Главная/ Электронный каталог

Сводный каталог книг

w10=
Найдено документов в текущей БД: 3
   В37
   Ж70
В37 / Ж70-ИХХТ-АБ
    Оптические колебательные спектры кристаллов
Жижин, Герман Николаевич.
/ Г. Н. Жижин, Б. Н. Маврин, В. Ф. Шабанов ; ред. Г. Н. Жижин. - М. : Наука, Гл. ред. физ.-мат. лит., 1984. - 232 с. - (Физика и техника спектроскопии). - Библиогр.: с. 224-232 (107 назв.). - 2250 экз. - 2.90 р., 2.90 р.
ГРНТИ
29.31.21
29.19.04
29.19.07
ББК В374.72 + В371.23 + В374.73


Держатели документа:
Институт физики им. Л.В. Киренского СО РАН

Доп.точки доступа:
Маврин, Борис Николаевич; Шабанов, Василий Филиппович; Shabanov, V. F.; Жижин, Герман Николаевич \ред.\
Экземпляры всего: 5
ИФ-КФ (3), ИФ-РСФ (1), ИХХТ-АБ (1)
Свободны: ИФ-КФ (2), ИФ-РСФ (1), ИХХТ-АБ (1)
Найти похожие
   В37
   М 42
    Метод Вороного-Делоне в исследовании структуры некристаллических систем
Медведев, Николай Николаевич.
/ Н.Н.Медведев ; Рос. акад. наук, Сиб. отд-ние, Рос. фонд фундаментал. исслед., Ин-т химической кинетики и горения. - Новосибирск : Изд-во СО РАН НИЦ ОИГГМ, 2000. - 213 с. : ил. - Библиогр.: с.194-209. - 350 экз. - Б. ц.
ГРНТИ
29.19.03
ББК В371.2 + В151 + Г562


http://www.kinetics.nsc.ru/sms/ru/?%CF%F3%E1%EB%E8%EA%E0%F6%E8%E8:%CA%ED%E8%E3%E0._%CD.%CD.%CC%E5%E4%E2%E5%E4%E5%E2

Держатели документа:
Институт физики им. Л.В. Киренского СО РАН

Доп.точки доступа:
Российская академия наук; Сибирское отделение РАН; Российский фонд фундаментальных исследований; Институт химической кинетики и горения Сибирского отделения АН СССР
Экземпляры всего: 1
ИФ-КФ (1)
Свободны: ИФ-КФ (1)
Найти похожие
   В37
   В 55
    Современные методы исследования структуры деформированных кристаллов
Вишняков, Яков Дмитриевич.
/ Я. Д. Вишняков. - М. : Металлургия, 1975. - 479 с. : рис., схем., табл. - Библиогр.: с. 465-475 . - Предм. указ.: с. 476-479. - 2.70 р.
    Содержание:
Исследование кристаллических поверхностей после пластической деформации и разрушения
Электронная микроскопия на просвет тонких металлических пленок, приготовленных из массивных образцов
Новейшие методы, позволяющие исследовать изменения структуры кристаллов при деформации на атомарном уровне
Применение рентгеновских и нейтронографических дифракционных методов для исследования структуры деформированных кристаллов
Возможности теоретического вычисления и экспериментального определения энергии дефектов упаковки косвенными методами
Успехи современных методов исследования структуры деформированных кристаллов
ГРНТИ
29.19.04
ББК В371.21 + В372 + К204.01


Держатели документа:
Институт физики им. Л.В. Киренского СО РАН
Экземпляры всего: 2
ИФ-КФ (2)
Свободны: ИФ-КФ (2)
Найти похожие