Держатели документа:
Институт физики им. Л.В. Киренского СО РАН
Доп.точки доступа:
Чмутов, К. В. \ред.\; Академия наук СССРИнститут физической химии АН СССР
Экземпляры всего: 2
ИФ-КФ (2)
Свободны: ИФ-КФ (2)
Сводный каталог книг
w10=
Найдено документов в текущей БД: 5
В33
Л 84
Л 84
Электронная микроскопия в физико-химических исследованиях. Методика и применение
/ В. М. Лукьянович ; ред. К. В. Чмутов ; Акад. наук СССР, Ин-т физ. химии. - М. : Изд-во АН СССР, 1960. - 273 с. : фото. - Библиогр. в конце глав. - 17.50 р., 1.75 р.
ББК В338.4 + Г512
Держатели документа:
Институт физики им. Л.В. Киренского СО РАН
Доп.точки доступа:
Чмутов, К. В. \ред.\; Академия наук СССРИнститут физической химии АН СССР
Экземпляры всего: 2
ИФ-КФ (2)
Свободны: ИФ-КФ (2)
Держатели документа:
Институт физики им. Л.В. Киренского СО РАН
Доп.точки доступа:
Чмутов, К. В. \ред.\; Академия наук СССРИнститут физической химии АН СССР
Экземпляры всего: 2
ИФ-КФ (2)
Свободны: ИФ-КФ (2)
В33
Ш 61
Ш 61
Методика электронной микроскопии
: пер. с нем. / Г. Шиммель ; пер.: А. М. Розенфельд, Н. М. Спасский ; ред. пер. В. Н. Рожанский. - М. : Мир, 1972. - 300 с. : ил. - Библиогр.: с. 285-292. - Указ. авт. и предм.: с. 293-297. - Пер. изд. : Elektronenmikroskopische methodik / G. Von Schimmel. - 1.62 р.
ББК В338.48 + Ж3-1
Держатели документа:
Институт физики им. Л.В. Киренского СО РАН
Доп.точки доступа:
Розенфельд, А. М. \пер.\; Спасский, Н. М. \пер.\; Рожанский, В. Н. \ред. пер.\; Schimmel, G. Von
Экземпляры всего: 2
ИФ-КФ (2)
Свободны: ИФ-КФ (2)
| ГРНТИ |
Держатели документа:
Институт физики им. Л.В. Киренского СО РАН
Доп.точки доступа:
Розенфельд, А. М. \пер.\; Спасский, Н. М. \пер.\; Рожанский, В. Н. \ред. пер.\; Schimmel, G. Von
Экземпляры всего: 2
ИФ-КФ (2)
Свободны: ИФ-КФ (2)
В33
Э 45
Э 45
Электронная микроскопия
/ ред. А. А. Лебедев. - М. : Гостехиздат, 1954. - 636 с. - Библиогр. - 6000 экз. - 2.20 р.
ББК В338.48
Держатели документа:
Институт физики им. Л.В. Киренского СО РАН
Доп.точки доступа:
Лебедев, А. А. \ред.\
Экземпляры всего: 2
ИФ-КФ (1), ИФ-Музей (1)
Свободны: ИФ-КФ (1), ИФ-Музей (1)
| ГРНТИ |
Держатели документа:
Институт физики им. Л.В. Киренского СО РАН
Доп.точки доступа:
Лебедев, А. А. \ред.\
Экземпляры всего: 2
ИФ-КФ (1), ИФ-Музей (1)
Свободны: ИФ-КФ (1), ИФ-Музей (1)
В33
Т 38
Т 38
Техника электронной микроскопии
: пер. с англ. / ред. Д. Кэй ; пер.: С. Б. Стефанов, А. П. Захаров ; ред. пер. В. М. Лукьянович. - М. : Мир, 1965. - 406 с. - Библиогр. в конце глав. - Предм. указ. - Пер. изд. : Techniques for electron microscopy / ed. Desmond Kay. - Oxford, 1961. - 1.80 р.
ББК В338.48
Держатели документа:
Институт физики им. Л.В. Киренского СО РАН
Доп.точки доступа:
Кэй, Д. \ред.\; Стефанов, С. Б. \пер.\; Захаров, А. П. \пер.\; Лукьянович, В. М. \ред. пер.\; Kay Desmond, ed.
Экземпляры всего: 1
ИФ-КФ (1)
Свободны: ИФ-КФ (1)
| ГРНТИ |
Держатели документа:
Институт физики им. Л.В. Киренского СО РАН
Доп.точки доступа:
Кэй, Д. \ред.\; Стефанов, С. Б. \пер.\; Захаров, А. П. \пер.\; Лукьянович, В. М. \ред. пер.\; Kay Desmond, ed.
Экземпляры всего: 1
ИФ-КФ (1)
Свободны: ИФ-КФ (1)
В33
М 98
М 98
Автоионная микроскопия (принципы и применение)
/ Э. Мюллер, Т. Цонь ; пер. с англ. В. А. Алексеева [и др.], под ред. Л. П. Потапова. - М. : Металлургия, 1972. - 360 с. : ил. - Библиогр.: с. 354-360. - Библиогр. в конце глав. - Пер. изд. : Field ion microscopy. Principles and applications / E. W. Müller, T. T. Tsong. - New York, 1969. - (в пер.) : 2.54 р.
ББК В338.48
Держатели документа:
Институт физики им. Л.В. Киренского СО РАН
Доп.точки доступа:
Цонь, Т.; Алексеев, В. А. \пер.\; Ширяев, П. П. \пер.\; Потапов, Л. П. \пер.\; Потапов, Л. П. \ред.\; Müller, E. W.; Tsong, T. T.
Экземпляры всего: 1
ИФ-КФ (1)
Свободны: ИФ-КФ (1)
| ГРНТИ |
Держатели документа:
Институт физики им. Л.В. Киренского СО РАН
Доп.точки доступа:
Цонь, Т.; Алексеев, В. А. \пер.\; Ширяев, П. П. \пер.\; Потапов, Л. П. \пер.\; Потапов, Л. П. \ред.\; Müller, E. W.; Tsong, T. T.
Экземпляры всего: 1
ИФ-КФ (1)
Свободны: ИФ-КФ (1)