Сводный каталог книг

/ Междунар. конф. по акт. пробл. физики, материаловед., технологии и диагностики кремния, нанометр. структур и приборов на его основе, Рос. акад. наук, Ин-т физики микроструктур, Ин-т химии высокочист. веществ, Ин-т проблем технол. микроэлектроники и особочистых мат. РАН, Науч. совет по физ.-хим. основам материаловед. полупровод., Науч. совет по физ. полупров., Нижегор. гос. ун-т им. Н.И. Лобачевского, Моск. ин-т стали и сплавов ; ред.: З. Ф. Красильник, Д. А. Павлов. - Нижний Новгород : Изд-во Нижегор. ун-та, 2010. - 275 с. + 26 см. - Библиогр. в конце ст. - Список докладчиков. - 350 экз. - ISBN 978-5-91326-1 58-8 : Б. ц.
    Содержание:
Шепов, Владимир Николаевич. / В. Н. Шепов

ГРНТИ

31.17

61.31.47

29.19.22

29.19.04

29.19.31

47.09.29

ББК В371я431 + З843.222.4я431 + Л253.2я431

Аннотация: Ежегодный форум, проводимый в России и странах СНГ с 1999 г. Учёные, представляющие академическое сообщество, вузы и промышленность, обсуждают широкий спектр проблем кремния и родственных ему материалов.

Держатели документа:
Институт физики им. Л.В. Киренского СО РАН

Доп.точки доступа:
Красильник, З. Ф. \ред.\; Павлов, Д. А. \ред.\; Российская академия наук; Институт физики микроструктур РАНИнститут химии высокочистых веществ РАН; Институт проблем технологии микроэлектроники и особочистых материалов РАН; Научный совет по физико-химическим основам материаловедения полупроводников РАН; Научный совет по физике полупроводников РАН; Нижегородский государственный университет им. Н.И. Лобачевского; Московский институт стали и сплавов
Экземпляры всего: 1
ИФ-КФ (1)
Свободны: ИФ-КФ (1)