: Таллин, 16-18 окт. 1979 г. : тезисы докл. Т. 1. Физика / Акад. наук СССР, Науч. совет по электрон. микроскопии, Ин-т кристаллографии АН СССР, Акад. наук ЭССР, Эстон. респ. об-ние "Эстколхозстрой", СКТБ "Дезинтегратор" ; ред. В. Н. Баранов [и др.]. - М. : Наука, 1979. - 336 с. - Библиогр. в конце ст. - Авт. указ.: с. 324-334. - 900 экз. - 1.40 р.
Содержание: Электронная оптика и приборостроение Микродифракция и структурный анализ в электронной микроскопии Методы электронно-зондовых исследований Тонкие пленки, поверхностные свойства и кристаллизация Дифракционный контраст Металлы и сплавы Минералы Полимеры, коллоидные сисетмы, аэрозоли ББК В338я431 + В371.215я431
Держатели документа: Институт физики им. Л.В. Киренского СО РАН
Доп.точки доступа: Баранов, В. Н. \ред.\; Смирнова, Р. С. \ред.\; Стельмащук, В. Я. \ред.\; Орлова, Е. В. \ред.\; Академия наук СССР; Научный совет по электронной микроскопии АН СССР; Институт кристаллографии АН СССР; Академия наук Эстонской ССР"Эстколхозстрой", эстонское республиканское объединение; "Дезинтегратор", специальное конструкторско-технологическое бюро
Экземпляры всего: 1
ИФ-КФ (1)
Свободны: ИФ-КФ (1)