Сводный каталог книг

/ [Ньюбури Д. Е., Каули Дж. М., Вильямс Д. Б. и др.] ; под ред. Дж. Дж. Грен [и др.] ; пер. с англ. под ред. М. П. Усикова. - М. : Металлургия, 1990. - 584 с. : граф., табл., фото. - Авт. указ. в огл. - Библиогр. в конце глав. - Библиогр.: с. 576-578 (31 назв.). - 1800 экз. - ISBN 5-229-00375-5 : 7.40 р., 7.40 р., 7 р. 40 к. р.

ГРНТИ	29.35.43
УДК	УДК 620.187	543.422.8.063

ББК В338.4 + В338.48

Аннотация: Изложены разнообразные методики аналитической электронной микроскопии, рассмотрена их связь с общими физическими принципами, даны рекомендации практического применения. Уделяется большое внимание перестройке обычного просвечивающего электронного микроскопа в аналитический. Приводится описание большого числа дополнительных устройств для проведения анализа, что свидетельствует о широком применении этого метода. Для научных и инженерно-технических работников в области электронной микроскопии.

Держатели документа:
Институт физики им. Л.В. Киренского СО РАН
ИВМ СО РАН : 660036, Красноярск, Академгородок, 50, стр.44

Доп.точки доступа:
Ньюбури, Д. Е.; Каули, Дж. М.; Вильямс, Д. Б.; Грен, Дж. Дж. \ред.\; Гольдштейн, Дж. И. \ред.\; Джоя, Д. К. \ред.\; Ромига, А. Д. \ред.\; Усиков, М. П. \ред. пер.\
Экземпляры всего: 3
ИФ-КФ (1), ИВМ-Фонд (1), ИХХТ-АБ (1)
Свободны: ИФ-КФ (1), ИВМ-Фонд (1), ИХХТ-АБ (1)