николай Иванович. Исследование наноразмерных областей методами просвечивающей электронной микроскопии / Н. И. Боргардт, В. Н. Кукин. - С .20-60
Мазуренко, Сергей Николаевич. Зондовая микроскопия углеродных нанотрубок / С. Н. Мазуренко, В. К. Неволин. - С .61-72
Гаврилов, Сергей Александрович. Наноструктуры и элементы наноэлектроники на базе метода локального зондового окисления / С. А. Гаврилов, В. М. Рощин, В. И. Шевяков. - С .73-98
Гаврилов, Сергей Александрович. Нелитографические методы формирования поверхностных периодических наноструктур / С. А. Гаврилов, М. Г. Путря, В. И. Шевяков. - С .99-134
Герасименко, Николай Николаевич. Самоорганизованные имплантированные наноразмерные структуры в полупроводниках / Н. Н. Герасименко. - С .135-171
Горбацевич, Александр Алексеевич. Полупроводниковые гетероструктуры и приборы на их основе / А. А. Горбацевич [и др.]. - С .172-242
Другие авторы: Налбандов Б. Г., Старосельский В. И., Шмелев С. С.
Неволин, Владимир Кириллович. Элементарная база наноэлектроники на основе зондовых нанотехнологий / В. К. Неволин, Ю. А. Чаплыгин. - С .243-285
Коркишко, Юрий Николаевич. Фотоника волноводных наноразмерных структур / Ю. Н. Коркишко, В. А. Федоров, С. М. Кострицкий. - С .286-322
Яковлев, Виктор Борисович. Нанокомпозиторы и нанокерамики как основа функциональной электроники / В. Б. Яковлев, В. М. Рощин. - С .323-360
Григорашвили, Юрий Евгеньевич. Высокотемпературные сверхпроводники в наноэлектронике / Ю. Е. Григорашвили. - С .361-380
Тимошенко, Сергей Петрович. Микро- и наноэлектромеханические системы / С. П. Тимошенко, Ю. А. Чаплыгин. - С .381-421
Селищев, Сергей Васильевич. Интеграция макро-, микро- и нанотехнологий миокарда / С. В. Селищев. - С .422-439

ГРНТИ

47.09.48

29.19.22

47.13.07

81.09.30

81.13.30

ББК З85


Держатели документа:
Институт физики им. Л.В. Киренского СО РАН

Доп.точки доступа:
Чаплыгин, Юрий Александрович \ред.\; Шмелев, С. С.; Национальный исследовательский университет «МИЭТ»
Экземпляры всего: 1
ИФ-КФ (1)
Свободны: ИФ-КФ (1)

/ Э. Р. Кларк, К. Н. Эберхардт ; пер. с англ. С. Л. Баженов ; Рос. акад. наук, Ин-т синтетич. полимер. материалов им. Н.С. Ениколопова. - М. : Техносфера, 2007. - 376 с. - (Мир материалов и технологий). - ISBN 978-5-94836-121-5 : 281.00 р., 225.58 р.

ГРНТИ	29.31.29	81.09	44/81
УДК	620.22:621.38^V3

ББК В338.4 + Ж3 + В341 + Ж3 + Ж3


Держатели документа:
Институт физики им. Л.В. Киренского СО РАН
ИВМ СО РАН : 660036, Красноярск, Академгородок, 50, стр.44

Доп.точки доступа:
Эберхардт, Колин Н.; Баженов, Сергей Леонидович \пер. с англ.\; Российская академия наук; Институт синтетических полимерных материалов им. Н.С. Ениколопова РАН
Экземпляры всего: 3
ИФ-КФ (1), ИВМ-Фонд (1), ИБФ-КФ (1)
Свободны: ИФ-КФ (1), ИВМ-Фонд (1), ИБФ-КФ (1)

/ О. В. Егорова. - 2-е изд., перераб. - М. : Техносфера, 2007. - 360 с. : ил. - (Мир материалов и технологий). - Библиогр. - ISBN 978-5-94836-129-1 : 252.45 р.

