Главная/ Электронный каталог

Сводный каталог книг

w10=
Найдено документов в текущей БД: 2
   В37
   К 57
В37 / К 57-ИВМ-Фонд
    Электронный шум и флуктуации в твердых телах
Коган, Шулим Меерович.
: пер. с англ. / Ш. М. Коган ; пер. К. Э. Нагаев. - М. : Физматлит, 2009. - 366 с. : ил., табл. - Библиогр. - Предм. указ. - Пер. изд. : Electronic noise and fluctuations in solids / Sh. Kogan ; Institute of radioengineering and elecrtonics RAS. - 2009. - 400 экз. - ISBN 978-5-9221-1106-5 : 211.00 р., 211.00 р.
ГРНТИ
29.19.04
47.29
УДК
539.292
ББК В371.2


Держатели документа:
Институт физики им. Л.В. Киренского СО РАН
ИВМ СО РАН : 660036, Красноярск, Академгородок, 50, стр.44

Доп.точки доступа:
Нагаев, К. Э. \пер.\; Kogan, Sh.
Экземпляры всего: 2
ИФ-КФ (1), ИВМ-Фонд (1)
Свободны: ИФ-КФ (1), ИВМ-Фонд (1)
Найти похожие
   З84
   Ж 68
З844.14-017.1 / Ж 68-ЦНБ-АБ
    Флуктуации и шумы в электронных твердотельных приборах
Жигальский, Геннадий Павлович.
/ Г. П. Жигальский. - М. : Физматлит, 2012. - 512 с. - Библиогр. в конце глав. - ISBN 978-5-9221-1382-3. - ISBN 978-5-9221-1382-3 : 726.00 р., 875.00 р.
ГРНТИ
47.05.07
УДК
539.292
ББК З849-017 + З844.14-017.1я73
Рубрики:
Шумы--Приборы электронные
   Флуктуации--Шумы--Физика
Кл.слова (ненормированные):
Флуктуации -- Случайные процессы -- Моментыслучайных процессов -- Метод Ланжевена -- Тепловой шум -- Формула Найквиста -- Шум горячих электрогов -- Диффузный шум -- Дробовой шум -- Генерационно-рекомбинационный шум (ГР) -- Фликкер-шум -- Взрывной шум -- Избыточный шум -- Фотонный шум -- Смагнитный шум -- Флуктуации -- Биологическая безопасноть сотовой связи -- Преобразованиешума -- Шумовое сопротивление -- Коэффициент шума -- Шумовая температура -- Измерение шума -- Двухполюсники -- Контроль качества компонентов ИС -- Радиационная стойкость ИС -- Интегральная диагностика ИС -- Интегральная диагностика электронных устройств -- Неравновесный фликкер-шум (НФШ) -- Волтамперные характеристики (ВАХ) -- Гетероперходный полевой транзистор (НЕМТ) -- 1/f шум

Аннотация: Флуктуации и шумы определяют чувствительность приемных и измерительных электронных устройств. В наноэлектронике шумами ограничивается минимальный размер элемента, а также плотность записи информации в магнитных записывающих устройствах. По 1/f-шуму удается оценивать качество и прогнозировать надежность интегральных схем и устройств на их основе, не прибегая к долговременным и дорогостоящим испытаниям, причем с такой высокой достоверностью, какую не дают другие известные методы. Все эти вопросы, а также способы описания и физические модели различных шумов (1/f-шума, фликкер-шума и др.), а также методы измерения и снижения шума описаны в данном учебном пособии, написанном на основе курса лекций, прочитанных автором в Московском институте электронной техники. Для студентов старших курсов, магистрантов, аспирантов, а также научных сотрудников и инженеров.

http://dlib.rsl.ru/rsl01005000000/rsl01005469000/rsl01005469199/rsl01005469199.pdf

Держатели документа:
Институт физики им. Л.В. Киренского СО РАН
Экземпляры всего: 2
ИФ-КФ (1), ЦНБ-АБ (1)
Свободны: ИФ-КФ (1), ЦНБ-АБ (1)
Найти похожие