ГРНТИ | ||
УДК |
Рубрики:
Радиоэлектроника--Наноэлектроника--Измерения--Сборники
Кл.слова (ненормированные):
Растровые электронные микроскопы -- Растровые атомно-силовые микроскопы
Радиоэлектроника--Наноэлектроника--Измерения--Сборники
Кл.слова (ненормированные):
Растровые электронные микроскопы -- Растровые атомно-силовые микроскопы
Труды ИОФАН,
том 62
Держатели документа:
Институт физики им. Л.В. Киренского СО РАН
Доп.точки доступа:
Новиков, Ю. А. \ред.\; Российская академия наукИнститут общей физики им. А.М. Прохорова РАН
Экземпляры всего: 2
ИФ-КФ (1), ЦНБ-АБ (1)
Свободны: ИФ-КФ (1), ЦНБ-АБ (1)