ГРНТИ | ||
УДК |
Рубрики:
Электронная микроскопия
Кл.слова (ненормированные):
анализ электронной структуры%радиационные эффекты%рентгеновская спектроскопия -- электронная микроскопия
Электронная микроскопия
Кл.слова (ненормированные):
анализ электронной структуры%радиационные эффекты%рентгеновская спектроскопия -- электронная микроскопия
Аннотация: Изложены разнообразные методики аналитической электронной микроскопии, рассмотрена их связь с общими физическими принципами, даны рекомендации практического применения. Уделяется большое внимание перестройке обычного просвечивающего электронного микроскопа в аналитический. Приводится описание большого числа дополнительных устройств для проведения анализа, что свидетельствует о широком применении этого метода. Для научных и инженерно-технических работников в области электронной микроскопии.
Держатели документа:
Институт физики им. Л.В. Киренского СО РАН
ИВМ СО РАН : 660036, Красноярск, Академгородок, 50, стр.44
Доп.точки доступа:
Ньюбури, Д. Е.; Каули, Дж. М.; Вильямс, Д. Б.; Грен, Дж. Дж. \ред.\; Гольдштейн, Дж. И. \ред.\; Джоя, Д. К. \ред.\; Ромига, А. Д. \ред.\; Усиков, М. П. \ред. пер.\
Экземпляры всего: 3
ИФ-КФ (1), ИВМ-Фонд (1), ИХХТ-АБ (1)
Свободны: ИФ-КФ (1), ИВМ-Фонд (1), ИХХТ-АБ (1)