[Текст] : монография / Н. А. Азаренков [и др.]. - Москва : URSS, 2012. - 366 с. : ил. - Библиогр. в конце разд. - В надзаг.: М-во образования и науки, молодежи и спорта Украины, Харьк. нац. ун-т им. В. Н. Каразина, Сум. гос. ун-т. -
ISBN 978-5-397-02385-6 : 410.40 р.
ББК Ж364 + Ж6
Аннотация: В настоящем пособии приведена классификация наноразмерных структур, проанализированы их свойства. Обобщены сведения о проявлении размерных эффектов в физических, механических, термических и других свойствах наноструктурных материалов. Рассмотрены основные методы получения изолированных наночастиц, ультрадисперсных порошков, компактных нанокристаллических, нанопористых и аморфных материалов, фуллеренов, нанотрубок, а также наноструктурных покрытий. Кратко описаны методы исследований наноструктурных материалов. Изложены современные представления о формировании наноструктурных, нанокомпозитных покрытий, полученных ионно-плазменными методами осаждения. Описаны также растровый и просвечивающий позитронный микроскопы для исследования профилей вакансионных дефектов на глубине и сканирования вблизи поверхности. Изложены принципы ближнеполевой СВЧ-диагностики наноматериалов и сверхпроводников. Показаны возможности применения наноструктурных материалов и покрытий в технике. Книга предназначена для студентов, аспирантов и научных работников.
Держатели документа: ИВМ СО РАН : 660036, Красноярск, Академгородок, 50, стр.44
Доп.точки доступа: Азаренков, Николай Алексеевич; Береснев, Вячеслав Мартынович; Погребняк, Александр Дмитриевич; Колесников, Дмитрий Александрович
Экземпляры всего: 1
ИВМ-Фонд (1)
Свободны: ИВМ-Фонд (1)