Сводный каталог книг

: методы и применение / [Р. Андерхальт, П. Анзалоне, П. Р. Апкариан и др.] ; под ред. У. Жу, Ж. Л. Уанга ; перевод с англ. С. А. Иванова, К. И. Домкина ; под ред. Т. П. Каминской. - Москва : Бином. Лаборатория знаний, 2012. - 582 с., [8] л. ил. : ил. ; 24 см. - Предм. указ.: с. 574-582. - Библиогр. в конце гл. - Пер. изд. : Scanning microscopy for nanotechnology. - 700 экз. - ISBN 978-5-9963-1110-1 (в пер.) : 1320 р.
Авт. указаны на 5-й с.

ГРНТИ	81.09	81.13
УДК	621.38-022.53^V3

ББК Ж364-1в733 + Ж607в733

Аннотация: Монография посвящена рассмотрению методов растровой электронной спектроскопии (РЭМ) применительно к нанотехнологиям и включает не только исследование характеристик различных наноматериалов, наноструктур и нанообъектов, но и технологию их изготовления in sity. Рассмотрены различные типы РЭМ, включая просвечивающие микроскопы с высоким разрешением, рентгеновский микроанализ, новейшие методы получения изображения посредством обратно рассеянных электронов, а также методы электронной микроскопии для исследования биообъектов.


Доп.точки доступа:
Андерхальт, Роберт; Анзалоне, Поль; Апкариан, П. Р.; Жу, Уэйли \ред.\; Каминская, Т. П. \ред.\; Уанг, Жон Лин \ред.\; Иванов, С. А. \пер.\; Домкин, К. И. \пер.\
Экземпляры всего: 1
ИХХТ-АБ (1)
Свободны: ИХХТ-АБ (1)