Сводный каталог книг

: Пер. с англ.И.Л.Шульпиной / Д.К. Боуэн, Б.К. Таннер; Отв.ред.Шульпина И.Л. - СПб. : Наука, 2002. - 274 с. : ил. - Библиогр.: с. 269-270.Пред.ук.с271-274. - Пер. изд. : High Resolution X-Ray Difractometry and Topography. - London, 1998. - 700 экз. - ISBN 5-02-024963-7 : 158.50 р., 2.70 р.

29.19.04

47.29.39

47.09

ББК В371.23 + В361 + З 843-1в738


Держатели документа:
Институт физики им. Л.В. Киренского СО РАН

Доп.точки доступа:
Таннер, Б. К.; Шульпина, И. Л. \ред.\
Экземпляры всего: 3
ИФ-КФ (2), ИХХТ-АБ (1)
Свободны: ИФ-КФ (2), ИХХТ-АБ (1)

/ Д. М. Хейкер, Л. С. Зевин ; под ред. Г. С. Жданова. - М. : Физматгиз, 1963. - 380 с. : ил. - (Физико-математическая б-ка инженера). - Библиогр.: с. 370-380. - 8000 экз. - 1.10 р.
    Содержание:
Устройство и работа дифрактометра
Особенности измерения интенсивности и геометрии дифракционной картины в дифрактометрах
Фазовый анализ
Прециозные измерения параметров элементарной ячейки
Исследование текстуры прокатанных материалов
Исследование монокристаллов на дифрактометрах

29.19.04

47.29.39

ББК В371.23 + В361


Держатели документа:
Институт физики им. Л.В. Киренского СО РАН

Доп.точки доступа:
Зевин, Лев Саулович; Жданов, Г. С. \ред.\
Экземпляры всего: 1
ИФ-КФ (1)
Свободны: ИФ-КФ (1)