Сводный каталог книг

/ В. Б. Лазарев, В. Г. Красов, И. С. Шаплыгин ; Акад. наук СССР, Ин-т общ. и неорган. химии им. Н.С. Курнакова. - М. : Наука, 1979. - 168 с. : ил. - Библиогр. в конце глав. - 1600 экз. - 1.80 р., 1.80 р.

ГРНТИ	29.19.23	31.15.19
УДК	541.451	539.216.2	621.38

ББК В379.23 + Г522.21 + Г52


Держатели документа:
Институт физики им. Л.В. Киренского СО РАН

Доп.точки доступа:
Красов, Владимир Григорьевич; Шаплыгин, Игорь Сергеевич; Академия наук СССР; Институт общей и неорганической химии им. Н.С. Курнакова АН СССР
Экземпляры всего: 2
ИФ-КФ (1), ИХХТ-АБ (1)
Свободны: ИФ-КФ (1), ИХХТ-АБ (1)

/ В. И. Трофимов, В. А. Осадченко. - М. : Энергоатомиздат, 1993. - 273 с. : ил. - 350 экз. - ISBN 5-283-03861-0 : 9300.00 р., 9.30 р.
Библиогр.:с.263-272 (358 назв.)

ГРНТИ	29.19.16	53.49.07
УДК	539.216.2

ББК В371.26 + В375.14 + К202.6 + К202.6


Держатели документа:
Институт физики им. Л.В. Киренского СО РАН

Доп.точки доступа:
Осадченко, Вера Андреевна
Экземпляры всего: 3
ИФ-КФ (2), ИХХТ-АБ (1)
Свободны: ИФ-КФ (2), ИХХТ-АБ (1)

: пер. с англ. / Т. Альфорд, Л. Фельдман, Д. Майер ; пер.: А. Н. Образцов, М. А. Долганов ; науч. ред. А. Н. Образцов. - М. : Научный мир, 2012. - 390 с. - (Фундаментальные основы нанотехнологий: лучшие зарубежные учебники). - Библиогр. в конце гл. - Пер. изд. : Fundamentals of nanoscale film analysis / Terry L. Alford, Leonard C. Feldman, James W. Mayer. - 2007. - ISBN 978-5-91522-225-9 : 588.37 р., 588.37 р.

ГРНТИ	29.19.22
УДК	082.1	539.216.2

ББК В371.26 + В372.1-6я73

Аннотация: Книга посвящена рассмотрению проблем фундаментальной физики, лежащих в основе методов, используемых для изучения поверхностей и приповерхностных слоев материалов. Появление и развитие таких аналитических методик, основанных на явлениях взаимодействия частиц и излучения с веществом, обусловлено, прежде всего, ростом технологических потребностей. Ионная имплантация, электронные пучки и лазеры используются также и для модификации состава и структуры материалов. Осаждение потоков частиц, получаемых с помощью различных источников, позволяет получать пленочные материалы. Так, эпитаксиальные слои могут быть получены с использованием молекулярных пучков, а также с помощью физического и химического газофазного осаждения. Методики, основанные на изучении взаимодействия с частицами, позволяют, например, обеспечить контролируемые условия окислительных и каталитических реакций. Ключом к успешному использованию данных методик является широкая доступность аналитических технологий, чувствительных к составу и структуре твердых тел на нанометровом масштабе. Книга предназначена для специалистов в области материаловедения и инженеров, интересующихся использованием различных видов спектроскопии и/или спектрометрии. Для людей, занимающихся анализом материалов, которым необходима информация о технике, имеющейся за пределами и лабораторий; и особенно для студентов старших курсов и выпускников, собирающихся использовать это новое поколение аналитических методов в своей научной работе.