ГРНТИ

29.31.29

ББК В338.4


Держатели документа:
Институт физики им. Л.В. Киренского СО РАН
Экземпляры всего: 1
ИФ-КФ (1)
Свободны: ИФ-КФ (1)

/ В. М. Лукьянович ; ред. К. В. Чмутов ; Акад. наук СССР, Ин-т физ. химии. - М. : Изд-во АН СССР, 1960. - 273 с. : фото. - Библиогр. в конце глав. - 17.50 р., 1.75 р.

29.31.29

31.15.15

ББК В338.4 + Г512


Держатели документа:
Институт физики им. Л.В. Киренского СО РАН

Доп.точки доступа:
Чмутов, К. В. \ред.\; Академия наук СССРИнститут физической химии АН СССР
Экземпляры всего: 2
ИФ-КФ (2)
Свободны: ИФ-КФ (2)

: Учеб. пособ. / С.А. Рыков ; Федер. целевая прогр. "Гос. поддержка интеграции выс. обр. и фундам. науки". - СПб. : Наука, 2001. - 52 с. : ил. - (Новые разделы физики полупроводников). - Библиогр. - ISBN 5-02-024956-4 : 0.00

ГРНТИ

29.19.31

29.03.39

ББК В379 + В338.48


Держатели документа:
Институт физики им. Л.В. Киренского СО РАН

Доп.точки доступа:
Ильин, В. И. \ред.\; Шик, А. Я. \ред.\; "Государственная поддержка интеграции высшего образования и фундаментальной науки", Федеральная целевая программа
Экземпляры всего: 7
ИФ-КФ (7)
Свободны: ИФ-КФ (7)

/ B. Fultz, J. Howe. - 2nd. ed. - Berlin ; Heidelberg : Springer, 2005. - XXI ; 748 p. : il. - Bibliogr. at the end of the chapters. - ISBN 3-540-43754-9 : 2675.00 р.
Перевод заглавия: Просвечивающая электронная микроскопия и дифрактометрия материалов
   Перевод заглавия: Просвечивающая электронная микроскопия и дифрактометрия материалов

ГРНТИ

31.15.15

31.19

29.31.26

81.09.03

ББК Ж3-1 + Г46 + В338.48 + Г512


Держатели документа:
Институт физики им. Л.В. Киренского СО РАН

Доп.точки доступа:
Howe, James; Хау, Джеймс; Фульц, Брент
Экземпляры всего: 1
ИФ-КФ (1)
Свободны: ИФ-КФ (1)

: Учебное пособие / Н. П. Заказнов, С. И. Кирюшин, В. И. Кузичев. - СПб. ; М. ; Краснодар : Лань, 2008. - 448 с. : ил. - (Учебники для вузов. Специальная литература). - Библиогр.: с. 440-441 . - Предм. указ.: с.441-446. - Указ.имен: с.447 . - ISBN 978-5-8114-0822-1 : 466.00 р.
Назв. серии указ. на обор. тит. листа

ГРНТИ

29.03.31

29.31

ББК В341.2я73


Держатели документа:
Институт физики им. Л.В. Киренского СО РАН

Доп.точки доступа:
Кирюшин, С. И.; Кузичев, В. И.
Экземпляры всего: 1
ИФ-КФ (1)
Свободны: ИФ-КФ (1)

: учеб. пособие / М. М. Криштал [и др.]. - М. : Техносфера, 2009. - 206 с. - (Мир физики и техники). - Библиогр.: с. 55-56 (10 назв.). - 1500 экз. - ISBN 978-5-94836-200-7 : 330.31 р., 330.31 р.

