Сводный каталог книг

w10=
Найдено документов в текущей БД: 1
   В37
   Ф 37
В34 / Ф 37-ИХХТ-АБ
В34 / Ф 37-ИХХТ-АБ

    Основы анализа поверхности и тонких пленок
/ Л. Фелдман, Д. Майер ; пер. с англ. В. А. Аркадьева, Л. И. Огнева, под ред. В. В. Белошицкого. - М. : Мир, 1989. - 342 с. : ил. - Предм. указ.: с. 333-336. - Библиогр. в конце глав. - Пер. изд. : Fundomentals of surface and thin film analysis / L. C. Feldman, J. W. Mayer. - ISBN 5-03-001017-3 : 3.70 р., 3.70 р.
ГРНТИ
УДК
ББК В371.26 + В344


Держатели документа:
Институт физики им. Л.В. Киренского СО РАН

Доп.точки доступа:
Майер, Джеймс; Аркадьев, В. А. \пер.\; Огнев, Л. И. \пер.\; Белошицкий, В. В. \ред. пер.\; Feldman, L. C.; Mayer, J. W.
Экземпляры всего: 3
ИФ-КФ (1), ИХХТ-АБ (2)
Свободны: ИФ-КФ (1), ИХХТ-АБ (2)