Содержание

Держатели документа:
Институт физики им. Л.В. Киренского СО РАН

Доп.точки доступа:
Фельдман, Леонард; Майер, Джеймс; Образцов, А. Н. \пер.\; Долганов, М. А. \пер.\; Образцов, А. Н. \науч. ред.\; Alford, Terry L. ; Feldman, Leonard C. ; Mayer, James W.
Экземпляры всего: 2
ИФ-КФ (1), ЦНБ-АБ (1)
Свободны: ИФ-КФ (1), ЦНБ-АБ (1)

: Физика и применение: перевод с английского / ред. Л. Казмерски ; ред. пер. А. А. Веденцов. - Москва : Мир , 1983. - 304 с. : ил. ; 21 см. - Библиогр. в конце ст. - Пер. изд. : Polycrystalline and amorphous thin films and devices. - New York, 1980. - 3.10 р.
Авторы указаны на обороте титульного листа

ГРНТИ	30.19
УДК	539.216.2	621.382.049.772.1

ББК В379

Аннотация: Коллективная монография, написанная ведущими специалистами США в области получения и применения аморфных и поликристаллических тонких пленок. Рассматриваются механизмы роста,структура, электрические и оптические свойства тонких полупроводниковых пленок. Значительное внимание уделяется созданию приборов с заданными характеристиками на основе тонких аморфных и поликристаллических пленок. Для инженеров, специализирующихся в области изготовления и применения полупроводниковых тонких пленок.

Держатели документа:
Центральная научная библиотека КНЦ СО РАН : 660036, г. Красноярск, Академгородок, 50

Доп.точки доступа:
Казмерски, Л. \ред.\; Веденцов, А.А. \ред. пер.\
Экземпляры всего: 1
ЦНБ-ХР (1)
Свободны: ЦНБ-ХР (1)

[Текст] : современное состояние исследований и технические применения / Под общ. ред.: Г. Хаасса, Р. Э. Туна ; ред.пер.: В. Б. Сандомирский, А. Г. Ждан. - 1967 - . - Москва : Мир, 1972. - 340 с. + 24 см. - перевод с английского. - Библиогр.: с.333-341. - 1.72 р.
Перевод заглавия: Physics of the thin films
   Перевод заглавия: Physics of the thin films

ГРНТИ	31.15.35
УДК	539.216.2

ББК В372.6,0

Аннотация: Книга знакомит читателя с работами в области изучения и применения тонких пленок. В том включены пять обзорных статей, составленных видными американскими и немецкими учеными. Описаны исследования методов повышения эффективности фотокатодов посредством увеличения времени пребывания фотонов в катоде, рассмотрены вопросы конструирования многослойных интерференционных пленок, из которых особый интерес представляют методы нанесения слоев окислов из органических растворов и химическим осаждением из паровой фазы.

Держатели документа:
Центральная научная библиотека КНЦ СО РАН : 660036, г. Красноярск, Академгородок, 50

Доп.точки доступа:
Хасс, Г. \ред.\; Тун, Р.Э. \ред.\; Сандомирский, В.Б. \ред.пер.\; Ждан, А.Г. \ред.пер.\
Экземпляры всего: 1
ЦНБ-ХР (1)
Свободны: ЦНБ-ХР (1)

[Текст] : современное состояние исследований и технические применения / Под общ. ред.: Г. Хаасса, Р. Э. Туна ; ред.пер.: В. Б. Сандомирский, А. Г. Ждан. - 1967 - . - Москва : Мир, 1970. - 340 с. + 24 см. - перевод с английского. - Библиогр.: с. 435-436. - Указ.авторов: с. 437. - 2.12 р.
Перевод заглавия: Physics of the thin films
   Перевод заглавия: Physics of the thin films

ГРНТИ	31.15.35
УДК	539.216.2

ББК В372.6,0

Аннотация: Книга знакомит читателя с работами в области изучения и применения тонких пленок. В том включены шесть обзорных статей, составленных ведущими иностранными учеными. Три статьи посвящены фундаментальным вопросам образования кристаллических пленок. В них дан анализ важнейших методических , экспериментальных и теоретических работ по этим проблемам. В обзоре, посвященном стекловидным пленкам, изложено современное состояние исследований физических и физико - химических свойств и методов получения таких пленок, которые приобрели важное значение в "твердотельной" электронике. В двух других статьях рассматриваются прохождение горячих электронов в слоистых системах через металлические пленки и методические опросы прецизионных измерений оптических свойств тонких пленок.

Держатели документа:
Центральная научная библиотека КНЦ СО РАН : 660036, г. Красноярск, Академгородок, 50

Доп.точки доступа:
Хасс, Г. \ред.\; Тун, Р.Э. \ред.\; Сандомирский, В.Б. \ред.пер.\; Ждан, А.Г. \ред.пер.\
Экземпляры всего: 1
ЦНБ-ХР (1)
Свободны: ЦНБ-ХР (1)