Проблемы линейных измерений микрообъектов в нанометровом и субмикронном диапазонах
: Сб. ст. / Отв. ред. А.В.Раков. - М. : Наука, 1995. - 165 c. : ил. - (Труды / Ин-т общей физики ; т.49). - Тираж не указ. - ISBN 5-02-000828-1 : 5.80 р. В надзаг.: Рос. АН. Библиогр. в конце ст