Сводный каталог книг

: пер. с англ. / Т. Альфорд, Л. Фельдман, Д. Майер ; пер.: А. Н. Образцов, М. А. Долганов ; науч. ред. А. Н. Образцов. - М. : Научный мир, 2012. - 390 с. - (Фундаментальные основы нанотехнологий: лучшие зарубежные учебники). - Библиогр. в конце гл. - Пер. изд. : Fundamentals of nanoscale film analysis / Terry L. Alford, Leonard C. Feldman, James W. Mayer. - 2007. - ISBN 978-5-91522-225-9 : 588.37 р., 588.37 р.

ГРНТИ	29.19.22
УДК	082.1	539.216.2

ББК В371.26 + В372.1-6я73

Аннотация: Книга посвящена рассмотрению проблем фундаментальной физики, лежащих в основе методов, используемых для изучения поверхностей и приповерхностных слоев материалов. Появление и развитие таких аналитических методик, основанных на явлениях взаимодействия частиц и излучения с веществом, обусловлено, прежде всего, ростом технологических потребностей. Ионная имплантация, электронные пучки и лазеры используются также и для модификации состава и структуры материалов. Осаждение потоков частиц, получаемых с помощью различных источников, позволяет получать пленочные материалы. Так, эпитаксиальные слои могут быть получены с использованием молекулярных пучков, а также с помощью физического и химического газофазного осаждения. Методики, основанные на изучении взаимодействия с частицами, позволяют, например, обеспечить контролируемые условия окислительных и каталитических реакций. Ключом к успешному использованию данных методик является широкая доступность аналитических технологий, чувствительных к составу и структуре твердых тел на нанометровом масштабе. Книга предназначена для специалистов в области материаловедения и инженеров, интересующихся использованием различных видов спектроскопии и/или спектрометрии. Для людей, занимающихся анализом материалов, которым необходима информация о технике, имеющейся за пределами и лабораторий; и особенно для студентов старших курсов и выпускников, собирающихся использовать это новое поколение аналитических методов в своей научной работе.

Содержание

Держатели документа:
Институт физики им. Л.В. Киренского СО РАН

Доп.точки доступа:
Фельдман, Леонард; Майер, Джеймс; Образцов, А. Н. \пер.\; Долганов, М. А. \пер.\; Образцов, А. Н. \науч. ред.\; Alford, Terry L. ; Feldman, Leonard C. ; Mayer, James W.
Экземпляры всего: 2
ИФ-КФ (1), ЦНБ-АБ (1)
Свободны: ИФ-КФ (1), ЦНБ-АБ (1)