: пер. с англ. : в 3-х т. / Моск. гос. ин-т электрон. техники; ред.: Б. Бхушан, А. Н. Сауров ; ред. пер. А. Н. Сауров. - М. : Техносфера, 2010. - 3000 экз. - ISBN 978-5-94836-261-8. - 1039 с. + 24 см. - Библиогр.в конце разд. и гл. -
Пер. изд. : Springer handbook of nanotechnology / Bhushan B., ed. - 2nd ed. - Berlin, 2007. -
ISBN 978-5-94836-263-2 : 1600.00 р.
Содержание: Сканирующая зондовая микроскопия Бесконтактная атомная силовая микроскопия Нанотрибология, наномеханика и определение характеристик материалов Поверхностные силы и нанореология молекулярно-тонких пленок Исследования ограниченных поверхностями жидкостей Использование сканирующих устройств для исследования наномасштабной адгезии между твердыми телами в присутствии жидкостей и монослойных пленок Трение и износ Наномасштабные механические свойства - измерение и применение Наномеханические свойства поверхностей твердых тел и тонких пленок [Биологическая нанотехнология] ББК Ж6я22 + В371.25я22
Держатели документа: Институт физики им. Л.В. Киренского СО РАН
Доп.точки доступа: Бхушан, Б. \ред.\; Сауров, А.Н. \ред. пер.\; Московский государственный институт электронной техники. НПК "Технологический центр"
Экземпляры всего: 1
ИФ-ЧЗ (1)
Свободны: ИФ-ЧЗ (1)