Перевод заглавия: Исследования по надежности материалов для микроэлектроники
Содержание:
Opening plenary papers
Advanced detection with high-level radiation
Economical and legal aspects
Advanced detection of chemical and explosives
Human factors in security
Autonomous vehicles
Signal and image processing
Communication and networks
Advanced system concepts
Перевод заглавия: Исследования по надежности материалов для микроэлектроники
ГРНТИ |
Рубрики:
Электроника--Материалы--Технология--Сборники
Микроэлектроника--Материалы--Надежность--Сборники
Электроника--Материалы--Технология--Сборники
Микроэлектроника--Материалы--Надежность--Сборники
Держатели документа:
Институт физики им. Л.В. Киренского СО РАН
Доп.точки доступа:
Winkler, Thomas \ed.\; Werner, Matthias \ed.\; Micro Materials Center Berlin (MMCB)
Экземпляры всего: 1
ИФ-КФ (1)
Свободны: ИФ-КФ (1)