| ГРНТИ |
Держатели документа:
Институт физики им. Л.В. Киренского СО РАН
ИХХТ СО РАН
Доп.точки доступа:
Каплан, У.
Экземпляры всего: 2
ИФ-КФ (1), ИХХТ-АБ (1)
Свободны: ИФ-КФ (1), ИХХТ-АБ (1)
Сводный каталог книг
w10=
Найдено документов в текущей БД: 1
Ж30
Б87
Б87
Микроструктура материалов. Методы исследования и контроля
: учебное пособие / Д. Брандон, У. Каплан ; Пер. с англ. под ред. С.Л. Баженова, с доп. О.В. Егоровой. Рек. Ин-том хим. физики РАН в качестве учеб. пособия для вузов. - М. : Техносфера, 2004. - 377 с. - (Мир материалов и технологий). - Предм. указ.: с. 376-377. - Пер. изд. : . - ISBN 5-94836-018-0 : 188.10 р.
ББК Ж306я73
Держатели документа:
Институт физики им. Л.В. Киренского СО РАН
ИХХТ СО РАН
Доп.точки доступа:
Каплан, У.
Экземпляры всего: 2
ИФ-КФ (1), ИХХТ-АБ (1)
Свободны: ИФ-КФ (1), ИХХТ-АБ (1)
Держатели документа:
Институт физики им. Л.В. Киренского СО РАН
ИХХТ СО РАН
Доп.точки доступа:
Каплан, У.
Экземпляры всего: 2
ИФ-КФ (1), ИХХТ-АБ (1)
Свободны: ИФ-КФ (1), ИХХТ-АБ (1)