Сводный каталог книг

: Scanning probe microscopy approach / Ed.: M. Alexe, A. Gruverman. - Berlin : Springer, 2004. - XIII, 282 p. : il. - (Nanoscience and technology, ISSN 1434-4904). - Bibliogr. at the end of chapters. - Ind.: p. 279-282. - ISBN 3-540-20662-0 : 240.00 р.
Перевод заглавия: Наномасштабная характеристика ферроэлектрических материалов
   Перевод заглавия: Наномасштабная характеристика ферроэлектрических материалов

ГРНТИ

47.09

29.19.33

ББК З85 + В379.333.7


Держатели документа:
Институт физики им. Л.В. Киренского СО РАН

Доп.точки доступа:
Alexe, M. \ed.:.\; Gruverman, A.
Экземпляры всего: 1
ИФ-КФ (1)
Свободны: ИФ-КФ (1)