. / edited by Kurt F. J. Heinrich and Charles S. Barrett, John B. Newkirk, and Clayton O. Ruud . - New York : Springer, 1972. - XII, 574 p. : il. -
ISSN 0376-0308. -
ISBN 978-1-4613-9968-1. -
ISBN 978-1-4613-9966-7 (Online ISBN) : 13.20 р.
ББК В344.1-141я431 + В371.213я431
Смотреть книгу Держатели документа: Институт физики им. Л.В. Киренского СО РАН
Доп.точки доступа: Heinrich, Kurt F. J. \ed.\; Barrett, Charles S. \ed.\; Newkirk, John B. \ed.\; Ruud, Clayton O. \ed.\; Annual Conference on Applications of X-Ray Analysis (20th ; August 11-13, 1971 ; Denver, Colorado); Denver Research Institute
Экземпляры всего: 1
ИФ-КФ (1)
Свободны: ИФ-КФ (1)