ГРНТИ

29.35.43

31.19

31.19.03

ББК В338.38я73 + Ж3-1с5я73 + Г461.4я73 + В338.48я73


Держатели документа:
Институт физики им. Л.В. Киренского СО РАН

Доп.точки доступа:
Криштал, Михаил Михайлович; Ясников, Игорь Станиславович; Полунин, Виктор Иванович; Филатов, Анатолий Михайлович; Ульяненков, Александр Георгиевич
Экземпляры всего: 2
ИФ-КФ (1), ИХХТ-АБ (1)
Свободны: ИФ-КФ (1), ИХХТ-АБ (1)

/ В. Г. Фекличев ; отв.ред. Д. П. Сердюченко ; Акад. наук СССР, Ин-т минералогии, геохимии и кристаллохимии ред. элем. - М. : Наука, 1970. - 177 с. : ил., табл. - Библиогр. - 1000 экз. - 1.90 р.
Продолж. книги "Микрокристалломорфологический анализ" (1966)

ГРНТИ

31.15.17

38.35.17

ББК Д33в672 + Г522


Держатели документа:
Институт физики им. Л.В. Киренского СО РАН

Доп.точки доступа:
Сердюченко, Д. П. \отв.ред.\; Академия наук СССРИнститут минералогии, геохимии и кристаллохимии редких элементов АН СССР
Экземпляры всего: 1
ИФ-КФ (1)
Свободны: ИФ-КФ (1)

: в 2 кн. / Дж. Гоулдстейн [и др.] ; пер. c англ. Р. С. Гвоздовер и Л. Ф. Комоловой под ред. В. И. Петрова. - М. : Мир, 1984 - . - 1984. - 303 с. : ил. - Загл. парал. англ. - 3.00 р.

ГРНТИ

29.35.43

ББК В338.48 + В344.1-141 + Г461.4-6


Держатели документа:
Институт физики им. Л.В. Киренского СО РАН

Доп.точки доступа:
Гоулдстейн, Д.; Ньюбери, Д.; Эчлин, П.; Джой, Д.; Фиори, Ч.; Лившин, Э.; Гвоздовер, Р. С. \пер.\; Комолова, Л. Ф. \пер.\; Петров, В. И. \ред.\
Экземпляры всего: 1
ИФ-КФ (1)
Свободны: ИФ-КФ (1)

: в 2 кн. / Дж. Гоулдстейн [и др.] ; пер. с англ. Р. С. Гвоздовер и Л. Ф. Комоловой под ред. В. И. Петрова. - М. : Мир, 1984. - 1984. - 348 с. : ил. - Библиогр.: с. 318-341. - Предм. указ.: с. 342-346. - 3.10 р.

ГРНТИ

29.35.43

ББК В338.48 + В344.1-141 + Г461.4-6


Держатели документа:
Институт физики им. Л.В. Киренского СО РАН

Доп.точки доступа:
Гоулдстейн, Дж.; Ньюбери, Д.; Эчлин, П.; Джой, Д.; Фиори, Ч.; Лившин, Э.; Гвоздовер, Р. С. \пер.\; Комолова, Л. Ф. \пер.\; Петров, В. И. \ред.\
Экземпляры всего: 1
ИФ-КФ (1)
Свободны: ИФ-КФ (1)

/ D. L. Dorset. - New York ; London : [s. n.], 1995. - 452 p. : ill. ; 25 cm. - References - Index. - ISBN 978-0-306-45049-5 : 330.00 р.
Перевод заглавия: Структурная электронная кристаллография
   Перевод заглавия: Структурная электронная кристаллография

ГРНТИ

31.15.17

29.19.04

ББК В371.2 + Г522


Держатели документа:
Институт физики им. Л.В. Киренского СО РАН
Экземпляры всего: 1
ИФ-КФ (1)
Свободны: ИФ-КФ (1)

: пер. с англ. / Г. Томас, М. Д. Гориндж ; ред. пер. Б. К. Вайнштейн. - М. : Наука, 1983. - 317 с. : ил. - Библиогр.: с. 310-317. - Пер. изд. : Transmission electron microscopy of materials / Gareth Tomas, Michael J. Goringe. - 2850 экз. - 3.90 р.

