| УДК |
Аннотация: Рассмотрены модели параметрической надежности и на их основе техническое состояние оборудования, прогнозирование работоспособности и эффективности. Изложены основные положения по проектированию экспертных систем диагностики ЯЭУ, инженерные методики оценки параметрической надежности элементов ЯЭУ. Для научных работников и инженеров-специалистов по обеспечению безопасности и надежности ЯЭУ.
Держатели документа:
ИВМ СО РАН : 660036, Красноярск, Академгородок, 50, стр.44
Доп.точки доступа:
Сальников, Н.Л.
Экземпляры всего: 1
ИВМ-Фонд (1)
Свободны: ИВМ-Фонд (1)