Сводный каталог книг

w10=
Найдено документов в текущей БД: 1
   В33
   К 47
Ж3 / К 47-ИВМ-Фонд
Ж3 / К 47-ИБФ-КФ

    Микроскопические методы исследования материалов
/ Э. Р. Кларк, К. Н. Эберхардт ; пер. с англ. С. Л. Баженов ; Рос. акад. наук, Ин-т синтетич. полимер. материалов им. Н.С. Ениколопова. - М. : Техносфера, 2007. - 376 с. - (Мир материалов и технологий). - ISBN 978-5-94836-121-5 : 281.00 р., 225.58 р.
ГРНТИ
УДК
ББК В338.4 + Ж3 + В341 + Ж3 + Ж3


Держатели документа:
Институт физики им. Л.В. Киренского СО РАН
ИВМ СО РАН : 660036, Красноярск, Академгородок, 50, стр.44

Доп.точки доступа:
Эберхардт, Колин Н.; Баженов, Сергей Леонидович \пер. с англ.\; Российская академия наук; Институт синтетических полимерных материалов им. Н.С. Ениколопова РАН
Экземпляры всего: 3
ИФ-КФ (1), ИВМ-Фонд (1), ИБФ-КФ (1)
Свободны: ИФ-КФ (1), ИВМ-Фонд (1), ИБФ-КФ (1)