Сводный каталог книг

: учеб. пособие : пер с англ. / Д. Брандон, У. Каплан. - М. : Техносфера, 2006. - 377 с. - (Мир материалов и технологий). - Библиогр. в конце глав. - Предм. указ. - Пер. изд. : Microstructural characterization of materials / David G. Brandon, Wayne D. Kaplan. - Chichester; New York , 1999. - 2000 экз. - ISBN 5-94836-018-0 : 145.00 р.
    Содержание:
Дифракционный анализ кристаллической структуры
Оптическая микроскопия
Электронная микроскопия
Микроанализ в электронной микроскопии
Химический анализ поверхности
Количественный анализ микроструктуры

ГРНТИ

81.09.03

29.19.22

ББК Ж306в672я73


Держатели документа:
Институт физики им. Л.В. Киренского СО РАН

Доп.точки доступа:
Каплан, У.; Баженов, Сергей Леонидович \ред. пер.\; Brandon, David G.; Kaplan, Wayne D.
Экземпляры всего: 1
ИФ-КФ (1)
Свободны: ИФ-КФ (1)