Сводный каталог книг

w10=
Найдено документов в текущей БД: 2
   В37
   Г68

    Рентгенографический и электронографический анализ
: практ. руководство по рентгенографии, электронографии и электронной микроскопии металлов, полупроводников и диэлектриков [учеб. пособие для студентов вузов] / С.С. Горелик , Л.Н. Расторгуев, Ю.А. Скаков. - Изд. 2-е, испр. и доп. - М. : Металлургия, 1970. - 352 с. : ил + 8 л. атлас. - Библиогр. - 1.92 р.
ГРНТИ
ББК К206.331я73 + Ж.с38я73 + В379.2я73


Держатели документа:
Институт физики им. Л.В. Киренского СО РАН

Доп.точки доступа:
Скаков, Юрий Александрович; Расторгуев, Леонид Николаевич
Экземпляры всего: 1
ИФ-КФ (1)
Свободны: ИФ-КФ (1)
   В33
   С 42
Г461 / С 42-ИХХТ-АБ

    Сканирующая электронная микроскопия и рентгеноспектральный микроанализ в примерах практического применения
: учеб. пособие / М. М. Криштал [и др.]. - М. : Техносфера, 2009. - 206 с. - (Мир физики и техники). - Библиогр.: с. 55-56 (10 назв.). - 1500 экз. - ISBN 978-5-94836-200-7 : 330.31 р., 330.31 р.
ГРНТИ
ББК В338.38я73 + Ж3-1с5я73 + Г461.4я73 + В338.48я73


Держатели документа:
Институт физики им. Л.В. Киренского СО РАН

Доп.точки доступа:
Криштал, Михаил Михайлович; Ясников, Игорь Станиславович; Полунин, Виктор Иванович; Филатов, Анатолий Михайлович; Ульяненков, Александр Георгиевич
Экземпляры всего: 2
ИФ-КФ (1), ИХХТ-АБ (1)
Свободны: ИФ-КФ (1), ИХХТ-АБ (1)