/ Д. Вудраф, Т. Делчар ; пер. с англ. Е. Ф. Шека, под ред. В. И. Раховского. - М. : Мир, 1989. - 568 с. : рис., фото. - Библиогр.: с. 542 - 555. - Указ. имен, хим. соед., предм.: с. 559 - 561. - Пер. изд. : Modern Techniques of Surface Science / D. P. Woodruff, T. A. Delchar. - ISBN 5-03-001129-3 : 4.90 р., 4.90 р.
Содержание:
Кристаллография поверхности и дифракция электронов
Методы электронной спектроскопии
Методы ионной спектроскопии
Десорбционная спектроскопия
ПОлевые методы
Методы измерения работы выхода
Рассеяние молекулярных и атомных пучков
Методы колебательной спектроскопии

ГРНТИ	29.19.16
УДК	УДК 535.33%ББК 22.37

ББК В371.25

Рубрики:
Поверхность--Исследование--Методы
Кл.слова (ненормированные):
физические основы%методы исследования%дифракция %спектроскопия

Аннотация: В книге английских ученых излагаются физические основы более двадцати современных методов исследования поверхности (дифракция медленных электронов, ионная и электронная спектроскопия и т.д.). Дается сравнение и сопоставление методов друг с другом в зависимости от исследуемой проблемы физики поверхности. Для студентов и аспирантов физических, химических и материаловедческих специальностей, а также для широкого круга исследователей в области физики поверхности.

Держатели документа:
Институт физики им. Л.В. Киренского СО РАН
ИВМ СО РАН : 660036, Красноярск, Академгородок, 50, стр.44

Доп.точки доступа:
Делчар, Т.; Delchar T. A.; Шека, Е. Ф. \пер.\; Раховский, В. И. \ред. пер.\; Woodruff D. P.; Woodruff, D. P.; Delchar, T. A.
Экземпляры всего: 2
ИФ-КФ (1), ИВМ-Фонд (1)
Свободны: ИФ-КФ (1), ИВМ-Фонд (1)

Найти похожие