ГРНТИ

29.35.43

31.19

ББК В338.48 + В338.38 + Ж3-1с5


Держатели документа:
Институт физики им. Л.В. Киренского СО РАН

Доп.точки доступа:
Гориндж, Майкл Д.; Вайнштейн, Борис Константинович \ред. пер.\; Tomas, Gareth; Goringe, Michael J.
Экземпляры всего: 1
ИФ-КФ (1)
Свободны: ИФ-КФ (1)

: сб. статей [опубликован. в 1988 г. в журн. "Physics Today" и "La Recherche"]. Свойства жидкого и твердого гелия. Сверхпроводимость и магнетизм. Туннельная микроскопия. Транзисторы на полупроводниковых соединениях. Новости физики / пер. с англ. и фр. под ред. : А. С. Боровика-Романова, Р. З. Сагдеева. - М. : Мир, 1988. - 216 с. : ил. - (Серия А. Исследования). - Библиогр. в конце ст. - 10000 экз. - ISBN 5-03-001096-3 : 1.00 р.

ГРНТИ

29.01.11

ББК В3я43


Держатели документа:
Институт физики им. Л.В. Киренского СО РАН

Доп.точки доступа:
Боровик-Романов, Андрей Станиславович \ред. пер.\; Сагдеев, Роальд Зиннурович \ред. пер.\
Экземпляры всего: 1
ИФ-КФ (1)
Свободны: ИФ-КФ (1)

: [альбом научных фотографий] / Е. А. Гудилин и др.; ред. Ю. Д. Третьяков. - М. : Бином. Лаб. знаний, 2009. - 171 с. : ил., цв. ил. - (Нанотехнология). - ISBN 978-5-9963-0108-9 : 356.00 р., 356.00 р.
Авт. указаны на обороте тит. л.

ГРНТИ	29.19.22	81.09	81.13
УДК	620.22-022.53^V3

ББК Ж360.4я61 + В371.1я61 + В338.48я61 + Ж364я61 + Ж6я61


Держатели документа:
Институт физики им. Л.В. Киренского СО РАН
Центральная научная библиотека КНЦ СО РАН : 660036, г. Красноярск, Академгородок, 50

Доп.точки доступа:
Гудилин, Е. А.; Третьяков, Юрий Дмитриевич \ред.\
Экземпляры всего: 2
ИФ-КФ (1), ЦНБ-АБ (1)
Свободны: ИФ-КФ (1), ЦНБ-АБ (1)

: пер. с нем. / Г. Шиммель ; пер.: А. М. Розенфельд, Н. М. Спасский ; ред. пер. В. Н. Рожанский. - М. : Мир, 1972. - 300 с. : ил. - Библиогр.: с. 285-292. - Указ. авт. и предм.: с. 293-297. - Пер. изд. : Elektronenmikroskopische methodik / G. Von Schimmel. - 1.62 р.

ГРНТИ

31.19

29.35.43

ББК В338.48 + Ж3-1


Держатели документа:
Институт физики им. Л.В. Киренского СО РАН

Доп.точки доступа:
Розенфельд, А. М. \пер.\; Спасский, Н. М. \пер.\; Рожанский, В. Н. \ред. пер.\; Schimmel, G. Von
Экземпляры всего: 2
ИФ-КФ (2)
Свободны: ИФ-КФ (2)

: пер с англ. / К. Эндрюс, Д. Дайсон, С. Киоун ; пер. М. П. Усиков ; ред. пер. Л. Г. Орлов. - М. : мир, 1971. - 256 с. : ил. + 3 л. ил. - Библиогр.: с. 251-252 (58 назв.). - Предм. указ.: с. 253-256. - Пер. изд. : Interpretation of electron diffraction paterrns / K. W. Andrews, D. J. Dyson, S. R. Keown. - 2.00 р.

ГРНТИ

29.31.29

ББК В338.4 + К204.011


Держатели документа:
Институт физики им. Л.В. Киренского СО РАН

Доп.точки доступа:
Дайсон, Д.; Киоун, С.; Усиков, М. П. \пер.\; Орлов, Л. Г. \ред. пер.\; Andrews, K. W.; Dyson, D. J.; Keown, S. R.
Экземпляры всего: 1
ИФ-КФ (1)
Свободны: ИФ-КФ (1)